[发明专利]X射线CT装置有效
| 申请号: | 200810215970.8 | 申请日: | 2008-09-12 |
| 公开(公告)号: | CN101385649A | 公开(公告)日: | 2009-03-18 |
| 发明(设计)人: | 塚越伸介;堀内哲也;风间正博 | 申请(专利权)人: | 株式会社东芝;东芝医疗系统株式会社 |
| 主分类号: | A61B6/03 | 分类号: | A61B6/03;G03B42/02;H05G1/26 |
| 代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 | 代理人: | 陈 萍 |
| 地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 射线 ct 装置 | ||
相关文件的交叉引用
本申请主张2007年9月14日提交的日本在先专利申请第2007-239585号的优先权,本申请作为参考而引入上述在先申请的全部内容。
技术领域
本发明涉及一种对被检测体照射X射线、并检测透射了该被检测体的X射线而再构成图像的X射线CT装置、摄影计划支援装置以及摄影计划支援程序,特别是关于用于抑制被检测体受辐射的技术。
背景技术
以往,在X射线CT(Computed Tomography)装置中,根据事先设定的摄影条件对被检测体照射X射线,并检测透射了被检测体的X射线而再构成图像,由此进行摄影。通常,在X射线CT装置的摄影中,一次摄影由针对每个部位的多个要素(element)构成,并对于各要素设定摄影条件。在此,“要素”是在单一的摄影条件下所进行的扫描动作的单位。
在设定摄影条件时,一般使用用于对操作者的摄影计划的立案作业进行支援的摄影计划支援装置。根据所设定的摄影条件,在该摄影计划支援装置上显示在该摄影中照射X射线时受辐射射线量的大小(例如参照日本特开2005-185549)。作为表示受辐射射线量的大小的指标值,例如可使用CTDI(Computed Tomography Dose Index)或DLP(Dose Length Product)等。
而且,通过将由摄影计划支援装置显示的受辐射射线量的指标值、与ICRP(Intemational Commission on Radiological Protection,国际放射线防护委员会)或IEC(International Electrotechnical Commission)等推荐的最佳照射射线量进行比较,由此X射线CT装置的操作者(医师或技师等)可判断摄影时受辐射射线量是否较多。
但是,在实际的摄影现场,有时操作者不进行受辐射射线量的确认,在这种情况下,存在对被检测体照射过度的X射线的问题。在基于X射线CT装置的检查中,至今为此抑制向患者的辐射被作为大的课题。但是,如上所述,多数情况下摄影时受辐射射线量依赖于操作者的判断。因此,在现状中如何能提高操作者对于辐射的意识是非常重要的课题。
并且,可以预想今后随着面检测器的出现而对同一部位进行多次摄影的情况增多,因此对于摄影时的受辐射的意识比现在更重要。特别是在对儿童等对于放射线敏感性高的患者进行摄影时,需要充分注意。
发明内容
本发明的目的在于提供一种能够提高操作者对于摄影时辐射的意识的X射线CT装置、摄影计划支援装置以及摄影计划支援程序。
为了实现上述目的,本发明技术方案1为一种X射线CT装置,根据所设定的摄影条件对被检测体照射X射线,并检测透射了该被检测体的X射线而再构成图像,其特征在于,具有:摄影计划信息存储部,与相互不同的、为了X射线CT摄影而设定的多个要素分别相关联地存储摄影条件;摄影计划设定部,其构成为,能够从上述多个要素中选择多个希望的要素,并变更与上述所选择的要素相关联的上述摄影条件;基准射线量存储单元,存储基准射线量信息,该基准射线量信息将与被检测体相关的属性信息和成为受辐射射线量基准的基准射线量赋予对应;以及受辐射射线量算出单元,在进行了上述要素的选择或上述摄影条件的变更时,算出进行该所选择的多个要素的X射线CT摄影时的受辐射射线量。
并且,本发明技术方案2为一种X射线CT装置,其特征在于,具有:射线量判断单元,判断上述所算出的受辐射射线量是否超过与摄影对象的被检测体的属性信息相对应的基准射线量;和射线量警告单元,在由上述射线量判断单元判断为上述受辐射射线量超过上述基准射线量的情况下,输出警告消息。
本发明技术方案3的X射线CT装置的特征在于,上述射线量警告单元,在输出上述警告消息的情况下,受理是重新设定摄影条件、或者是在所设定的摄影条件下继续摄影的选择。
本发明技术方案4的X射线CT装置的特征在于,上述射线量警告单元,在输出上述警告消息时,还输出表示与上述基准射线量大小相对的上述受辐射射线量大小的图表。
本发明技术方案5的X射线CT装置的特征在于,上述射线量警告单元,在输出上述警告消息时,还输出与对摄影对象的被检测体照射的受辐射射线量有关的履历信息。
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