[发明专利]在光谱测定法中使用改进的变迹函数进行信号处理的方法和装置无效
申请号: | 200680006938.8 | 申请日: | 2006-03-03 |
公开(公告)号: | CN101133316A | 公开(公告)日: | 2008-02-27 |
发明(设计)人: | S·博什-卡普内亚;B·J·玛什科-古茨;L·I·卡姆雷特;J·E·内拉;D·F·玛瑞安 | 申请(专利权)人: | MKS仪器股份有限公司 |
主分类号: | G01N21/35 | 分类号: | G01N21/35;G01J3/45;G01N21/27 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 | 代理人: | 陈炜 |
地址: | 美国马*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 光谱 测定法 使用 改进 函数 进行 信号 处理 方法 装置 | ||
1.一种用在光谱测定法中的信号处理方法,包括:
获取样品信号的样品时域波形以及参考信号的参考时域波形;
提供应用于所述样品时域波形的样品变迹波形以及应用于所述参考时域波形的参考变迹波形,每个变迹波形都包括第一段和第二段,所述样品变迹波形的第一段与所述参考变迹波形的第一段都基本上在长度方向上共同延伸并且具有基本上相同的权重分布,所述样品和参考变迹波形的第二段都具有衰减的权重分布;
将所述样品和参考变迹波形应用于所述样品和参考时域波形,所述变迹波形的第一段将基本上相同的权重应用于所述样品和参考时域波形中相应的基本上共同延伸的区域,从而产生变迹后的样品和参考时域波形;
将所述变迹后的样品和参考时域波形变换成相应的样品和参考频域谱波形;以及
产生作为样品谱波形与参考谱波形之比值的参考谱分析波形,所述谱分析波形基本上不包括与变迹后的样品和参考时域波形中相应的共同延伸区域相关联的那些频率。
2.如权利要求1所述的方法,还包括:
为所述样品和参考变迹波形的第一段提供其幅值大致恒定的相同的权重分布。
3.如权利要求1所述的方法,还包括:
为所述样品和参考变迹波形的第一段提供其幅值不断变化的相同的权重分布。
4.如权利要求1所述的方法,还包括:
为所述样品变迹波形的第一段提供比所述参考变迹波形的第一段的长度要短的长度。
5.如权利要求4所述的方法,还包括:
当应用于所述样品时域波形时,为所述样品变迹波形的第二段提供第一权重分布;以及
当应用于所述参考时域波形时,为所述参考变迹波形的第二段提供第二权重分布,所述第二权重分布不同于所述第一权重分布。
6.如权利要求1所述的方法,还包括:
为所述参考变迹波形的第一段提供比所述样品变迹波形的第一段的长度要短的长度。
7.如权利要求6所述的方法,还包括:
当应用于所述样品时域波形时,为所述样品变迹波形的第二段提供第一权重分布;以及
当应用于所述参考时域波形时,为所述参考变迹波形的第二段提供第二权重分布,所述第二权重分布不同于所述第一权重分布。
8.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述变迹波形的第二段包括余弦、Barlett、Blackman、Connes、Gaussian、Lorentzian、Hamming、Norton-Beer、Hanning、或Welch波形。
9.如权利要求1所述的方法,还包括:
当应用于所述样品时域波形时,为所述样品变迹波形的第二段提供具有第一衰减率的权重分布;以及
当应用于所述参考时域波形时,为所述参考变迹波形的第二段提供具有第二衰减率的权重分布,所述第一衰减率不同于所述第二衰减率。
10.如权利要求1所述的方法,还包括:
当应用于所述样品时域波形时,为所述样品变迹波形的第二段提供第一权重分布;以及
当应用于所述参考时域波形时,为所述参考变迹波形的第二段提供第二权重分布,所述第二权重分布不同于所述第一权重分布。
11.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述样品时域波形和所述参考时域波形代表了一种或多种化学制品的光响应信号,而所述参考谱分析波形代表了所述一种或多种化学制品的光吸收或反射谱。
12.如权利要求11所述的方法,其特征在于,将大致相同的权重应用于所述样品和参考时域波形中相应的共同延伸的区域便导致从所述谱分析波形中基本上排除了那些与所述一种或多种化学制品的光响应信号基本上无关的频率。
13.如权利要求11所述的方法,其特征在于,所述一种或多种化学制品是固体、液体、气体、或它们之间的中间状态。
14.如权利要求1所述的方法,还包括:
利用傅里叶变换光谱测定设备以获取所述样品时域波形。
15.如权利要求14所述的方法,其特征在于,所述傅里叶变换光谱测定设备是傅里叶变换红外光谱测定(FTIR)设备。
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