[发明专利]漏电断路器有效

专利信息
申请号: 200810094551.3 申请日: 2008-05-12
公开(公告)号: CN101404405A 公开(公告)日: 2009-04-08
发明(设计)人: 塚本龙幸;神谷慎太郎;金山健志 申请(专利权)人: 三菱电机株式会社
主分类号: H02H3/347 分类号: H02H3/347;H02H3/05
代理公司: 北京天昊联合知识产权代理有限公司 代理人: 何立波;张天舒
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 漏电 断路器
【说明书】:

技术领域

本发明涉及在交流电路中发生漏电或接地时将该电路断开的漏 电断路器,特别是涉及一种具备测试电路的漏电断路器,该测试电路 用于使电路中流过模拟漏电电流进行漏电测试。

背景技术

目前针对这种漏电断路器提出了各种各样的方案,例如采用以 下结构的方案:在三相交流电路中插入零相变流器,在上述三相交流 电路的任意2相的1次导体之间,连接由测试开关、测试电阻和零相 变流器的测试线圈的串联电路构成的测试电路,通过操作上述测试开 关使上述测试电路中流过模拟漏电电流,利用漏电检测部对其进行检 测,判断漏电电流的大小,从而断开交流电路。(例如,参照专利文 献1)

专利文献1:特开2002-78187号公报

发明内容

在上述现有的漏电断路器中,使模拟漏电电流流过的测试开关 连接在主电路的交流电路中,主电路的电压施加到测试开关的接点之 间,因此,开关的额定电压必须与主电路电压相适应,存在开关的外 形变大的问题。另外,当漏电断路器的电路的电源结构是以接近主电 路电压的电压进行整流的电路结构的情况下,零相变流器的测试用线 圈和二次线圈之间产生与主电路电压大致相等的电位差,因此,零相 变流器的测试用线圈和二次线圈之间的绝缘必须耐高压。

本发明是为了解决上述课题而提出的,其目的是获得一种漏电 断路器,其可以使漏电断路器的测试电路中,测试开关的接点间的电 压较低,测试开关能够使用额定电压低、小型且价格低廉的开关,并 且能够使零相变流器的测试用线圈和二次线圈之间的绝缘强度对耐 压要求低并简化结构。

本发明所涉及的漏电断路器具有:零相变流器,其插入交流电 路中;漏电检测电路,其与卷绕在该零相变流器上的二次线圈连接, 当流过上述交流电路的漏电电流超过规定大小时产生输出;跳闸电 路,其根据上述漏电检测电路的输出而使插入上述交流电路中的断路 部断开;整流电路,其将上述交流电路的电压整流后供给到上述漏电 检测电路;以及测试电路,其用于使模拟漏电电流流过卷绕在上述零 相变流器上的测试线圈,其特征在于,上述测试电路上述整流电路的 输出侧,由将上述测试线圈、测试开关、限流电阻以及光绝缘单元串 联连接的串联连接体构成。

发明的效果

本发明如上述说明,将测试电路连接在整流电路的输出侧,因 而使测试开关能够使用额定电压低、价格低廉的开关,并且,能够使 零相变流器的测试用线圈和二次线圈之间的绝缘简化。

附图说明

图1是表示本发明的第1实施方式中的漏电断路器的结构的框 图。

图2是图1的时序图。

图3是表示本发明的第2实施方式中的漏电断路器的结构的框 图。

图4是表示本发明的第3实施方式中的漏电断路器的结构的框 图。

图5是图4的时序图。

图6是表示本发明的第4实施方式中的漏电断路器的结构的框 图。

图7是图6的时序图。

具体实施方式

第1实施方式.

图1是表示本发明的第1实施方式中的漏电断路器的结构的框 图。图2是表示图1的动作的时序图。

图1中,漏电断路器10具有电源侧端子R、S、T和与上述电源 侧端子R、S、T相对应的负载侧端子U、V、W,在漏电断路器10 内具有:断路部9,其由对连结上述电源侧端子和负载侧端子的1次 导体(R-U)、(S-V)、(T-W)进行通断的接点构成;以及 未图示的过电流检测部,其分别检测各个1次导体(R-U)、(S -V)、(T-W)的过电流,经由未图示的跳闸部使上述断路部9 的接点断开。此外,上述断路部9的接点的接合是通过手动操作未图 示的手柄而执行的。

另外,该漏电断路器10具有零相变流器2,其用于检测与其自 身的环状铁芯2c贯穿交链的1次导体(R-U)、(S-V)、(T- W)中流过的(本例中是三相的)电流中所包含的零相电流(因负载 侧的漏电或接地而产生),此外,铁芯2c上卷绕有用于引出零相电 流的二次线圈2a、漏电断路功能测试用的测试线圈2b。

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