[发明专利]一种用于焦平面探测器的低温杜瓦的冷平台的支撑机构无效

专利信息
申请号: 200710047622.X 申请日: 2007-10-31
公开(公告)号: CN101144738A 公开(公告)日: 2008-03-19
发明(设计)人: 张亚妮;朱三根;王小坤;郝振贻;龚海梅 申请(专利权)人: 中国科学院上海技术物理研究所
主分类号: G01J5/02 分类号: G01J5/02;G01J5/06;F25D19/00
代理公司: 上海新天专利代理有限公司 代理人: 郭英
地址: 20008*** 国省代码: 上海;31
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 用于 平面 探测器 低温 平台 支撑 机构
【说明书】:

技术领域

本发明涉及低温金属杜瓦,具体是指封装于低温金属杜瓦内的用于安装红外焦平面探测器的冷平台的支撑机构。

背景技术

超长线列或超大面阵红外焦平面探测器有如下特点:1)多芯片模块组装;2)为保证探测器的可靠性和成品率,芯片一般带有抗温度冲击的大面积无源衬底;3)多光学元件(如滤光片)及其支撑;4)为了降低背景噪声提高探测器性能,采用冷屏;5)有较多的功能引出线基板。这些部件都是安装在冷平台上的,并封装于杜瓦内,这就要求冷平台的支撑机构有较好的力学强度,较小的漏热和较小的真空放气。

传统冷平台的支撑机构采用细长薄壁圆柱形的支撑柱,当冷平台负载增加时,为了达到一定的力学强度,往往是增加支撑柱的薄壁厚度,厚度的增加可以保证力学强度,但会导致支撑柱的漏热增加。为降低截面积增加带来的漏热,有人采用导热系数较低的玻璃作为支撑柱材料。专利us4918312 DewarColdfinger的支撑柱材料采用塑料,为了满足焊接要求在塑料上生成了一层金属,我们知道玻璃和塑料材料存在脆性、放气率高和气体渗透率高的缺点。专利us495810 Distortion Free Dewar/Coldfinger Assembler中的支撑柱采用的是金属钛,虽然金属钛的强度比不锈钢好,但是金属钛具有很强的吸附气体的能力,在真空状态下,其放气率要比一般的不锈钢高两个数量级。这些缺点对杜瓦真空寿命是很不利的;也有人采用在支撑柱上增加加强肋的方法。设置加强肋固然可以在保证力学强度的同时使漏热得到改善,但给支撑柱的机加工带来难度。无论上述哪种结构,都存在一个很大弊端,那就是当支撑柱在受到X、Y方向较大作用力或冲击作用时,冷平台的扰度和倾斜角相对较大,难以保证探测器始终位于光学系统焦面的允许误差范围内。这对封装超长线列或超大面阵红外焦平面探测器的杜瓦而言,问题显得更加突出。必须要探索一种新结构来解决这一问题。

发明内容

本发明的目的就是要提供一种可抵抗外力作用的,尤其是X、Y方向作用力的冷平台的支撑机构。该支撑机构在低温金属杜瓦内具有漏热小、放气率低。

本发明的目的是这样实现的,一种用于红外焦平面探测器的低温杜瓦的冷平台的支撑机构,所述的低温杜瓦由悬臂式外壳1,悬臂式外壳上口外焊接有一引线环2,引线环上密封一带窗口3的帽盖4组成。所述的支撑机构由细长薄壁圆柱形的支撑柱5、四根斜拉式二端带金属小球6的金属丝7和活动定柱10组成。支撑柱5置于杜瓦的悬臂式外壳内,并穿出引线环的中间圆孔,高出引线环6mm-9mm,支撑柱上支撑一通过焊接固定的冷平台8,冷平台上放置红外焦平面探测器9,窗口3位于冷平台的上方。在冷平台的四个角处或在离冷平台的角小于四分之一边长处各联结有一根金属丝7,金属丝与冷平台的联接为球面副联结,金属丝的另一端向下斜拉式与螺接在引线环侧壁上的活动定柱10球面副联结。所说的螺接其螺钉11既是活动定柱与引线环的螺接螺钉,又是对斜拉式金属丝加载预紧力的螺钉,螺钉外套有固定预紧力的螺帽12。

所说的支撑柱、金属丝及其金属小球表面生长有一层降低其放气率的保护膜。

本发明的优点如下:

1.冷平台由支撑柱和四根斜拉式金属丝作为其支撑机构,克服了传统冷平台支撑结构在力学上弊端,保证探测器始终位于光学系统焦面的允许误差范围内。

2.采用了金属丝斜拉结构,有相对较小的表面积,也就是说有较少的放气量,这对杜瓦的真空寿命是极为有利。

3.斜拉金属丝与活动定柱和冷平台采用球面副联结,在受到外界连续冲击扰动时,连接处可以自由活动,不会产生疲劳硬伤而断裂。

4.支撑柱、金属丝及其金属小球表面生长有一层降低其放气率的保护膜,有利于杜瓦获得更长的真空寿命。

附图说明

图1为本发明的冷平台支撑结构示意图;

图2为图1中的斜拉金属丝与活动定柱和冷平台联结的局部放大图;

图3为冷平台结构示意图。

具体实施方式

下面结合附图对本发明的具体实施方式作进一步的详细说明:

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院上海技术物理研究所,未经中国科学院上海技术物理研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/200710047622.X/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top