[实用新型]一种键盘测试装置

说明书

技术领域

本实用新型关于测试设备，尤其涉及一种键盘测试装置。

背景技术

目前，许多具有信息输入功能的电子设备如电脑、工业控制器、收银机等都配置有键盘，以向这些电子设备输入控制命令以及资料。因此，键盘作为这些电子设备的外部输入装置，其品质及其功能是否可以正常操作，将直接影响该电子设备的操作稳定性。因而，键盘的测试是这些电子设备生产制造中的重要环节。

传统的键盘功能测试，是测试键盘柔性电路板(FPC)各个按键的电阻。测试过程分多个工序，每个工序只测一种功能，测试时间长，费工时。而且各个工序采用不同的测试设备，成本高。并且在测试键盘FPC各个按键的电阻时，依各种不同的键盘，需要不同的治具配合，使测试更加复杂，增加测试成本，且测试FPC的电阻的治具较为复杂，这样增加了一些不确定的影响因素，会增大测量误差。

实用新型内容

本实用新型所要解决的技术问题在于提供一种成本低、测试方便快速的键盘测试装置。

为解决上述技术问题，本实用新型提供一种键盘测试装置，其包括用于固定待测键盘的支架、贯穿地设置有多个探针的探针部以及驱动探针部运动的探针驱动机构，该待测键盘具有接口引脚，所述驱动机构和探针部靠近支架设置，所述探针部连接于驱动机构，所述驱动机构驱动时带动探针部运动，使得所述探针部的多个探针在测试时运动到与支架上的待测键盘的接口引脚电气接触的位置。

本实用新型提供的键盘测试装置可通过多个探针与待测键盘的接口引脚相电气接触，从而可以对键盘的多个按键同时进行测试，大大降低测试时间，提高测试速度。而且通过将所述探针部连接于驱动机构，所述驱动机构驱动时带动探针部运动，从而可往复地驱动多个探针与待测键盘的接口相电气接触，以在此一台测试装置上对键盘进行多种功能测试，由此降低成本，同时也方便对键盘测试装置进行操作。

附图说明

图1是本实用新型实施例提供的键盘测试装置的立体结构示意图。

图2是图1中的II部分结构示意图。

图3是本实用新型实施例提供的键盘测试装置的功能模块示意图。

图4是待测试键盘的电路触发开关局部矩阵示意图。

具体实施方式

为了使本实用新型的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本实用新型进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。

请参阅图1和2，为本实用新型实施例提供的键盘测试装置，其包括测试机台10、支架20、探针部27、探针驱动机构30、电控电路板40以及微处理器50。支架20、探针驱动机构30和探针部27都设置于测试机台10上。支架20用于固定待测键盘(图未示)，探针部27靠近支架20设置，探针驱动机构30用于驱动探针部27运动。电控电路板40和微处理器50设置于测试机台10底部空间内。该待测试键盘具有金手指接口引脚，可以是笔记本电脑的键盘。

如图1所示，测试机台10包括工作台11以及固设于工作台11底下的载物板18、19。电控电路板40竖立设置于载物板18上。微处理器50放置于载物板19上。工作台11上设有一显示器15以及自锁开关17。显示器15位于工作台11靠后部的位置，其与微处理器50电气连接，用于显示测试中的键盘状态。

支架20位于工作台11相对靠前部的位置，包括支架台21以及四个支柱22。四个支柱22将支架台21架设于工作台11上。支架台21上设置有键盘固定座23，用于固定待测试键盘。该键盘固定座23通过活动设置于支架台21上的多个卡位块24所固定。该键盘固定座23对应于容置待测试键盘的金手指接口引脚的位置开设有接口引槽24，支架台21上对应接口引槽24处开设有接口槽25，用于固定待测键盘的金手指接口。接口槽25槽宽和金手指接口宽度基本相等，接口槽25贯穿支架台21。当待测试键盘固定于固定座23上，待测试键盘的金手指接口引脚从接口引槽24中引出，然后伸入接口槽25中。支架20对应接口槽25的底部位置还设置有可抽拉式收容探针部27及部分探针驱动机构30的框架26。

自锁开关17用于选择是功能测试系统还是不良分析测试系统，当进行不良分析时要按下此键，进行功能测试时不按下此键。不良分析主要就是用来测试键盘是否为良产品，并分析不良原因，主要分析是否存在问题如按键联动或按键不通及按键无法弹回。功能测试主要检测键盘按键通断及按键电阻等来获得键盘的功能性是否良好。这两种测试系统只有自锁开关的状态不一样，其它结构及测试方式都相同。