[发明专利]一种自动光学检测设备及其检测方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种自动光学检测设备及其检测方法，尤其涉及一种该设备内利用一具有反射能力的光学结构件，检测一具有多个表面的待测物的设备与方法。

背景技术

传统检测具有多个表面的待测物，且该待测物为一电子组件时，根据在中国台湾专利编号第581862号的“影像管幕面的侧面瑕疵自动光学检测法”，利用自动光学检测法，该自动光学检测法于检测区下方使用一光源辅助取像，同时使用两只对应的影像感测装置对待测物进行截取侧面影像的作业，再将上述截取的侧面影像传输至计算机系统中进行显像分析，以完成待测物的侧面影像是否有瑕疵。

然而，在上述的检测方式中，需要两只影像感测装置，提高了装置的成本。

另一方面，以撷取依六面体的影像为例，检测一次仅能撷取该六面体中两个面的影像，需要三次才能将六个面的影像撷取完毕，不但需要较多的检测次数，变换待测物检测的面也需要耗费时间，如此降低工作效率。

再者，当待测物的形体改变，例如由六面体变成八面体或其它形体，该装置又须重新调整该对影像感测装置的相对位置，才能撷取到影像，且检测次数与时间又再增加，不但操作繁琐，对适应该电子组件的形体改变的能力也不高。

发明内容

本发明的目的在提供一种自动光学检测设备及其检测方法，以用于检测一具有多个表面的待测物。

本发明的自动光学检测设备及其检测方法，具有一光源装置，一影像感测装置，以及一光学结构件，其中，该光学结构件包含一基座与多个反射结构。

多个反射结构，设置于该基座上，具有多个表面的待测物置于反射结构间，反射结构将反射自多个表面的光线，再反射至影像感测装置，以撷取影像。

由于利用反射结构装置可反射该具有多个表面的待测物侧边的影像，因此成本降低。

又，反射结构装置一次可取得具有多个表面的待测物形体多数面的影像，因此只需两次拍摄即可得到具有多个表面的待测物完整的各面影像。

本发明于该自动光学检测设备内，放入一具有反射能力的光学结构件，并将该待测物置于该光学结构件间，该些反射结构用以将反射自该多个表面的光线，再反射至该影像感测装置。以改善上述传统量测方式中成本高、效率低及适应性不佳的问题。

本发明的另一优点在于，当变换该具有多个表面的待测物的形体时，仅需改变该光学结构件的反射结构装置的对应位置，不需要改变设备本身的对应关，使量测的待测物的形体可以依发明者改变。

以下结合附图和具体实施例对本发明进行详细描述，但不作为对本发明的限定。

附图说明

图1为一具有多个表面的待测物；

图2为本发明的一种自动光学检测设备的剖面示意图；

图3为光学结构件的示意图；

图4本发明的自动光学检测设备的立体仰视图；

图5为本发明投射具有多个表面的待测物1的A1面的剖面示意图；

图6为本发明投射具有多个表面的待测物1的A2，A3，A4，A5四面的剖面示意图；

图7为本发明的影像感测装置24所解取的影像示意图；

图8为本发明的自动光学检测设备的检测方法流程图；以及

图9为本发明的光学结构件所组成的光学结构组。

其中，附图标记

1                       具有多个表面的待测物

A1、A2、A3、A4、A5、A6  待测面

2                       自动光学检测设备

22                  移料装置

221                 机械臂体

222                 吸盘

23                  光源装置

231                 第一光源环

232                 第二光源环

24                  影像感测装置

25                  光学结构件

251                 基座

252                 通透孔

253                 多个反射结构

31、32、33、34、35  影像

具体实施方式

下面结合附图对本发明的结构原理和工作原理作具体的描述：

请参阅图1，图1为一具有多个表面的待测物1，其六个表面分别为A1，A2，...，A6，且具有多个表面的待测物1可为一电子组件。