[发明专利]测定复合材料上的涂层的厚度的方法有效

专利信息
申请号: 200680055985.1 申请日: 2006-09-29
公开(公告)号: CN101657693A 公开(公告)日: 2010-02-24
发明(设计)人: 华金·帕斯奎尔·费尔南德斯;安东尼奥·富恩特·索维龙 申请(专利权)人: 空客西班牙公司
主分类号: G01B7/06 分类号: G01B7/06
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 代理人: 王 旭
地址: 西班牙*** 国省代码: 西班牙;ES
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摘要:
搜索关键词: 测定 复合材料 涂层 厚度 方法
【权利要求书】:

1.一种用于测定复合材料上的涂层的厚度的测量方法,其特征在于, 所述测量方法包括以下步骤:

-将所述复合材料及其涂层安置在平面结构上,以使所述复合材料在 测量区域内具有恒定厚度并包括无涂层区域;

-将所述复合材料的无涂层侧安置在具有恒定厚度的导电材料薄片 上;

-通过多通道类型感生电流生成设备在所述导电材料上生成感生电 流;

-选择低频且高穿透力Donut类型探针进行所述测量,调整其增益至 所述测量中所需的调整;

-通过使用所述探针测量所述复合材料的所述无涂层区域,以进行所 述方法的零点校正;

-通过使用所述探针测量已校正的复合材料纤维,以进行参比校正;

-使用所述探针进行所述复合材料及其涂层的测量;

-基于所述涂层和所述复合材料在感生电流中出现对所述导电材料 薄片的剥离效应的测量,考虑当感生电流从所述电流生成设备离开时,所 述电流横穿所述复合材料和所述涂层时的强度降低的影响的情况下,测定 所述复合材料的所述涂层的厚度,

其中所述复合材料是碳纤维。

2.根据权利要求1所述的用于测定复合材料上的涂层的厚度的测量 方法,其特征在于,所述涂层的厚度的范围为20到300μm。

3.根据权利要求1所述的用于测定复合材料上的涂层的厚度的测量 方法,其特征在于,所述导电材料具有大于或等于2mm的恒定厚度。

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