[发明专利]成像装置、对其组件的安装进行检测的方法及装置有效
申请号: | 200810068100.2 | 申请日: | 2008-06-30 |
公开(公告)号: | CN101620389A | 公开(公告)日: | 2010-01-06 |
发明(设计)人: | 高云峰;孙海翔 | 申请(专利权)人: | 深圳市大族激光科技股份有限公司 |
主分类号: | G03G15/00 | 分类号: | G03G15/00;B41J2/47;G01B11/02 |
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地址: | 518057广东省深圳市*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 成像 装置 组件 安装 进行 检测 方法 | ||
技术领域
本发明涉及激光成像技术领域,尤其涉及成像装置、对成像装置中组件的安装进行检测的方法及装置。
背景技术
近年来,激光成像技术受到了广泛的应用。在激光成像装置中包括具有感光材料的成像面、承载成像面的运动机构以及曝光模块等,其中,曝光模块通过与待成像图像的图像信息对应的调制光束对成像面进行曝光,通过运动机构带动成像面沿扫描方向的移动,或者结合曝光模块的运动,完成对待成像图像的曝光。
在对现有技术的研究和实践过程中,本发明的发明人发现,成像装置中组件的安装很可能与设计之初的理想情况不相符,例如成像面对承载成像面的运动机构的贴合程度不均匀、或该运动机构的安装可能发生整体偏移等,这些均可能会影响成像装置的成像质量,因此需要对成像装置中的组件的安装进行检测,以便对其进行调整。
发明内容
本发明实施例提供成像装置、对成像装置中组件的安装进行检测的方法及装置,可以检测成像装置中组件的安装状况。
一种对成像装置中组件的安装进行检测的方法,包括:
使影像检测模块分别在被测区的对应位置处,对所述成像装置中被测组件上的目标区及该目标区的参考区进行检测,获得第一影像及第二影像;
对第一影像中目标区的成像位置及第二影像中参考区的成像位置进行比较,根据比较结果确定所述被测组件的安装状况信息;
所述影像检测模块包括成像透镜、激光器及第一影像传感器,所述使影像检测模块分别在被测区的对应位置处,对所述成像装置中被测组件上的目标区及该目标区的参考区进行检测,获得第一影像及第二影像的步骤具体为:
使所述激光器发出的激光分别照射所述被测组件上的目标区和参考区;
通过所述成像透镜将被目标区和参考区散射的光分别成像在所述第一影像传感器上,获得所述第一影像及第二影像;
所述被测组件包括承载于第一运动机构上的成像面和承载该成像面的该第一运动机构和安装在承载该成像面的该第一运动机构上的、用于确定曝光头的曝光影像偏差信息的第二影像传感器;所述第二影像传感器安装于该第一运动机构上设置的凹槽内,使所述第二影像传感器的感光面与所述成像面的上表面相切。
一种成像装置,包括承载成像面的第一运动机构和通过与待成像图像的图像信息对应的调制光束对所述成像面进行曝光的曝光头,所述装置还包括:
影像检测模块和第二运动机构,所述第二运动机构承载所述影像检测模块进行移动,使影像检测模块分别在被测区的对应位置处,对所述成像装置中被测组件上的目标区及该目标区的参考区进行检测,获得第一影像及第二影像;以及,
处理模块,用于对第一影像中目标区的成像位置及第二影像中参考区的成像位置进行比较,根据比较结果确定所述被测组件的安装状况信息;
所述影像检测模块包括激光器、成像透镜及第一影像传感器,
所述激光器用于发出激光照射所述被测组件上的目标区和参考区;
所述成像透镜用于将被目标区和参考区散射的光分别成像在所述第一影像传感器上,获得所述第一影像及第二影像;
所述被测组件包括所述成像面和承载该成像面的第一运动机构和安装在承载该成像面的该第一运动机构上的第二影像传感器;所述第二影像传感器安装于该第一运动机构上设置的凹槽内,使所述第二影像传感器的感光面与所述成像面的上表面相切。
本发明实施例利用三角法测量原理,先分别对被测组件的目标区及其参考区进行检测,然后对两者的成像位置进行比较,根据比较结果确定被测组件的安装状况信息。因此,本发明实施例可以对成像装置中的组件的安装进行检测,从而可以根据检测结果对安装不符合要求的组件进行调整,进而提高成像装置的成像质量。
附图说明
图1是本发明检测装置实施例的结构图;
图2是本发明检测装置实施例中三角法测量原理的示意图;
图3是本发明成像装置实施例一的结构图;
图4是本发明成像装置实施例二的立体示意图;
图5是本发明成像装置实施例二的平面示意图;
图6是本发明成像装置实施例二中影像传感器的安装示意图。
具体实施方式
下面对本发明实施例提供的成像装置、对成像装置中组件的安装进行检测的方法及装置的推荐实施例进行详细说明。
参考图1,本发明对成像装置中组件的安装进行检测的装置实施例包括:
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