[发明专利]面向集成电路测试的测试数据转换方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种能够实现集成电路测试数据批量转换的方法，尤其涉及一种面向大规模集成电路测试的实际需求，能够自动实时地将ASCII码的J750测试数据批量转换为其它数据格式的方法，属于集成电路测试技术领域。

背景技术

在集成电路制造过程中，测试是必须但又是耗时而昂贵的过程，它是保证集成电路性能、质量的关键手段之一。40年来，随着集成电路发展到第四代，集成电路测试机也从最初测试小规模集成电路发展到测试中规模、大规模和超大规模集成电路，到了八十年代，超大规模集成电路测试机进入全盛时期。

目前，集成电路测试机已经进入第四代，测量对象为VLSI，可测管脚数高达1024个，功能测试图形速率高达100MHz，测试图形深度可达4M以上。测试机的智能化水平进一步提高，具备与计算机辅助设计(CAD)连接能力，利用自动生成测试图形向量，并加强了数字系统与模拟系统的融合。从1970年仙童(Fair child)公司形成Sentry系列以来，继而形成系列的还有泰克(Tektronix)公司的3200系列，泰瑞达(Teradyne)公司的J750系列等。

在国内，美国泰瑞达(Teradyne)公司针对微处理器测试需求的J750系列集成电路测试机得到了广泛的应用。J750是一个将1024个数字通道完全整合到一个测试头的“零占地”系统，具有强大的并行测试能力和超过95％的并行测试效率，能够覆盖国内现阶段设计公司开发设计的产品。因此，很多国内客户用这款测试机作为产品量产的测试机器。但是，由于泰瑞达公司没有为J750开发完全的软件来支持生产测试数据的处理，而只是提供了一些接口。所以业界没有一个统一的标准方法来转换生成的测试数据。有的公司根据自己的实际情况写了一些简单的脚本完成一些简单的功能，不仅通用性差，也很难移植和扩展。这一缺陷在最新推出的J750Ex测试机中仍然没有得到有效的解决。

发明内容

鉴于现有技术所存在的不足，本发明的目的是提供一种面向集成电路测试的测试数据转换方法。该方法针对目前业界通用的J750系列测试机实现，能够将ASCII码的J750测试数据批量转换为用户所需的其它数据格式。

为实现上述的发明目的，本发明采用下述的技术方案：

一种面向集成电路测试的测试数据转换方法，针对J750系列测试机实施，其特征在于包括如下步骤：

(1)将所述测试机输出的原始数据文件按照预定的路径存放，并且按照预定的格式生成新建数据文件的文件名；

(2)根据原始数据文件中的内容，在所述新建数据文件中填写相关项；

(3)在多个芯片并行测试的情况下，首先在所述新建数据文件的列标题处填写预定数据项，然后启动多线程扫描原始数据中同一个坐标的不同测试项得出的数据，分别填写在对应的测试名称下；

(4)在执行完毕后，在wafer log日志文件中写入表示数据转换完毕的信息，所述wafer log日志文件是对已经完成数据处理的晶片进行记录的文件。

其中，所述步骤(1)中，所述原始数据中包括原始测试数据和复测数据，所述该原始测试数据放置在Test Data/Device/Lot/Data目录之下，所述复测数据放置在Test Dat a/Device/Lot/Retest目录之下。

所述步骤(1)中，通过记事本程序打开所述原始数据文件，识别该项测试起始时的日期和时间、任务名称和节点名称，再从Lot log日志文件中得到晶片的信息，把这些信息拆分并整合，得出新建数据文件的文件名，其中所述Lot log日志文件是对已经完成整个批次数据处理的批号进行记录的文件。

所述步骤(2)中，根据原始数据文件中的内容，在所述新建数据文件中填写相关项，确定行标题和列标题。

所述步骤(3)中，所述预定数据项包括但不限于坐标、地点、ID序列、自动识别产生的测试名称以及最后测试结果信息。

所述数据转换方法在执行前，通过读取wafer log日志文件，判断此片数据是否已经处理；如果已经进行处理则放弃该数据，转而进行下一批待处理数据的处理；如果还未进行处理则判断是否有需要进行复测的数据文件，然后按先原始数据、再复测数据的顺序读取数据文件，获取数据并把数据写入临时文件中。

本发明所提供的测试数据转换方法能够批量处理测试过程中产生的ASCII数据，可以做到完全自动化，无人工干预，定时完成数据处理。

附图说明

下面结合附图和具体实施方式对本发明作进一步的说明。