[实用新型]空板柔性线路板的测试治具有效
申请号: | 200720120858.7 | 申请日: | 2007-06-14 |
公开(公告)号: | CN201066376Y | 公开(公告)日: | 2008-05-28 |
发明(设计)人: | 曾立;谭地靖 | 申请(专利权)人: | 比亚迪股份有限公司 |
主分类号: | G01R31/02 | 分类号: | G01R31/02 |
代理公司: | 深圳创友专利商标代理有限公司 | 代理人: | 江耀纯 |
地址: | 518119广东省深*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 柔性 线路板 测试 | ||
技术领域
本实用新型涉及一种空板柔性线路板的测试治具。
背景技术
随着电子产品产业的迅速发展,柔性线路板(FPC)已经广泛运用于IT行业内的各个领域,并已经成为电子产品内部不可或缺的重要组成部分,柔性线路板的质量将直接影响到整个电子产品的质量。因此在FPC产品出货之前,必需对FPC进行电性能测试,确保FPC的质量。目前FPC电性能测试可分为空板电测和成品电测。由于成品电测时,95%以上的FPC都需要搭载元器件即表面贴装(SMT,并且搭载在FPC上面的元器件一般都具备体积小、集成度很高、价格昂贵的特点。如果这些元器件搭载在一些不良的FPC上面,那将是一种浪费。因此,柔性线路板在SMT之前需要进行空板电测,挑选出不良品,逼免造成不必要的浪费。
空板测试是将测试治具装载在电性能测试机台上进行测试的。空板测试治具可分为用于测单面板的单模测试治具和用于测双面板的双模测试治具。测试治具的治具模组上设有与待测FPC上测试焊盘一一对应的测试探针,并且测试探针通过导线与测试机台电连接。对于双模测试治具,测试时,先将待测FPC放在治具下模组上,使待测FPC上定位孔与治具下模组上产品定位销相配合,然后启动机台测试按钮,机台带动治具上模组下压,与治具下模组合模使探针与对应的待测试焊盘相接触进行测试。这种测试方法现普遍运用于空板FPC的测试中。但FPC是一种可弯折的线路板,在使用过程中会经过成千上万次的弯折。如果FPC产品上面存在褶皱或金面划伤等现象,在经过多次弯折后,由于褶皱及划伤处产品强度不够,很容易产生裂纹,造成线路开路,从而导致电子产品使用寿命的缩短,造成严重后果。目前的空板FPC电测过程中大多为人工操作,并且测试时产品须与测试探针、治具模组等带尖角的物体相接触,因此在空板电测这一工艺过程中很容易会造成产品褶皱及划伤。
现有的空板柔性线路板的测试治具的不足之处主要有:
当FPC单个产品的板面面积小时,会在一个连板FPC产品中排列多个产品。在测试过程中通常会把连板FPC产品分为几个相同的等分进行逐一测试。而出于治具平面度及治具成本方面的考虑,治具承托板的尺寸一般都做得尽可能的小,因此在测试过程中会有部分FPC产品超出治具承托板面,而超出的部分由于材质软而呈自然下垂状态,不仅在测试时对整个产品有拉扯,易造成误测,还会在治具合模时,在治具边缘处对产品造成一条压痕而导致产品被损坏。
当待测FPC板面全部小于治具承托板面尺寸时,测试员在更换测试产品时由于没有着手点去取FPC产品而不得不用手指捏拿FPC产品才能将产品取下,由于FPC产品材质软且易褶皱,很容易在测试员手指捏拿处形成褶皱而导致FPC产品被损坏。
由于测试时被测FPC要与测试探针相接触,由于FPC金面度金厚度很薄,并且探针多为尖头状,当测试员更换或取下被测线路板时,线路板经常会在探针上滑动而造成表面划伤而导致FPC产品被损坏。
当被测FPC单个产品的板面面积小时,会在一个连板FPC产品中排列有多个单个的FPC产品,现行做法是对各个单个的FPC进行编号,当测试时有部分FPC产品为不良品时,电测机只能把不良品的编号显示出来,而并不能显示不良品的位置,这给测试员做不良品标识时带来困难而容易导致误标识,影响测试结果,最终使不良FPC产品被用作搭载元器件,造成浪费。
发明内容
本实用新型就是为了克服以上的不足,提出了一种空板柔性线路板的测试治具,避免在测试过程中对FPC产品造成褶皱。
本实用新型的技术问题通过以下的技术方案予以解决:一种空板柔性线路板的测试治具,包括第一治具模组,所述第一治具模组包括第一底板和用于承托所述空板柔性线路板的承托板,所述第一治具模组上还设有子托板,所述子托板和承托板固定在第一底板上,且所述子托板面与承托板面处于同一平面上。
本实用新型的技术问题通过以下的技术方案予以解决:所述承托板包括第一治具板和产品托板,所述子托板面与产品托板面处于同一平面上,所述产品托板一端与第一治具板固定。
所述第一治具板上设有第一针床,所述第一针床内设有与空板柔性线路板的待测焊盘相对应的第一探针组,所述第一探针组与外界电测机电连接;所述承托板还包括探针保护板,所述产品托板上设有用于使产品托板处于测试状态时能与探针保护板处于同一平面的开口。
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