[发明专利]数据线测试方法

说明书

技术领域

本发明涉及电子测试领域，更具体的，涉及一种数据线测试方法。

背景技术

一般，嵌入式系统由用于实现不同功能的单板组成，这些单板上基本上包括存储器、功能器件。这些存储器、功能器件又往往包括总线接口，总线有数据总线、地址总线、控制总线，单板上的CPU通过这些总线来访问以及控制这些器件。

通常情况下，系统的运行程序一般存放在存储器中，由存储器与功能器件完成单板的数据存储、业务功能等。无论是存储器还是功能器件，都是嵌入式系统中的重要部件，在交付使用前需要对这些部件进行测试，数据线测试就是其中的一部分。

目前，在业界内普遍采用的数据线测试方法是“走步1”法和“走步0”法、或者两种方法的结合。

在“走步1”法中，假设数据线的个数为n，则在进行测试时，依次向不同的地址A0、A 1、A2、...、An-2、和An-1中写入特定数据0b00...001、0b00...010、0b00...100、0b01...000、和0b10...00，其中，特定数据的产生算法为：写入地址Am的特定数据为0x01左移m位，位宽为n，然后依次从各个地址中读出数据，看是否与先前写入的特定数据一致，如果不一致，则说明数据线存在故障。

在“走步0”法中，假设数据线的个数为n，则在进行测试时，依次向不同的地址A0、A1、A2、...、An-2、和An-1中写入特定数据0b11...110、0b11...101、0b11...011、0b10...111、和0b01...111，其中，特定数据的产生算法为：写入地址Am的特定数据为0x01左移m位然后按位取反，位宽为n，然后依次从各个地址中读出数据，看是否与先前写入的特定数据一致，如果不一致，则说明数据线存在故障。

从理论上来说，“走步1”法和“走步0”法是没有区别的。但两种方法的测试都不一定全面，在实际应用中，可能会出现有的故障“走步1”法无法测试出来而“走步0”法能测试来的情况，比如故障数据线的对地电阻为30欧姆的临界状态时的软故障，反之也是有可能的。因此，为了保证测试质量，在进行测试时，最好两种方法都采用。

在华为技术有限公司提出的题为“动态存储器功能测试方法”的第CN01140560号中国专利中公开了一种动态存储器的功能测试方法，其对存储器数据线的测试就是采用的“走步1”法和“走步0”法相结合的方法。

然而，由于利用“走步1”法和“走步0”法对数据线进行测试需要同时使用两种方法，而且测试逻辑比较繁琐，所以需要进行的读写操作很多。

因而，急需一种方法来解决上述问题。

发明内容

为了解决上述问题，本发明提出了一种数据线测试方法，其基本原理是：在一个地址中写入第一个‘0’、‘1’交替的测试数据，这样，数据线的每一位获得了一个‘1’或者‘0’赋值。然后，测试数据的每一位翻转，即将原来为‘0’的位翻转为‘1’，将原来为‘1’的位翻转为‘0’，再将翻转后的数据写入另一个地址中。之后，读出两个地址的数据进行判断。如果两个地址读出的数据与写入的数据一致，则测试通过。如果不一致，则查找读出的数据的哪一位不一致，则定位该位对应的数据线存在故障。这个测试过程需要进行两次，来完成某一位数据线的由‘0’到‘ 1’和由‘ 1’到‘0’这两次翻转测试。因而，本发明的方法比上述方法的效率更高，并且操作简单。

本发明提供了一种数据线测试方法，其可以包括以下步骤：步骤S102，从被测器件的地址空间中任意选择不同的四个地址，同时产生不同的两个测试数据；步骤S104，分别将两个测试数据中的第一数据和第二数据写入四个地址中的第一地址和第二地址中；步骤S106，读出第一地址中的数据并存储为第一读取数据，以及读出第二地址中的数据并存储为第二读取数据；步骤S108，判断第一读取数据是否与第一数据相同，以及第二读取数据是否与第二数据相同；以及步骤S110，根据判断结果，执行相应的操作。

根据本发明，当在步骤S108中，判断结果为第一读取数据与第一数据相同，并且第二读取数据与第二数据相同时，步骤S110可以包括以下步骤：步骤A，分别将第二数据和第一数据写入四个地址中的第三地址和第四地址中；步骤B，读出第三地址中的数据并存储为第三读取数据，以及读出第四地址中的数据并存储为第四读取数据；步骤C，判断第三读取数据是否与第二数据相同，以及第四读取数据是否与第一数据相同；以及步骤D，根据判断结果，进行相应处理。