[发明专利]检测坏像素的方法和装置以及捕获图像的方法和装置

说明书

技术领域

本发明一般概念涉及一种检测图像传感器的坏像素(dead pixel)的方法和装置以及一种从图像传感器中捕获图像的方法和装置。本发明一般概念也涉及一种在生产线上以及在生产和发货之后快速而精确地检测图像传感器中的坏像素的方法和装置，以及一种从图像传感器中捕获图像的方法和装置。

背景技术

通常，诸如数码相机的图像捕获设备包括利用半导体的感光特性来捕获图像的图像传感器。

图像传感器的每个像素将通过光学系统入射的光转换为根据入射光线强度而改变的电信号(例如电压信号)。因此，可以以像素为单位形成图像。

由于各种原因，在生产图像传感器的过程中经常产生缺陷(defective)像素。这些像素不能够正常地感光，并且具有这种异常像素的图像传感器可能输出失真图像。不能正常感光的像素常常比其应该展现出的显得更亮或更暗。传统上，将具有与相邻像素的亮度显著不同的亮度的那些像素称为“坏像素”。

图像传感器中坏像素的数量决定了图像传感器的质量或等级。也就是说，坏像素的数量越少，图像传感器的质量越好。由坏像素所引起的错误在屏幕上以小点或线的形式来表示。如果将全部带有这种局部错误的图像传感器芯片确定为不可接受的芯片，则可能降低图像传感器的产量。

为了防止产量的下降，可以对所检测出的图像传感器的坏像素进行修正，而不是丢掉带有这种坏像素的图像传感器。

然而，检测坏像素的传统过程是在一个屏幕内或者利用一张测试模板来执行。但是，用这种传统过程经常将许多正常的像素识别为坏像素。

为了增强质量控制，可以使用许多测试模板来检测所有的坏像素。然而，考虑时间和成本不希望采用这种过程。

另外，利用一张或几张测试模板来检测坏像素需要特殊的设备或生产过程，并且迄今为止，没有能够用于检测在最初的检测过程之后而可能出现缺陷的坏像素的办法。

发明内容

本发明一般概念提供了一种在生产线上以及在生产和发货之后快速而精确地检测图像传感器中的坏像素的方法和装置、以及一种从图像传感器捕获图像的方法和装置。

本发明一般概念的其它方面和效果将在下面的描述中得到部分阐述，其部分从所述描述中将是显而易见的，或者可以通过对本发明一般概念的实践而学习到。

可以通过提供一种用于检测具有像素阵列以产生多个图像帧的图像传感器中的坏像素的方法来获得本发明概念的前述和/或其它方面和效果。所述方法包括：感测第一和第二图像帧集合之间的场景变化，每个图像帧集合包括所述多个图像帧中的至少一个；以及如果感测到所述场景的变化，则检测像素阵列中是否存在坏像素。

也可以通过提供一种用于检测在具有像素阵列以产生多个图像帧的图像传感器中的坏像素的装置来获得本发明概念的前述和/或其他方面和效果。所述装置包括：场景变化感测单元，感测第一和第二图像帧集合之间的场景变化，每个图像帧集合包括所述多个图像帧的至少一个；以及坏像素检测单元，用于如果所述场景变化感测单元感测到所述场景变化，则检测像素阵列中的坏像素。

也可以通过提供一种从具有像素阵列以产生多个图像帧的图像传感器中捕获图像的方法来获得本发明概念的前述和/或其它方面和效果。所述方法包括：感测第一和第二图像帧集合之间的场景变化，每个图像帧集合包括所述多个图像帧的至少一个；如果感测到所述场景变化，则检测像素阵列中是否存在坏像素；存储所检测到的像素阵列中的坏像素的位置信息；以及基于所检测的坏像素的位置信息来修正图像数据。

也可以通过提供一种从具有像素阵列以产生多个图像帧的图像传感器中捕获图像的装置来获得本发明概念的前述和/或其它方面和效果。所述装置包括：场景变化感测单元，感测第一和第二图像帧集合之间的场景变化，每个图像帧集合包括所述多个图像帧的至少一个；坏像素检测单元，用于如果所述场景变化感测单元感测到场景变化，则检测像素阵列中的坏像素；存储单元，存储所检测到的像素阵列中的坏像素的位置信息；以及修正单元，基于所检测的坏像素的位置信息来修正图像数据。