[发明专利]岩体结构面粗糙度系数简易测量方法无效
申请号: | 200710068414.8 | 申请日: | 2007-04-30 |
公开(公告)号: | CN101055175A | 公开(公告)日: | 2007-10-17 |
发明(设计)人: | 杜时贵;胡晓飞 | 申请(专利权)人: | 浙江建设职业技术学院 |
主分类号: | G01B21/30 | 分类号: | G01B21/30 |
代理公司: | 杭州天正专利事务所有限公司 | 代理人: | 黄美娟;王兵 |
地址: | 311231*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 结构 粗糙 系数 简易 测量方法 | ||
(一)技术领域
本发明涉及岩体结构面粗糙度系数简易测量方法,适用于对取样长度为Ln的岩石结构面表面轮廓曲线测量粗糙度系数JRCn值的场合。
(二)背景技术
在本发明作出之前,目前获得结构面粗糙度系数JRC的主要测量法是Barton(1982)提出的根据不同取样长度结构面表面轮廓曲线的幅度确定粗糙度系数JRCn的直边图法[3],如附图1所示。目前分析修正直边法的物理意义及JRC的尺寸效应的基础上推导出了修正直边法的数学表达式(1):
测量取样长度为Ln的岩石结构面表面轮廓曲线粗糙度系数JRCn值的计算或估测技术为修正直边法数学公式计算法或修正直边法图解估测法:修正直边法数学公式计算法是根据特定取样长度Ln的岩体结构面表面轮廓曲线上测量得到的凸齿幅度Ryn,利用公式
(三)发明内容
本发明的任务是克服现有技术计算公式复杂、不便于口算或估测技术繁琐、估测量速度慢的缺点,提供一种形式简单,使用方便,测量速度快,使用效果好的岩体结构面粗糙度系数简易测量方法。
本发明的岩体结构面粗糙度系数简易测量方法包含以下步骤:
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