[发明专利]用参考光纤布拉格光栅监控和测量偏振保持光纤内器件的光学性质的方法及由此制作的光纤部件

权利要求书

1.一种测量偏振保持光纤的偏振态的方法，所述方法包括：

提供所述偏振保持光纤，所述偏振保持光纤确定一慢轴和一快轴，所述光纤具有一取向；

将窄带参考光纤布拉格光栅写入到所述光纤，所述窄带参考光纤布拉格光栅具有第一反 射光谱和第一透射光谱；

通过所述光纤发送光束；

探测所述窄带参考光纤布拉格光栅的所述第一透射光谱或所述第一反射光谱；

测量所述第一透射光谱或第一反射光谱的第一峰的第一强度，所述第一峰与所述光纤的 所述慢轴相关；

测量所述第一透射光谱或第一反射光谱的第二峰的第二强度，所述第二峰与所述光纤的 所述快轴相关；

通过比较所述第一强度和所述第二强度，确定所述光纤的所述偏振态；

将第二光纤布拉格光栅写入到所述光纤，所述第二光纤布拉格光栅具有第二反射光谱和 第二透射光谱，所述第二反射光谱不同于所述第一反射光谱，所述第二透射光谱不同于所述第 一透射光谱；

测量所述第二光纤布拉格光栅的至少一个光学性质。

2.如权利要求1的方法，其中所述探测所述参考光纤布拉格光栅的所述第一透射光谱或 所述第一反射光谱的步骤用光谱分析仪实现。

3.如权利要求1的方法，其中所述通过所述光纤发送光束的步骤用宽带光源实现。

4.如权利要求1的方法，其中所述通过所述光纤发送光束的步骤用可调激光器实现。

5.如权利要求1的方法，所述方法还包括步骤：

调节所述光纤的所述取向，以改变所述偏振态。

6.如权利要求5的方法，其中所述调节所述光纤的所述取向的步骤用偏振空制器实现。

7.一种测量偏振保持光纤的偏振态的方法，所述方法包括：

提供所述偏振保持光纤，所述偏振保持光纤确定一慢轴和一快轴，所述光纤具有一取向；

将窄带参考光纤布拉格光栅写入到所述光纤，所述窄带参考光纤布拉格光栅具有第一反 射光谱和第一透射光谱；

通过所述光纤发送光束；

探测所述窄带参考光纤布拉格光栅的所述第一透射光谱或所述第一反射光谱；

测量所述第一透射光谱或第一反射光谱的第一峰的第一强度，所述第一峰与所述光纤的 所述慢轴相关；

测量所述第一透射光谱或第一反射光谱的第二峰的第二强度，所述第二峰与所述光纤的 所述快轴相关；

通过比较所述第一强度和所述第二强度，确定所述光纤的所述偏振态；

其中所述窄带参考光纤布拉格光栅还确定参考反射率；

调节所述光纤的所述取向，以基本减小所述第一反射光谱的所述第一峰的所述第一强度， 或基本减小所述第一反射光谱的所述第二峰的所述第二强度；

测量所述参考反射率；

将第二光纤布拉格光栅写入到所述光纤，所述第二光纤布拉格光栅具有第二反射光谱和 第二透射光谱，所述第二反射光谱不同于所述第一反射光谱，所述第二透射光谱不同于所述第 一透射光谱，所述第二光纤布拉格光栅具有第二反射率；

测量所述第一反射光谱内所述参考反射率和所述第二反射光谱内所述第二反射率之间的 差；

通过比较所述参考反射率与所述参考反射率和所述第二反射率之间的差，确定所述第二 反射率。