[发明专利]集成电路中的电压检测电路以及产生触发标志信号的方法有效
申请号: | 200810001587.2 | 申请日: | 2008-01-14 |
公开(公告)号: | CN101226219A | 公开(公告)日: | 2008-07-23 |
发明(设计)人: | W·W·阿巴德尔;J·A·法菲尔德;A·M·舒;J·S·布朗 | 申请(专利权)人: | 国际商业机器公司 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28;G01R31/30;G01R19/165 |
代理公司: | 北京市中咨律师事务所 | 代理人: | 于静;李峥 |
地址: | 美国*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 集成电路 中的 电压 检测 电路 以及 产生 触发 标志 信号 方法 | ||
1.一种集成电路芯片,其包含:
电源网络,其用于向功能电路供给供电电压;以及
触发电路,其包含:
第一分压器堆,其包含:
第一输入,其与所述电源网络电气连通;以及
第一内节点,其用于提供第一分压输出电压;
第二分压器堆,其与所述第一分压器堆并联电气耦合到所述电源网络,并具有与所述供电电压的非线性关系,所述第二分压器堆包含:
第二输入,其与所述电源网络电气连通;以及
第二内节点,其用于提供第二分压输出电压;以及
输出电路,其与所述第一内节点以及所述第二内节点电气连通,并被可操作地配置为产生作为所述第一分压输出电压以及所述第二分压输出电压的函数的数字触发标志。
2.根据权利要求1的集成电路,其中,所述第二分压器堆包含彼此串联耦合以限定所述第二内节点的第一漏电电容器与第二漏电电容器。
3.根据权利要求2的集成电路芯片,其中:
所述第一漏电电容器具有第一漏电电流,并包含具有第一栅极氧化物的第一晶体管,且所述第一漏电电流由通过所述第一栅极氧化物的电流隧穿提供;以及
所述第二漏电电容器具有第二漏电电流,并包含具有第二栅极氧化物的第二晶体管,且所述第二漏电电流由通过所述第二栅极氧化物的电流隧穿提供。
4.根据权利要求3的集成电路芯片,其中,所述第一晶体管为低电压阈值装置,所述第二晶体管为正常电压阈值装置。
5.根据权利要求3的集成电路芯片,其中,所述第一栅极氧化物具有第一面积,所述第二栅极氧化物具有不同于所述第一面积的第二面积。
6.根据权利要求3的集成电路芯片,其中,所述第一分压器堆包含彼此串联耦合以限定所述第一内节点的第三漏电电容器与第四漏电电容器。
7.根据权利要求6的集成电路芯片,其中:
所述第三漏电电容器具有第三漏电电流,并包含具有第三栅极氧化物的第三晶体管,且所述第三漏电电流由通过所述第三栅极氧化物的电流隧穿提供;且
所述第四漏电电容器具有第四漏电电流,并包含具有第四栅极氧化物的第四晶体管,且所述第四漏电电流由通过所述第四栅极氧化物的电流隧穿提供。
8.根据权利要求3的集成电路芯片,其中,所述输出电路包含差动放大器和响应于输出级控制电压的输出级装置,所述差动放大器用于接收并影响所述第一分压输出以及所述第二分压输出以便输出所述输出级控制电压。
9.根据权利要求8的集成电路芯片,其中,所述输出电路被可操作地配置为当所述第二分压输出电压基本上等于所述第一分压输出电压时开始发起所述数字触发标志的输出。
10.根据权利要求1的集成电路芯片,其中,所述输出电路包含差动放大器与响应于输出级控制电压的输出级装置,所述差动放大器用于接收并影响所述第一分压输出以及所述第二分压输出以便输出所述输出级控制电压。
11.根据权利要求10的集成电路芯片,其中,所述输出电路被可操作地配置为当所述第二分压输出电压基本上等于所述第一分压输出电压时开始发起所述数字触发标志的输出。
12.根据权利要求1的集成电路芯片,其中,所述第一分压输出电压基本上等于所述供电电压的一半。
13.一种集成电路,其包含:
电源网络,其用于向功能电路供给供电电压;以及
触发电路,其包含:
第一分压器堆,其包含:
第一输入,其与所述电源网络电气连通;以及
第一内节点,其用于提供第一分压输出电压;
第二分压器堆,其与所述第一分压器堆并联电气耦合到所述电源网络,并包含:
第一漏电电容器,其包含与所述电源网络电气连通的第二输入;以及
第二漏电电容器,其与所述第一漏电电容器彼此串联连接,以便限定用于提供第二分压输出电压的第二内节点;以及
输出电路,其与所述第一内节点以及所述第二内节点电气连通,并被可操作地配置为产生作为所述第一分压输出电压以及所述第二分压输出电压的函数的数字触发标志。
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