[发明专利]基于路径损耗数据的射频优化评估方法及装置无效
申请号: | 200810000717.0 | 申请日: | 2008-01-14 |
公开(公告)号: | CN101217761A | 公开(公告)日: | 2008-07-09 |
发明(设计)人: | 张旭东 | 申请(专利权)人: | 中兴通讯股份有限公司 |
主分类号: | H04Q7/34 | 分类号: | H04Q7/34;H04B17/00 |
代理公司: | 北京康信知识产权代理有限责任公司 | 代理人: | 尚志峰;吴孟秋 |
地址: | 518057广东省深圳市南*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 路径 损耗 数据 射频 优化 评估 方法 装置 | ||
1.一种基于路径损耗数据的射频优化评估方法,其特征在于,包括:
对于每个射频优化方案,获取各个小区在相应关注位置的路径损耗覆盖信息;
对于每个射频优化方案,根据各个小区的所述路径损耗覆盖信息和准备采用的射频参数,获得各个小区在所述相应关注位置的小区覆盖信息;
对于每个射频优化方案,根据获得的所述小区覆盖信息,得到网络覆盖信息;
根据所述网络覆盖信息对各个射频优化方案进行评估。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,获取所述路径损耗覆盖信息的操作具体为:
对于每个射频优化方案中涉及的每个小区,获取其测试数据;
根据所述测试数据分离出小区的覆盖信息,并根据所述覆盖信息和现有网络的射频参数得到所述路径损耗覆盖信息。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,获取所述测试数据的操作具体为:
对于不需要进行天线调整的小区,采用现有网络的测试数据;
对于需要进行天线调整或需要新增的小区,进行硬仿真测试或场强测试得到所述测试数据。
4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述天线调整包括对天线高度和/或天线安装位置的调整。
5.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,在进行硬仿真测试的情况下,一次性或分批收集所述各小区的测试数据。
6.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,各个小区的所述覆盖信息包括在所述相应关注位置的所述小区覆盖信息。
7.根据权利要求1或2所述的方法,其特征在于,所述射频参数包括:天线类型、挂高、朝向、下倾角、小区发射功率。
8.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述网络覆盖信息包括前向覆盖指标和反向覆盖指标,具体包括以下指标的任一个及其组合:前向接收功率、导频覆盖信息、反向发射功率。
9.一种基于路径损耗数据的射频优化评估装置,其特征在于,包括:
测试数据模块,用于获取射频优化方案中涉及的每个小区的测试数据;
路径损耗覆盖子模块,连接至所述测试数据模块,用于对于每个射频优化方案,根据各个小区的测试数据得到对应的路径损耗覆盖信息;
信号覆盖子模块,连接至所述路径损耗子模块,用于对于每个射频优化方案,根据所述路径损耗覆盖信息得到各小区的相应关注位置的信号覆盖信息,并根据各小区的信号覆盖信息得到网络覆盖信息;
分析评估子模块,连接至所述信号覆盖子模块,用于根据所述网络覆盖信息评估各个射频优化方案。
10.根据权利要求9所述的装置,其特征在于,所述路径损耗覆盖子模块、所述信号覆盖子模块、以及所述分析评估子模块构成数据分析模块,所述数据分析模块用于根据所述测试数据获得各个射频优化方案的覆盖性能指标,并根据所述覆盖性能指标对射频优化方案进行评估。
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