[发明专利]一种有机电致发光器件的检测装置及检测方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种检测装置及检测方法，尤其涉及一种有机电致发光器件的检测装置及 检测方法。

背景技术

有机电致发光显示器(OLED)具有自主发光、低电压直流驱动、全固化、视角宽、颜 色丰富等一系列的优点，具有广阔的应用前景。

目前OLED器件分光源及点阵两种，其中光源为全屏点亮型，相当于全屏为一个单像 素；而点阵型主要应用于显示屏，由多组像素组成。

在OLED的制备过程中，环境中的尘埃和蒸镀过程中的杂质会进入发光区，由于尘埃 的存在，电极之间会出现短路现象，进而出现不亮点及列连现象，使得产品成为坏品；一 些较小的尘埃即使不能产生短路，也会存在漏电现象，在长期工作后也会成为不亮点。为 了保证屏体的质量，OLED显示屏的制程完成后，需要对每片显示屏进行检测程序、老化 程序。

由于OLED显示屏是电流驱动性的显示器件，检测屏体的方法通常是观察显示屏的显 示效果来检测，即由扫描方式，观察每个通过电流的区域是否发光来判断是否存在缺陷。 然而有些缺陷只有在工作一段时间后才能表现出来，对这类缺陷的检测更加困难，常常需 要在老化程序和预烧程序完成后才能进行，此时检测出的缺陷会导致整片显示屏报废。

另一种检测方式是通过检测电流信号来判断缺陷是否存在，如中国专利CN1275074号 公开了一种由通过预定大小的电流来检测OLED显示屏的方法。该检测方式也需要显示屏 进行工作，因而会消耗大量的能耗。

发明内容

本发明的目的在于提供一种能够简单有效判断屏体优良，同时检测缺陷像素的有机电致 发光器件的检测装置。

本发明的另一目的在于提供一种使用上述检测装置对有机电致发光器件进行检测的方 法。

本发明的目的是通过以下技术方案予以实现的：其特征在于，本发明之检测装置包括电 容数据采集单元，数据存储单元，数据比较单元及输出单元，所述电容数据采集单元及数 据存储单元的输出分别连接数据比较单元的输入端，数据比较单元的输出端与输出单元连 接。

所述检测装置还包括扫描单元。

所述检测装置还包括输入单元。

所述数据存储单元所存数据为有机电致发光器件的电容标准值。

所述电容标准值包括屏体电容标准值，列电容标准值，行电容标准值及像素电容标准值。

本发明的另一目的是通过以下技术方案予以实现的：采用本发明之检测装置对有机电致 发光器件进行检测的步骤包括：

1、利用电容数据采集单元检测有机电致发光器件电容值；

2、将检测到的数据与数据存储单元中的有机电致发光器件的电容标准值进行比较，并 通过输出单元输出比较结果。

本发明的另一目的还可通过以下技术方案予以实现：采用本发明之检测装置对有机电致 发光器件进行检测的步骤包括：

1、利用电容数据采集单元检测有机电致发光器件屏体电容值；

2、将检测到的数据与数据存储单元中的有机电致发光器件的电容标准值进行比较，并 通过输出单元输出比较结果；

3、根据比较结果进行是否存在缺陷判断，无缺陷进入老化程序，有缺陷进行像素检测。

所述检测方法还可在步骤3之后对有缺陷的，记录缺陷像素位置，进行修复。

本发明基于的原理：有机电致发光器件包含第一电极、有机材料层以及与所述第一电极 相对的第二电极，该结构与平行板电容器非常相近。相同结构的有机电致发光器件具有一 定的电容量，且电容量满足平行板电容计算公式，即C＝εε₀S/d，其中，C表示电容，ε 是介电常数，ε₀是真空介电常数，S是象素面积，d是两电极间的面间距。若器件结构中 存在缺陷，例如附着在第一电极表面的尘埃颗粒或有机材料中的杂质等，都会造成介电常 数的变化，进而导致有机电致发光器件电容量的变化。

本发明利用有机电致发光器件具有一电容标准值的特性，对其进行电容检测，将检测结 果与电容标准值比较，与电容标准值吻合即为无缺陷像素；与电容标准值相比大于或小于 该值，即为需要修复的存在缺陷的像素。本发明之检测装置及采用该装置对像素进行检测 的方法，简单而有效，并且检测时无需器件工作，减小能耗。

附图说明

图1为本发明实施例的检测装置结构框图；