[发明专利]AD/DA变换兼用装置

说明书

技术领域

本发明涉及一种AD/DA变换兼用装置。

背景技术

在光盘装置中，聚焦处理和跟踪处理等伺服处理一般通过数字处理进行(专利文献1)。在用数字处理进行伺服处理时，需要将基于来自光拾取器的输出信号而生成的FE(Focusing Error)信号或TE(tracking Error)信号等模拟信号变换为数字信号的AD变换器。另外，还需要将伺服处理后的结果的数字信号变换为用于光拾取器等控制的模拟信号的DA变换器。

图4是表示具备AD变换器和DA变换器的伺服处理装置的一般构成例子的图。伺服处理装置100包括：选择器(selector)110、采样保持电路111、AD变换器112、伺服处理电路113、DA变换器114、选择器115和采样保持电路116_1～116_n。

FE信号或TE信号等多种模拟信号(V_IN1～V_INn)被输入到选择器110。然后，从选择器110输出与选择信号ADSEL对应的一个模拟信号。从选择器110输出的模拟信号通过采样保持电路111被输入到AD变换器112。伺服处理电路113根据从AD变换器112输出的数字信号，输出用于进行聚焦处理或跟踪处理等的数字信号。从伺服处理电路113输出的数字信号由DA变换器114变换为模拟信号，输入到选择器115。然后，输入到选择器115的模拟信号根据选择信号DASEL被输出到采样保持电路116_1～116_n中的任意一个。然后，根据从采样保持电路116_1～116_n输出的模拟信号(V_O1～V_On)进行聚焦处理或跟踪处理等。

作为AD变换器112，大多使用逐次比较型AD变换器。图5是表示AD变换器为逐次比较型时的一般构成例的图。AD变换器112具备：比较电路120、逐次比较寄存器121和DA变换器122。在AD变换器112中，将所输入的模拟信号V_IN、和逐次比较寄存器121中保存的数字信号基于DA变换器122而DA变换后的模拟信号，通过比较电路120进行大小比较，由此从最高位开始顺次确定在逐次比较寄存器121中所保存的数字信号的值。而且，在最低位的确定结束后，逐次比较寄存器121中所保存的数字信号V_ADO成为将模拟信号V_IN进行AD变换后的信号。

在伺服处理装置100中，进行多个模拟信号(V_IN1～V_INn)的AD变换和用于得到多个模拟信号(V_O1～V_On)的DA变换。因此，在伺服处理装置100中，如图6的时序图所示，并行执行AD变换处理和DA变换处理。在图6的例子中，在根据时钟CLK进行上升计数的CNT为“0”的时刻，输出用于选择模拟信号V_IN1的选择信号ADSEL。然后，在计数值CNT为“4”的时刻，复位信号ADRES变为高电平，逐次比较寄存器121的数字信号被设定为初始值(initial)，开始基于伺服电路111的采样。另外，在计数值CNT为“5”的时刻，采样保持电路111保持模拟信号V_IN1的值。之后，从计数值CNT为“6”的时刻，开始逐次比较寄存器121中所保存的数字信号的最高位(MSB)到最低位(LSB)的确定处理。然后，到最低位(LSB)为止的确定结束时，得到了将模拟信号V_IN1进行AD变换后的数字信号V_ADO。

与该AD变换并行，在计数值CNT为“0”的时刻，伺服处理电路113开始输出应该输出的数字信号作为模拟信号V_O1。然后，在计数值CNT为“1”的时刻输出用于输出模拟信号V_O1的选择信号DASEL，开始基于采样保持电路116_1的采样。然后，在计数值CNT为“7”的时刻，采样保持电路116_1保持模拟信号V_O1。由此，得到了将从伺服处理电路113输出的数字信号进行DA变换后的模拟信号V_O1。

但是，当设AD变换器112为逐次比较型时，伺服处理装置100需要两个DA变换器114、112。因此，增大了构成伺服处理装置100的电路的电路规模。鉴于此，公知的一种方法是在需要进行AD变换和DA变换二者时，通过将逐次比较型的AD变换器中所包含的DA变换器兼用为DA变换用，可以抑制电路规模的增大(专利文献2)。

专利文献1：特开2002-25078号公报