[实用新型]单列集成电路元器件老化测试插座无效
| 申请号： | 200720109318.9 | 申请日： | 2007-05-10 |
| 公开（公告）号： | CN201199248Y | 公开（公告）日： | 2009-02-25 |
| 发明（设计）人： | 曹宏国 | 申请（专利权）人： | 曹宏国 |
| 主分类号： | G01R1/04 | 分类号： | G01R1/04 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 313119浙江省*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 单列 集成电路 元器件 老化 测试 插座 | ||
【权利要求书】：
1.一种适用于单列集成电路元器件老化测试插座，其特征是：它是由插座体、接触件和锁紧装置三个部分统一组成，插座体由座(1)和盖(5)组成，插座体选用进口耐高温型工程塑料，经高温注塑成型工艺技术制造而成，接触件(4)与被试器件引出线相对应并安装于插座体的座(1)中，锁紧装置安装于插座体的座(1)中。
2.根据权利要求1所述的单列集成电路元器件老化测试插座，其特征是：插座体、接触件和锁紧装置是一个统一整体，接触件(4)由24线、2.54mm间距的镀金簧片纵向排列组成，并安装于座(1)内。
3.根据权利要求1所述的单列集成电路元器件老化测试插座，其特征是：插座的锁紧装置由滑块(6)、手柄(9)和轴(10)组成，以横向推拉式结构把接触件(4)设计成自锁式、零插拔力结构。
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