[发明专利]电子秤有效
申请号: | 200710180140.1 | 申请日: | 2007-10-10 |
公开(公告)号: | CN101162168A | 公开(公告)日: | 2008-04-16 |
发明(设计)人: | B·纽弗;S·蔡司 | 申请(专利权)人: | 梅特勒-托利多公开股份有限公司 |
主分类号: | G01G21/00 | 分类号: | G01G21/00;G01G21/28;G01G21/02;G01G23/01 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 | 代理人: | 蔡胜利 |
地址: | 瑞士格*** | 国省代码: | 瑞士;CH |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 电子秤 | ||
技术领域
本发明涉及具有防风罩的电子秤,更具体地讲,本发明涉及用于将称重物体安置在秤的承重装置上的自动结构,并且还涉及包括插入件以及可以通过封闭元件被封闭的负载入口的电子秤的称重室。
背景技术
防风罩(draft shield)是秤中的非常重要的元件,其中所述秤被构造成例如在微克范围或甚至亚微克范围内称重最微小的负载,这是因为在这些负载范围内,例如在气流、浮力中的最小变化、或者由于温度的变化和/或振动可以对称重结果造成显著影响。为了最小化这些影响,通常必需的是,在称重物体已经被安置在秤上之后,以特定时间延迟的方式完成实际的称重,以主要允许封闭在称重室内的空气停止移动,并且还确保,所有其它外部参数尽可能恒定。这提高了测量的精度,但是测量的时间间隔显著变长,从而相同类型的称重负载或称重物体的特定多次测量或验证测量将消耗过长的时间。
此外,在将称重物体安置在秤上时,应该小心操作,以避免在负载位于秤上时在承重装置上提供任何附加的压力或力,这是由于承重装置连接至称重机构,并且后者可由于过大的和/或不受控制的施加力而损坏或甚至毁坏。例如,如果负载借助于一对镊子手动安放在高精度秤上,则可以影响测量的重复性,这是因为每次负载位于承重装置上时所施加或产生的机械力具有不同的幅度。
现有技术的公知的电子秤,例如实验室秤、分析天平、微量天平,装备有不同类型的防风罩,这取决于应用的领域,以大致斜角和圆形结构的方式,它们大体具有至少一个入口,负载通过所述入口安放在秤上,并且在大多数情况中所述入口可封闭。
对于高精度秤的一种应用,所谓的微量天平,是用于检查称重小的管形或杆形称重物体,例如用于血管手术应用的支架。在这种应用中,相同类型的尽可能多的物体需要在最可能短的时间内一个接一个被称重。其它应用例如还可包括在特定的时间长度内检查称重特定的物品或监控一个或多个称重物体的重量波动,例如以确保质量。
高精度秤不再专用于实验室,而是逐渐应用于诸如支架、过滤器、植入物、计算机芯片等的非常小的物品的批量生产。尤其在生产中,一方面,秤必须满足确保所需的测量精度以及快速地发出再现结果的要求,而另一方面,秤必须是坚固和操作简单的。
对于秤的结构以及尤其与称重物体接触的各部件的要求正在不断地变得更加严格,尤其在承受严格的法律限制的应用领域,例如在医学、生物化学或制药中。一种这些要求例如是,与称重物体尤其是称重室接触的秤的各部件容易清洁。
例如,可能的是,例如如果称重物体掉落负载接收装置或在放入称重室的过程中与封闭元件接触,则用于打开或关闭称重室、或称重室内部的封闭元件与称重物体接触。
因而,有利的是,如果这些部件也可以容易地通过物理和/或化学的方法被清洁并清除残留物、并且如果需要的话消毒,从而它们至少满足不同应用领域中针对清洁和/或卫生的法律规定。
发明内容
为了增加秤的用户友善性,为了在将称重负载安放在秤上时附加保护称重机构,以及尤其在测量大量同类称重物体时或为了多次测量相同物品而缩短测量次数和提高测量的再现性和重复性,电子秤、尤其是微量天平可装备有防风罩,其中所述防风罩封闭被构造成适应称重物体的尺寸的称重室,并包括至少一个封闭元件,其中所述封闭元件用于打开和/或关闭至少一个入口,以放入和取出称重负载。根据本发明的秤还包括承重装置;与所述承重装置协作的转移装置;以及致动封闭元件的驱动机构。驱动机构还包括位置设定构件,并且通过借助于位置设定构件以及优选布置在转移装置内的位移传输元件的作用,而实现所述转移装置相对于承重装置的竖直移动。位置设定构件被构造成适于在多个限定位置定位转移装置和/或承重装置。
称重室以及因而防风罩的尺寸与待称重的物体匹配,从而称重室的总容积仅稍微大于由称重物体所占据的体积。取决于称重物体,称重室的形状可以基本上是多边形、优选矩形、或者也可以基本上是圆形或椭圆形的。这还自动地导致了,包含在称重室内的空气容积的减小,并因此,将外部参数设定到恒定的水平所需的时间减小,其中所述参数包括大气压力、空气湍流和大气湿度等。使得称重室适合于待称重物体的尺寸的内容尤其是有利的,以对于相同物体的多次称重或对于多个相同种类的物体称重而言提高再现性并缩短测量时间。
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