[发明专利]纺织品织造过程的参数检测装置及其检测方法

权利要求书

1、一种纺织品织造过程的参数检测装置，其特征是，包括针筒转数检测传感器、底纱检测传感器、面纱检测传感器、显示屏和连接显示屏的微处理机，其中，针筒检测传感器设于机台针筒底盘上，用于检测针筒的转数和布匹的定长；底纱检测传感器设于底纱输纱器同步带上，用于检测底纱输纱器的转数；面纱检测传感器设于面纱输纱器同步带上，用于检测面纱输纱器的转数；微处理机包括密度参数模块、毛长或毛圈长度数模块，其中，密度参数模块分别连接针筒转数检测传感器和底纱检测传感器，毛长或毛圈长度数模块分别连接针筒检测传感器和面纱检测传感器；显示屏中设有密度参数显示器、毛长或毛圈长度数显示器，分别连接密度参数模块、毛长或毛圈长度数模块的显示输出端。

2、根据权利要求1所述的纺织品织造过程的参数检测装置，其特征在于，所述微处理机还包括产量数模块，产量数模块连接面纱检测传感器，显示屏中设有产量数显示器，连接产量数模块的显示输出端和USB接口。

3、根据权利要求1所述的纺织品织造过程的参数检测装置，其特征在于，所述微处理机还包括定长转数模块，定长转数模块连接针筒检测传感器，显示屏中设有定长转数显示器，连接定长转数模块的显示输出端和USB接口，当定长转数满值时由继电器控制机台原断纱自停装置实现停机，并且必须在本设备上按复位后方可开机。

4、一种权利要求1所述的参数检测装置的检测方法，其特征在于，参数检测方法包括：

1)密度参数检测：MD＝Bna÷AM；

其中，MD为密度(参数)，Bna为当针筒转数检测传感器在N周时段内读取底纱检测传感器的信号数，AM为设置的总针/千枚数；

2)毛长和毛圈长度数检测：MC＝(Cna÷GM)÷MZ；

其中，MC为毛长或毛圈长度数，Cna为当针筒检测传感器在N周时段内读取面纱检测传感器的信号数，GM为设定的机台钩毛针数，MZ为测定的纱支系数。

5、根据权利要求4所述的纺织品织造过程的参数检测方法，其特征在于，所述参数还包括产量数，其计算公式：CI＝(Cm÷10万)×IS；

其中，CI为产量数，Cm为读取面纱检测传感器的信号数，10万为内置的固定除数，IS为织机路数。

6、根据权利要求4所述的纺织品织造过程的参数检测方法，其特征在于，所述参数还包括布匹定长转数控制，其计算公式：SC＝(DC-An)；

其中，SC为布匹长度数，DC为设置的针筒定长转数，An为针筒转数检测传感器的信号数；计数方式为减法。

7、根据权利要求4所述的纺织品织造过程的参数检测方法，其特征在于，所述步骤1)的密度参数检测中，B_nA为当针筒转数检测传感器在5周时段内读取底纱检测传感器的信号数，所述步骤2)的毛长或毛圈长度数检测中，C_nA为当针筒转数检测传感器在5周时段内读取面纱检测传感器的信号数。