[发明专利]用于时钟信号扩展测试的测试转接装置及测试系统

说明书

技术领域

本发明涉及通讯设备单板的生产测试领域，具体地说，是一种可以用来对时钟信号进行扩展测试的测试转接装置及测试系统。

背景技术

随着通讯技术的发展，通讯设备越来越复杂，集成度也越来越高。对测试技术的要求也相应地有所提高，如本文所讨论的时钟信号测试。通常一个被测对象(一种或多种被测单板)的待测时钟信号数量在几十个左右，但目前越来越多的被测对象时钟信号的数量都已超过这个数值。用传统的方法对这些时钟信号进行测试就会出现资源不足的问题。

自动化生产测试设备中对时钟信号进行测试的方法通常是：利用各种测试平台所提供的时钟卡，直接连接被测对象的时钟信号线，对其进行时钟频率检测。时钟卡和IO(输入输出)卡都是测试平台提供的资源模块之一，时钟卡提供时钟频率测试的功能，面板上有多路用户所需的接口，只要将被测时钟信号的信号线与相应的接口连接(信号形式匹配)，就可以通过专用软件从测试平台读取到被测时钟信号的频率值；IO卡提供多路双向的IO接口，只要将用户IO信号的信号线与相应的接口连接(信号形式匹配)，每一路IO都可以通过专用软件从测试平台上任意设置输入或输出。

如附图1所示，将被测对象的待测时钟信号，引入测试平台的时钟卡接口，由时钟卡进行时钟频率检测判断信号是否正常。其中被测对象与时钟卡之间有一个可选的信号转换单元，它的功能是完成被测对象的时钟信号电平与时钟卡输入接口之间信号电平的匹配，在实际应用中可根据电平的匹配情况进行选用。

但是测试平台提供的时钟卡输入接口数量是有限的，当待测的时钟信号数量大于时钟卡所能提供的接口数量时，只有增加资源卡的数量，利用多块时钟卡进行测试，如附图2所示。测试过程类似于附图1的系统，其区别是要对多块时钟卡进行操作，但在测试平台上资源比较紧张的时候，这种方法就不可取了。虽然测试系统越来越复杂，但测试设备的体积并不能随之增加，而且测试平台上要求安装很多其它测试所必须的资源卡，受测试资源的限制，无法安装过多的时钟卡。因此，在被测时钟信号线数量较多时，测试资源受到限制，测试不便。

发明内容

本发明要解决的技术问题是提供一种只需少量资源就可以完成大量时钟信号测试的测试转接装置及测试系统，来解决大量时钟信号的测试问题。

为了解决上述技术问题，本发明提供了一种用于时钟信号扩展测试的测试转接装置，该测试转接装置包括输入信号扩展单元和控制单元，其中：

所述控制单元，与所述输入信号扩展单元相连，用于产生使能信号，输出至所述输入信号扩展单元；

所述输入信号扩展单元，用于接收多组待测时钟信号，每组待测时钟信号包含若干路待测时钟信号，所述输入信号扩展单元接收到控制单元的使能信号时输出一组待测时钟信号。

进一步地，上述测试转接装置还可具有以下特点，所述装置还包含指示单元，与所述控制单元相连，用于根据控制单元的指示，显示当前进行测试的一组待测时钟信号。

进一步地，上述测试转接装置还可具有以下特点，所述控制单元与测试平台相连，接收测试平台的控制信号，根据该控制信号产生使能信号至所述输入信号扩展单元，所述输入信号扩展单元与测试平台的时钟卡相连，接收到所述使能信号时输出一组待测时钟信号至所述时钟卡，由所述测试平台进行时钟信号测试。

进一步地，上述测试转接装置还可具有以下特点，所述装置还包含信号转换单元，用于将待测时钟信号与所述输入信号扩展单元的电平进行匹配，和/或，用于将所述输入信号扩展单元输出的信号的电平与所述时钟卡匹配。

进一步地，上述测试转接装置还可具有以下特点，所述输入信号扩展单元包含若干片时钟驱动器，每片时钟驱动器输入端接收一组所述待测时钟信号，输出端与所述时钟卡相连，使能端与所述控制单元相连，当使能端的使能信号有效时，输出其输入端接收的一组待测时钟信号，其中，同一时刻只有一个时钟驱动器使能端的使能信号有效。

进一步地，上述测试转接装置还可具有以下特点，所述若干片时钟驱动器的输出端的每一路分别并联在一起，形成总线形式接入到所述时钟卡的输入端。

进一步地，上述测试转接装置还可具有以下特点，同一片时钟驱动器接收的待测时钟信号其频率和/或电平相同或彼此之间最接近。

进一步地，上述测试转接装置还可具有以下特点，每组待测时钟信号包含的待测时钟信号的数量小于等于所述测试平台时钟卡可接入信号数量。

本发明还提供一种用于时钟信号测试的测试系统，包含测试平台，所述测试平台包含时钟卡，还包含测试转接装置，所述测试转接装置包含控制单元和输入信号扩展单元，其中：