[发明专利]磁性检测装置有效
| 申请号: | 200780032229.1 | 申请日: | 2007-02-07 |
| 公开(公告)号: | CN101512369A | 公开(公告)日: | 2009-08-19 |
| 发明(设计)人: | 佐佐木义人;菊入胜也;佐藤清 | 申请(专利权)人: | 阿尔卑斯电气株式会社 |
| 主分类号: | G01R33/09 | 分类号: | G01R33/09;H01L43/08 |
| 代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人: | 刘 建 |
| 地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 磁性 检测 装置 | ||
技术领域
本发明涉及具有利用磁阻效应的磁阻效应元件的磁性检测装置,尤其 涉及可降低消耗电流的磁性检测装置。
背景技术
图17是现有磁性检测装置的电路结构图。磁性检测装置由传感器部S 和集成电路(IC)1构成。图17所示的磁性检测装置是双极检测对应型传感 器。上述传感器部S具有:第1桥式电路BC1,其具备电阻值相对于正方向 外部磁场进行变化的GMR元件等第1磁阻效应元件2;第2桥式电路BC2, 其具备电阻值相对于负方向外部磁场进行变化的GMR元件等第2磁阻效应 元件3。所谓“正方向外部磁场”是指任意一个方向的外部磁场,不过在 图20的形态中是指第1磁阻效应元件2的电阻值变动、第2磁阻效应元件3的 电阻值不变动(即,作为固定电阻发挥作用)的方向的外部磁场,所谓“负 方向的外部磁场”是与上述正方向外部磁场相反方向的外部磁场,在图20 的形态中是指第2磁阻效应元件3的电阻值变动、第1磁阻效应元件2的电阻 值不变动(即,作为固定电阻发挥作用)的方向的外部磁场。
如图17所示,各第1磁阻效应元件2分别由固定电阻元件4和串联电路 构成,并联连接各串联电路,构成第1桥式电路BC1。构成上述第1桥式电 路BC1的两条串联电路的各输出取出部与第1差动放大器6连接。另外如图 17所示,各第2磁阻效应元件3分别由固定电阻元件5和串联电路构成,并 联连接各串联电路,构成第2桥式电路BC2。构成上述第2桥式电路BC2的 两条串联电路的各输出取出部与第2差动放大器7连接。
在上述集成电路1内除了差动放大器6、7之外,还设有施密特触发器 (Schmidt trigger)型的比较器12、13及锁存器电路8、9等,从外部输出端 子10、11取出外部磁场检测信号。
在图17所示的磁性检测装置中,当正方向外部磁场作用时,构成第1 桥式电路BC1的第1磁阻效应元件2的电阻值变动,因此利用上述第1差动放 大器6对输出进行差动放大,由此来生成检测信号,并将上述检测信号从 第1外部输出端子10输出。另一方面,在磁性检测装置中,当负方向外部 磁场作用时,构成第2桥式电路BC2的第2磁阻效应元件3的电阻值变动,因 此利用上述第2差动放大器7对输出进行差动放大,由此来生成检测信号, 并将上述检测信号从第2外部输出端子11输出。
如上所述,图17所示的磁性检测装置为对正方向以及负方向的哪个方 向的外部磁场都能检知的双极检测对应型传感器。
专利文献1:日本特开2004-77374号公报
专利文献2:日本特开2004-180286号公报
专利文献3:日本特开2005-214900号公报
专利文献4:日本特开2003-14833号公报
专利文献5:日本特开2003-14834号公报
专利文献6:日本特开2003-121268号公报
专利文献7:日本特开2004-304052号公报
但是,在图17所示的现有磁性检测装置的构造中,为了将桥式电路 的各输出取出部的电位适当控制在中间电位上,需要使与各磁阻效应元件 2、3串联连接的各固定电阻元件4、5的元件电阻接近于上述磁阻效应元件 2、3。
因为上述磁阻效应元件2、3的元件电阻是数kΩ,所以上述固定电阻 元件4、5也同样需要调整为数kΩ左右。
这样在现有构造中,不能忽视磁阻效应元件2、3的元件电阻而增大固 定电阻元件4、5的元件电阻。尤其,基于磁性检测装置的小型化,而使构 成传感器部S的各元件的形成空间变得越来越小,由此,无法充分地增大 元件电阻,其结果是导致消耗电流增大。
尤其,如图17所示,在双极对应型传感器中需要多个构成传感器部S 的元件。即,作成双极检测对应型传感器需要两个桥式电路BC1、BC2, 元件数共计需要8个。因此,各元件的形成空间进一步减少,在现有传感 器部S的元件结构中,对于增大元件电阻存在限制。
发明内容
因此,本发明用于解决上述现有的课题,其目的是提供与现有相比可 降低消耗电流的磁性检测装置。
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