[发明专利]漏电断路器

说明书

技术领域

本发明涉及适用于低电压配电系统的漏电断路器，详细涉及安装在其主体箱体中的漏电试验开关的组装构造。

背景技术

目前在日本国内所生产的漏电断路器，一般的结构是将过电流保护功能部件和漏电保护功能部件一起装入到单体构造的主体箱体中，图5～图7表示该电路和漏电试验开关的现有构造。

首先，图5是漏电断路器的电路图，图中1是主电路，2是主电路1的开闭接点，3是将主电路1作为一次线圈而检测交流电路的漏电电流的零相变流器，4是从零相变流器3的二次线圈3a的输出电流来判别发生漏电的漏电检测电路，5是对主电路1的相间电压进行整流并向漏电检测电路4进行供电的电源电路，6是根据漏电检测电路4的输出信号使开闭接点2断开的漏电脱扣装置(跳闸线圈)，7是漏电试验电路。

这里，漏电试验电路7将限流电阻7a与通过手动操作的按钮式漏电试验开关8组合起来，通过卷绕安装在零相变流器3的铁心上的试验线圈3b连接主电路1的相间。

这种漏电试验电路7的功能、动作是众所周知的(例如，参照专利文献1)，在进行漏电断路器的试验时，在主电路接点2断开的使用状态下将试验开关8进行接通操作，模拟漏电的试验电流从交流电路流向零相变流器3的试验线圈3b。由此，在零相变流器3中发生二次输出，由于该二次输出，漏电检测电路4输出跳闸信号使主电路接点2断开，使漏电断路器断路动作。通过该漏电试验，能够检查零相变流器3、漏电检测电路4和漏电脱扣装置6是否正常动作。

下面，在图6中表示上述漏电断路器的外观，而在图7中表示安装在漏电断路器的主体箱体中的漏电试验开关的现有构造。在图6、图7中，9是断路器的主体箱体，9a是箱体盖，9b是与箱体盖9a的一端绞链(hinge)结合的辅助盖，10是开闭操作把手，11是主电路端子，安装在主体箱体9内部的漏电试验开关8的操作用试验钮8a面对上述辅助盖9b的开口部9b-1而配置。

另一方面，现有构造的漏电试验开关8，如图7(b)所示由试验钮(树脂成型品)8a、复位弹簧8b、板簧形状的可动接点8c、和固定接点8d构成，可动接点8c、固定接点8d实际安装在漏电试验电路7的印刷板(printed circuit board)12上，并且可动接点8c相对试验钮8a的正下方配置。此外，上述印刷板12与漏电脱扣装置6的各部件一起装入到单元箱体13中并安装在断路器的主体箱体9中。其中，在图6、图7的图中，14是额定灵敏度电流、动作时间切换开关的旋钮，15是显示漏电断路动作的显示钮，17是跳闸钮。

在上述结构中，平时试验钮8a的头部受到复位弹簧8b的弹力，从辅助盖9b的开口部向外方突出，在这种状态下可动接点8c与固定接点8d之间分离，且漏电试验电路7(请参照图5)断路。当从该状态到漏电试验时用指尖压入试验钮8a的头部，则可动接点8c按压在固定接点8d上形成漏电试验电路7(闭路)，如图5中所述那样执行漏电试验。

其中，作为漏电试验开关，也已知有将独立部件的小额定电流的按钮开关(接触开关(tact switch))安装在印刷板上的结构(例如，请参照专利文献2)，来取代图7(b)所示的开关构造。

[专利文献1]日本专利特开2000-3660号公报(第2页，图6)

[专利文献2]日本专利特开2005-251410号公报(图3)

发明内容

可是，在上述现有构造的漏电试验开关8中，在功能、动作可靠性方面存在如下所述的问题点。即，

(1)在图7所示的漏电试验开关8的构造中，通过试验钮8a的手动操作直接压入板簧形状的可动接点8c使接通动作。因此，若在试验钮8a上施加强力压入时，在可动接点8c上加上过大的负荷而在规定的冲程(stroke)以上过剩地压入，其结果是存在接点机构变形、损坏的担忧。此外，作为该漏电试验开关8，即便是在采用专利文献2中所公开的那种小额定电流的按钮开关(接触开关)的情况下，市售的按钮开关的规格接触冲程仅仅1mm以下，损坏负荷为几kg左右，若如上所述通过试验钮8a用强力直接压入按钮开关时，存在开关的接点机构简单地被损坏的担忧。