[实用新型]用于电子荷质比测试的测试装置无效

专利信息
申请号: 200720106358.8 申请日: 2007-02-06
公开(公告)号: CN201011596Y 公开(公告)日: 2008-01-23
发明(设计)人: 乐培界;斯公寿 申请(专利权)人: 乐培界
主分类号: G09B23/06 分类号: G09B23/06;G09B23/18
代理公司: 杭州九洲专利事务所有限公司 代理人: 翁霁明
地址: 311400*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 用于 电子 测试 装置
【说明书】:

技术领域

实用新型涉及的是一种专用于电子偏转和电子荷质比的测试装置,属于教学用物理实验装置。

背景技术

目前,大专院校在开展“电子偏转和电子荷质比测试”的实验项目时,使用的装置主要由8SJ31型示波管11及示波管外套一螺线管12、供给螺线管励磁电流的电源、提供1100V高压的加速电压电源组成,见附图1所示,图中包括有灯丝F,加热阴极K,加速电极G。为使电子束能到达荧光屏13上的任何一点,必须使电子束在两个互相垂直的方向都能偏转,称电子偏转,示波管11电偏转所需要的电场由两对互相垂直的偏转板提供,见附图1所示的Dx和Dy,改变偏转电压将使荧光屏13上的光点位移。电子荷质比测试方法是:按图1所示,将示波管的加速电极,第一阳极A1、第二阳极A2,偏转电极Dx和Dy全部连在一起,调节聚焦旋钮,使加速电压Ua为800V、900V,这时,电子束进入加速电极后在零电场中作匀速运动,到达荧光屏上形成一个光斑,为使电子束聚焦,将螺线管接上励磁电源,调节励磁电流I,改变磁感应强度B,观察荧光屏上第一次磁聚焦,继续加大励磁电流I,将观察到第二次聚焦,第三次聚焦,设加速电压为Ua,并设三次聚焦的励磁电流分别为I1、I2、I3,然后再把I1、I2、I3折算为相当于第一次聚焦时的平均励磁电流I,即加权平均值。

<mrow><mi>I</mi><mo>=</mo><mfrac><mrow><msub><mi>I</mi><mn>1</mn></msub><mo>+</mo><msub><mi>I</mi><mn>2</mn></msub><mo>+</mo><msub><mi>I</mi><mn>3</mn></msub></mrow><mrow><mn>1</mn><mo>+</mo><mn>2</mn><mo>+</mo><mn>3</mn></mrow></mfrac></mrow>

根掘下列公式(1)(2)可计算出电子荷质比

<mrow><mfrac><mi>e</mi><mi>m</mi></mfrac><mo>=</mo><mfrac><mrow><msup><mrow><mn>8</mn><mi>&pi;</mi></mrow><mn>2</mn></msup><mi>Ua</mi></mrow><mrow><msup><mi>L</mi><mn>2</mn></msup><msup><mi>B</mi><mn>2</mn></msup></mrow></mfrac><mo>-</mo><mo>-</mo><mo>-</mo><mrow><mo>(</mo><mn>1</mn><mo>)</mo></mrow></mrow>

B=μ0nICosβ    (2)

式中

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