[实用新型]表面安装型大功率器件老化试验插座

说明书

所属技术领域

本实用新型涉及一种微电子元器件老化测试装置，尤其是能对表面安装型大功率器件可靠性进行高温老化试验和测试的插座。

背景技术

目前，公知的老化试验插座本体材料采用的是非耐高温普通工程塑料，在对被试器件进行高温老化试验时，老化工作温度仅为-25℃～85℃，且老化工作时间短暂，插座的接触件表面镀银，结构简单，存在着与被测器件之间接触电阻大、耐环境弱、一致性差和机械寿命不长的重大缺陷。在我国微电子元器件可靠性领域，双列封装集成电路元器件高端技术产品，因无高温老化可靠性试验的专门装置，不能满足对器件性能指标的试验和测试要求，容易引发工程质量事故。

发明内容

为克服现有老化试验插座在接触电阻、耐温和一致性以及使用寿命方面的不足，本实用新型提供一种高温老化试验插座。该插座不仅能将老化工作温度范围扩大到-65℃～150℃，一次老化工作时间可连续长达250小时，插拔2000次以上，而且在对被测试器件进行高温老化试验和性能测试过程中，具有大电流、接触电阻小、一致性好、可靠性高、零插拨力的优点，大大提高了插座的可靠性和使用寿命。

本实用新型解决技术问题所采用的技术方案是：按照表面安装型大功率器件的结构设计和尺寸要求，将插座设计成两大组成部分，即插座体、接触件装置。插座体由盖、定位板、钩和座组成，选用进口的耐高温型(PPS)特种高温工程材料，以高温注塑成型工艺技术制成插座本体，用于被试器件的定位安装；接触件以铍青铜(Qbe₂)材料经冲压成型，经300℃高温淬火处理及电镀硬金层技术表面镀金，采用由轴向对称的两排引脚组成，与被试器件引出线相对应，并安装于插座体上。插座体同时起到扣紧装置作用，器件放在插座里的定位板上(以器件底尺寸定位，定位板下装有弹簧与座连接，能向下移动)，被试器件与插座接触件接触。靠盖、钩和座将器件压住，通电后进行高温老化试验和性能测试。这种以翻盖式机构把接触件设计成中心对称、自动锁紧和零插拔力为设计结构的试验插座，彻底解决了在高温老化试验和性能测试过程中的接触电阻大、耐环境弱、一致性差和机械寿命不长的技术难点。

本实用新型的有益效果是：可以满足表面安装型大功率器件和其它不同引线的电子元器件高温老化试验和性能测试，替代了进口，为国家节约了外汇，为用户节约了成本，可以获得较大的经济效益和社会效益。

附图说明

下面结合附图和实施例对本实用新型作进一步说明。

图1是本实用新型的外型结构纵剖面构造图

图2是本实用新型外形结构俯视图

图1：1.座  2.压簧  3.定位板  4.接触件  5.轴  6.大扭簧  7.盖  8.小扭簧  9.钩

图2：10.不锈钢十字开槽沉头螺钉

具体实施方案

在图1中，先将压簧2套在接触件4上，将装有压簧的接触件装入座1中，装上定位板3，将两个不锈钢十字开槽沉头螺钉图2.10旋紧，将小扭簧8用引线装在钩里，用轴5将引线顶出，使得盖钩连接起来，安装上大扭簧6，最后用轴将安装好的盖7、钩9同座1连接起来。该方案中，插座体用于被试器件的安装定位，接触件采用由轴向对称的两排引脚组成，与被试器件引出线相对应，并安装于插座体上。插座体同时起到扣紧装置作用，器件放在插座里的定位板上(以器件底尺寸定位，定位板下装有弹簧与座连接，能向下移动)，被试器件与插座接触件接触。靠盖、钩和座将器件压住，通电后进行高温老化试验和性能测试。这种以翻盖式机构把接触件设计成中心对称、自动锁紧和零插拔力为设计结构的试验插座。