[发明专利]解调预刻槽地址符元装置及方法与解码预刻凹坑符元装置无效

专利信息
申请号: 200710109672.6 申请日: 2007-06-05
公开(公告)号: CN101086860A 公开(公告)日: 2007-12-12
发明(设计)人: 谢秉谕;郑裕;周书弘;何荣峰 申请(专利权)人: 联发科技股份有限公司
主分类号: G11B7/005 分类号: G11B7/005
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 代理人: 任默闻
地址: 台湾省新竹*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 解调 预刻槽 地址 装置 方法 解码 预刻凹坑符元
【权利要求书】:

1.一种解调预刻槽地址符元的装置,其中所述的预刻槽地址符元包含于光盘片的一摆动信号中,所述的预刻槽地址符元包含依据多种排列型式其中之一进行排列的多个预刻槽地址位,所述的装置包括:

一摆动信号产生模块,撷取由所述的光盘片产生的一摆动信号;

一参考摆动信号产生器,产生一参考摆动信号,所述的参考摆动信号的频率及相位与所述的摆动信号的正摆动周期的基本频率及相位相同;

一波形差异测量模块,耦接至所述的摆动信号产生模块及所述的参考摆动信号产生器,测量所述的摆动信号及所述的参考摆动信号间的差异,以得到一差异测量值,其中所述的这些差异测量值分别对应所述的这些预刻槽地址位;以及

一符元型式匹配模块,耦接至所述的波形差异测量模块,依据所述的这些波形差异测量值比较所述的这些预刻槽地址位符合所述的这些排列型式的机率,而决定所述的预刻槽地址符元。

2.根据权利要求1所述的解调预刻槽地址符元的装置,其特征在于,所述的波形差异测量模块包括:

一相位比较器,耦接至所述的摆动信号产生模块与所述的参考摆动信号产生器,比较所述的摆动信号及所述的参考摆动信号间的相位以得到一相位差信号;以及

一计数器,耦接至所述的相位比较器,计数所述的相位差信号在所述的参考摆动信号每一摆动信号周期中达到高电压的时间长度,以产生对应于所述的这些预刻槽地址位的所述的这些差异测量值。

3.根据权利要求2所述的解调预刻槽地址符元的装置,其特征在于,所述的计数器依据一时钟信号计数所述的相位差信号在所述的参考摆动信号每一摆动信号周期中达到高电压的时间长度,其中所述的时钟信号的频率高于所述的参考摆动信号的频率。

4.根据权利要求1所述的解调预刻槽地址符元的装置,其特征在于,所述的符元型式匹配模块包括:

一收集器,耦接至所述的波形差异测量模块,收集对应于所述的预刻槽地址符元的所述的这些差异测量值;

一关联器阵列,耦接至所述的收集器,将所述的这些差异测量值分别与由所述的这些预刻槽地址位的所述的这些排列型式产生的正负符号相乘以得到多个相关值,并加总对应于各排列型式的所述的这些相关值,以分别得到所述的预刻槽地址符元对应所述的这些排列型式的机率;以及

一最大可能比较模块,耦接至所述的关联器阵列,比较所述的预刻槽地址符元对应所述的这些排列型式的所述的这些机率大小,以决定所述的预刻槽地址符元。

5.根据权利要求4所述的解调预刻槽地址符元的装置,其特征在于,所述的关联器阵列产生分别对应于所述的这些排列型式的所述的这些机率,而所述的最大可能比较模块包括:

多个比较器,分别两两比较所述的这些机率以产生指示较大的所述的这些机率的多个比较结果;以及

多个与门,对所述的这些比较结果中的两个进行AND运算,以决定所述的预刻槽地址符元对应所述的这些排列型式中的哪一种。

6.根据权利要求1所述的解调预刻槽地址符元的装置,其特征在于,所述的参考摆动信号产生器为一锁相回路,所述的锁相回路锁定并重复输出所述的摆动信号的正摆动周期以产生所述的参考摆动信号。

7.根据权利要求1所述的解调预刻槽地址符元的装置,其特征在于,所述的摆动信号产生模块为一推挽式处理器,所述的推挽式处理器从由所述的光盘片的一轨道一侧反射的一第一反射信号强度减去由所述的轨道另一侧反射的一第二反射信号强度而得到所述的摆动信号。

8.根据权利要求1所述的解调预刻槽地址符元的装置,其特征在于,所述的光盘片的格式为HD-DVD,所述的预刻槽地址符元仅包含一预刻槽地址位,所述的预刻槽地址位可为正相位摆动周期或负相位摆动周期,而所述的符元型式匹配模块为一截剪器,依据单一差异量侧值判断所述的预刻槽地址符元。

9.根据权利要求1所述的解调预刻槽地址符元的装置,其特征在于,所述的光盘片的格式为DVD+R或DVD+RW,所述的预刻槽地址符元包含8个预刻槽地址位,而所述的这些排列型式包括同步符元、数据0符元、及数据1符元对应的排列型式。

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