[发明专利]软件组件、软件组件管理方法以及软件组件管理系统无效
申请号: | 200710193616.5 | 申请日: | 2007-11-23 |
公开(公告)号: | CN101201884A | 公开(公告)日: | 2008-06-18 |
发明(设计)人: | 池田信之;户谷浩隆;筬岛郁子;神胜雅 | 申请(专利权)人: | 株式会社东芝 |
主分类号: | G06F21/22 | 分类号: | G06F21/22 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人: | 付建军 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 软件 组件 管理 方法 以及 系统 | ||
1.一种能够执行预先确定的功能的软件组件,包括:
欺诈检查模块,被配置为,当执行所述软件组件时,检查对所述软件组件的使用是否未经授权,如果所述使用未经授权,则限制对所述软件组件的所述使用。
2.根据权利要求1所述的组件,其中,所述欺诈检查模块包括:
预先定义有关使用所述软件组件的使用条件的欺诈判断数据;以及
判断模块,被配置为获取有关所述软件组件的实际使用的使用数据,判断所获得的使用数据是否匹配由所述欺诈判断数据预先定义的所述使用条件,如果所述所获得的使用数据不匹配所述使用条件,则判断所述软件组件的所述使用未经授权。
3.根据权利要求2所述的组件,其中,所述欺诈判断数据预先定义的所述使用条件包括有关允许在其上安装所述软件组件的设备的设备标识信息;以及
所述判断模块通过操作系统获取有关实际在其上安装所述软件组件的设备的设备标识信息。
4.根据权利要求2所述的组件,其中,所述欺诈判断数据预先定义的所述使用条件包括有关允许使用所述软件组件的时间段的信息;以及
所述判断模块通过操作系统获取有关实际使用所述软件组件的日期/时间的日期/时间信息。
5.根据权利要求1所述的组件,其中,所述欺诈检查模块包括下列各项中的至少一个:
被配置为显示指出对所述软件组件的所述使用未经授权的信息的模块;
被配置为记录所述软件组件的未经授权的使用的模块;
被配置为如果所述软件组件的所述使用未经授权,则停止执行所述软件组件的模块;以及
被配置为如果所述软件组件的所述使用未经授权,则停止其中包括所述软件组件的应用软件程序的操作的模块。
6.一种用于管理软件组件的软件组件管理方法,所述方法包括下列步骤:
当执行所述软件组件时,检查所述软件组件的使用是否是未经授权的;以及
如果所述使用未经授权,则限制所述软件组件的所述使用。
7.根据权利要求6所述的方法,其中,所述软件组件包括预先定义有关使用所述软件组件的使用条件的欺诈判断数据;以及
所述检查步骤包括下列步骤:
获取有关所述软件组件的实际使用的使用数据;
判断所述获得的使用数据是否匹配由所述欺诈判断数据预先定义的所述使用条件;以及
如果所述获得的使用数据不匹配所述使用条件,则判断所述软件组件的所述使用未经授权。
8.根据权利要求7所述的方法,其中,所述欺诈判断数据预先定义的所述使用条件包括有关允许在其上安装所述软件组件的设备的设备标识信息;以及
在所述获取步骤中,通过所述设备的操作系统获取有关实际在其上安装所述软件组件的设备的设备标识信息。
9.根据权利要求7所述的方法,其中,所述欺诈判断数据预先定义的所述使用条件包括有关允许使用所述软件组件的时间段的信息;以及
在所述获取步骤中,通过实际在其上安装所述软件组件的设备的操作系统获取有关实际安装所述软件组件的日期/时间的日期/时间信息。
10.根据权利要求6所述的方法,其中,在所述限制步骤中,如果对所述软件组件的使用未经授权,则通过执行下列步骤中的至少一个步骤,限制对所述软件组件的所述使用:
显示指出对所述软件组件的所述使用未经授权的信息;
记录所述软件组件的未经授权的使用;
停止所述软件组件的执行;以及
停止其中包括所述软件组件的应用软件程序的操作。
11.一种软件组件管理系统,包括:
能够执行预先确定的功能的软件组件;
在其上安装了所述软件组件的用户终端;以及
通过电信线路连接到所述用户终端的组件管理服务器,
其中,所述软件组件包括欺诈检查模块,被配置为,当执行所述软件组件时,检查对所述软件组件的使用是否未经授权,如果所述使用未经授权,则限制对所述软件组件的所述使用。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于株式会社东芝,未经株式会社东芝许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/200710193616.5/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:SF6气体密度继电器的校验方法
- 下一篇:一种在反应釜中制备分子筛的方法