[实用新型]一种基于虚拟仪器的粗糙度检测仪无效
| 申请号: | 200720011928.5 | 申请日: | 2007-04-29 |
| 公开(公告)号: | CN201034580Y | 公开(公告)日: | 2008-03-12 |
| 发明(设计)人: | 丛培田;全越;刘玉梅;巴鹏 | 申请(专利权)人: | 沈阳理工大学 |
| 主分类号: | G01B21/30 | 分类号: | G01B21/30 |
| 代理公司: | 沈阳利泰专利代理有限公司 | 代理人: | 王东煜 |
| 地址: | 110168辽宁*** | 国省代码: | 辽宁;21 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 基于 虚拟仪器 粗糙 检测 | ||
技术领域
本实用新型涉及的是粗糙度检测仪,具体的是一种基于虚拟仪器的粗糙度检测仪。
背景技术
粗糙度是衡量物体表面光洁、粗糙程度的一个物理量,它的数值大小直接影响到设备的技术性能,因此,粗糙度的检测与确定被广泛的应用在机械制造,船舶加工,航空航天领域等各个行业之中。
目前通常使用的粗糙度检测仪器是将工件表面粗糙程度的物理量转换成模拟量的一种测量器具,这种检测仪器存在着一定的缺欠。因为测定一个物体表面粗糙度较为复杂,它涉及到较多的物理参数,通常一般的粗糙度检测仪器只能检测其中的一个或几个,比如测定出粗糙度Ra,至于Re、Rz等等一些参数还需要人为的去查表、计算,这样得出结果的误差是不言而喻的,测量精度较低,测量范围又小是目前使用的粗糙度检测仪存在的大问题。较精密一点的粗糙度检测仪当然效果要明显很多,但其结构又颇为复杂,仅是显示面板上的按键、开关、仪表等布局就令人眼花缭乱,普通工人操作起来较有难度,不利于人们的观察、操作和记录。
随着工业的发展和技术水平的提高,我国对表面粗糙度的研究和实际应用越来越被人们所重视,人们希望有一种具有高精度,能测定出全部参数的粗糙度测量仪以适应实际工作的需要。
发明内容
本实用新型的目的是针对目前使用的普通粗糙度所存在测量参数少,精度低,测量范围小等缺欠而提供一种基于虚拟仪器的粗糙度检测仪。
采用的技术方案是:
一种基于虚拟仪器的粗糙度检测仪,包括硬件部分和软件部分,硬件部分包括工作台、控制器、PC机,所述的工作台包括测量传感器、卡具、底座;测量传感器装设在驱动器上,驱动器设置在立架上,立架设置在底座的侧面上,底座的上面设置有卡具;其结构特点是:
所述的控制器包括箱体及箱体内装设的电路控制板,电路控制板包括振荡级、电桥放大级、乘法运算级、A/D转换回路、单片机;
所述的振荡级为RC阻容振荡器,如图2所示,芯片U6的正向输入端1脚经电容C3和电阻R27组成的RC振荡回路后接地,芯片U6的输出端3脚先后经电容C4、电阻R26连接芯片U6的正向输入端1脚,芯片U6的负向输入端2脚,先后连接电阻R29、电位器W8接地;同时芯片U6的负向输入端2脚经电阻R28连接芯片U6的输出端3脚;
芯片U6输出端3脚经电阻R30连接电容C5接地。电阻R30与电容C5连接点d经电阻R31连接芯片U7的正向输入端1脚,芯片U7的负向输入端2脚经电阻R32接地,芯片U7的负向输入端2脚经电阻R33连接芯片U7的输出端3脚,芯片U7的4脚和5脚分别连接电位器W9的两个固定阻值接线端,电位器W9的活动触头接线端连接到电源12v,芯片U7的输出端3脚与检测信号输入端p、q连接,芯片U7的输出端3脚同时通过电阻R11连接乘法运算级;
所述的电桥放大级如图3所示,电位器W1和W2并联后的两端分别接在电路b、c两点上,c点连接电阻R2的一端,电阻R2的另一端接地;b点与检测信号输入端p、q连接,b点连接电阻R1的一端,电阻R1的另一端通过a点连接在运放芯片U1的正向输入端1脚,电阻R3的一端连接在a点上,另一端接地;c点同时连接运放芯片U2的正向输入端1脚,芯片U1的输出端3脚经电阻R5连接芯片U1的负向输入端2脚,同时芯片U1的输出端3脚经电阻R7连接芯片U3的负向输入端2脚;芯片U2的输出端3脚经电阻R6连接芯片U2的负向输入端2脚,芯片U1和芯片U2的各自的负向输入端2脚通过电阻R4相连接;芯片U2的输出端3脚经电阻R8连接运放芯片U3的正向输入端1脚,芯片U3的正向输入端通过电阻R10接地;芯片U3的输出端3脚经电阻R9连接芯片U3的负向输入端2脚,芯片U3的输出端3脚同时连接电位器W3的活动触头接线端,电位器W3的两个固定阻值接线端分别连接到芯片U3的4脚和5脚;芯片U3的输出端3脚经电阻R12接入乘法运算级;
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