[发明专利]土壤表面粗糙度测定方法及装置

权利要求书

1.土壤表面粗糙度测定装置，其特征是在一个框架上固定有一个固定支点，框架上还分别设置至少两个与固定测臂平行且可沿框架的上下边框运动的测针和可测量测针高度变化的高度指示。

2.根据权利要求1所述的土壤表面粗糙度测定装置，其特征是框架上设置有测量面与测针相垂直的水平仪。

3.根据权利要求2所述的土壤表面粗糙度测定装置，其特征是框架上设置有水位计。

4.根据权利要求1或2或3所述的土壤表面粗糙度测定装置，其特征是在框架上设置两根支撑杆，在测量时两根支撑杆与固定测臂形成对框架的稳定支撑。

5.根据权利要求4所述的土壤表面粗糙度测定装置，其特征是水位计由柔性且透明的材料制成的水管，水管的一端与测针相平行的固定于框架上，水管的另一端固定于与框架分离的支撑件上。

6.根据权利要求5所述的土壤表面粗糙度测定装置，其特征是框架由空腹型材构成，框架的两个相对的边上定距开设有测针孔，由刚性材料制成测针的一端为尖端，另一端带有一个可以限制其从框架的测针孔中滑出的结构。