[发明专利]角度量测装置无效

专利信息
申请号: 200710188193.8 申请日: 2007-11-14
公开(公告)号: CN101435691A 公开(公告)日: 2009-05-20
发明(设计)人: 杰克陈 申请(专利权)人: 杰克陈
主分类号: G01B7/30 分类号: G01B7/30;G01D5/12
代理公司: 上海浦一知识产权代理有限公司 代理人: 丁纪铁
地址: 201203上海市浦东新区龙*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 角度 装置
【说明书】:

技术领域

发明涉及一种角度量测装置。

背景技术

习知的角度量测装置利用感测组件侦测磁性物零高斯位置与感测组件所成的夹角。但磁性物的位置会因为组装时的轴向间隙与径向间隙所影响,使磁场强度变化,同时使感测组件所测得的磁场强度失准,而影响感测组件对角度变化的判断,进而角度的量测亦很难做到精准。

发明内容

本发明要解决的技术问题是提供一种角度量测装置,提高角度量测的精准度。

为解决上述技术问题,本发明的角度量测装置是采用如下技术方案实现的,它包含:

一圆形磁铁,以一轴心转动;

一感磁组件,相邻所述圆形磁铁而设置;以及

一磁性传感器,相邻于所述感磁组件而设置,其中该感磁组件位于该圆形磁铁与该磁性传感器之间,藉由该磁性传感器所测得感磁组件的磁场变化,以量测圆形磁铁的转动角度。

由于采用本发明的角度量测装置,藉感磁组件相对于磁铁与磁性传感器的位置,提高磁性传感器所测得磁通量,使得磁铁的转动角度可被量测的更准确,进而提高角度量测的精准度。

附图说明

下面结合附图与具体实施方式对本发明作进一步详细的说明:

图1是本发明的角度量测装置实施例一的示意图;

图2是本发明的角度量测装置实施例二的示意图。

其中:

100:角度感测装置          102:磁铁

102a:轴心                 104:感磁组件

104a:侧                   104b:凸侧

104c:感测面               106:磁性传感器

200:角度感测装置          202:磁铁

202a:轴心                 204:感磁组件

204a:凹侧                 204b:凸侧

204c:感测面               206:磁性传感器

208:感磁组件              R:角度范围

具体实施方式

如上所述,本发明的角度量测装置,借助感磁组件相对于磁铁与磁性传感器的位置,使得磁铁的转动角度可被量测的更准确。以下将结合实施例来说明本发明的角度量测装置的细节。

参见图1所示,本发明的实施例一。所述的角度量测装置100包含一圆形磁铁102、弧形感磁组件104以及一磁性传感器106。圆形磁铁102以轴心102a为枢接点转动。弧形感磁组件104的凹侧104a与圆形磁铁102的形状相适配。磁性传感器106(例如霍尔场效传感器)则接触于弧形感磁组件104凸侧104b的量测面104c。在本实施例中,上述弧形感磁组件104的外形以及位置的安排,使得磁性传感器106测得更高的磁通量,有助于更精确的测量圆形磁铁102的转动角度。上述的圆形磁铁102并不限定只能有两个N、S极,也可具有更多的极性(例如多组N/S极交互排列)。上述弧形感磁组件104的材质可以是铁、锰、镍、钴或特殊合金等感磁材料。

再参见图2,本发明的实施例二。所述角度量测装置200包含一圆形磁铁202、弧形感磁组件204以及一磁性传感器206。圆形磁铁202以轴心202a为枢接点转动。弧形感磁组件204的凹侧204a与圆形磁铁202的形状相适配。磁性传感器206(例如霍尔场效传感器)则相邻设置于弧形感磁组件204凸侧204b的量测面204c。本实施例较图1所示的实施例一增加了另一个感磁组件208。磁性传感器206则位于弧形感磁组件204的量测面204c与感磁组件208之间。在本实施例中,上述弧形感磁组件204与感磁组件208的位置安排,使得磁性传感器206测得更高的磁通量,有助于更精确的测量圆形磁铁202的转动角度。上述的圆形磁铁202并不限定只能有两个N、S极,也可具有更多的极性(例如多组N/S极交互排列)。上述弧形感磁组件204的材质可以是铁、锰、镍、钴或特殊合金等感磁材料。

为了使更精确测量圆形磁铁202的转动角度,弧形感磁组件204所包含的角度范围R最好能大于欲量测的角度范围。

由上述较佳实施例可知,应用本发明的角度量测装置,藉感磁组件相对于磁铁与磁性传感器的位置,提高磁性传感器所测得磁通量,使得磁铁的转动角度可被量测的更准确。

虽然以上通过实施例对本发明进行了详细的说明,然其并非用以限定本发明,本领域的技术人员,在不脱离本发明的精神和范围内,当可作各种改进,这些也应视为本发明的保护范围。

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