[发明专利]一种超声测厚仪B型扫描显示方法及其超声测厚仪

说明书

技术领域

本发明是关于超声测厚扫描显示技术，具体地讲是一种超声测厚仪B型扫描显示方法及其超声测厚仪。

背景技术

超声测厚仪是根据超声波脉冲反射原理来进行厚度测量的仪器，当超声测厚仪的探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达二种不同材料分界面时，脉冲被反射回探头，通过精确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。

波形显示类(A扫描、B扫描)超声测厚仪是超声测厚仪系列产品中的一个门类。B型显示相对于幅度调制A型显示是一种辉度调制显示，可显示由探头移动直线和探头发射波束轴线决定的截面图形。其横坐标显示探头的位置，纵坐标显示探头发射波束的传播距离，即测量工件的深度，B型显示可以将厚度读数转化为易于理解的二维图形。

请参照图1，为一种B型超声测厚仪，其包括有机身11，液晶屏12，键盘13，探头14，接收插座15，发射插座16。其基本原理为由探头14发射超声波脉冲到达被测物体并在物体中传播，到达材料分界面时被反射回探头，通过精确测量超声波在材料中的传播时间来确定被测材料的厚度。由键盘13输入指令，通过发射插座16给探头一个发射信号，由探头发射超声波脉冲并将超声脉冲反射信号通过接收插座15反馈给处理单元，信号经过处理获得的数据由液晶屏12显示。

请参照图2，为现有超声测厚仪的原理框图，其中，由键盘23输入指令给处理单元21，由处理单元控制发射电路24输出电脉冲至探头，激励压电晶片产生脉冲超声波，超声波在被测物体上下两面之间形成多次反射，反射波经过压电晶片转变成电信号，经放大整型电路26进行放大整型后，传送至采样电路27，读取采样电路27中的测量数据后传送至处理单元进行处理，并将最后结果输出至液晶显示屏22。

液晶显示技术采用了“主动式矩阵”的方式来驱动。方法是利用薄膜技术所做成的电晶体电极，利用扫描的方法“主动地”控制任意一个显示点的开与关。光源照射时先通过下偏光板向上透出，借助液晶分子传导光线。电极导通时，液晶分子排列状态会发生改变，通过遮光和透光来达到显示的目的。由于晶体管具有电容效应，能够保持电位状态，已经透光的液晶分子会一直保持这种状态，直到电极下一次再加电改变其排列方式为止。液晶为每个像素都设有一个半导体开关，由于每个像素都可以通过点脉冲直接控制，所有像素点的显示驱动时间决定了液晶屏的刷新频率和响应时间。

由于B型扫描显示是采用从左到右或从右到左图象推移的方法，需要对显示区域不断的刷新，传统设计采用显示缓冲区推移方法实现扫描显示，对整个的显示缓冲区进行数据平移和液晶显示，需要对显示缓冲区数据推移，同时进行液晶显示，数据推移过程如图3所示。

采用显示缓冲区进行数据平移和液晶显示方法，需要驱动数量较多的半导体开关，限制了液晶屏的刷新频率和响应速度。

发明内容

本发明的目的在于，提供一种B型扫描显示的方法及系统，用以克服现有显示方法及系统的屏幕刷新率较低和响应速度较慢的情况，提供一种能较大提高超声测厚仪B扫描软件显示速度，使得用户观察更为流畅，缩短了检测时间，并且能够在普通的液晶屏上实现高端液晶屏的B型软件显示效果，降低超声测厚仪的成本的方法及系统。

本发明提供了一种超声测厚仪辉度调制显示方法，该方法包括以下步骤：

读取显示位置处的当前显示数据以及历史显示数据；用当前显示数据与历史显示数据进行比较；如果当前显示数据大于历史显示数据，则在所述显示位置处显示一增加量；如果当前显示数据小于历史显示数据，则在所述显示位置处显示一减少量。对所述的显示数据进行存储。

所述的增加量的显示形式为：一高辉度的增长量；所述的减少量的显示形式为：一低辉度的覆盖量。

所述的方法还包括：采用一高辉度的三角标识指示预设的位置；读取所述三角标识的当前位置数据以及历史位置数据；用当前位置数据与历史位置数据进行比较；如果当前位置的三角标识显示在历史位置的三角标识的一侧，且不与历史位置的三角标识重叠，则覆盖历史位置的三角标识，显示当前位置的三角标识；如果当前位置的三角标识显示在历史位置的三角标识的一侧，且与历史位置的三角标识有重叠部分，则覆盖历史位置的三角标识中与当前位置三角标识不重叠的部分，并显示当前位置的三角标识；存储三角标识的位置数据。这样减少了显示存储区的更新区域，通过部分刷新显示区域的方法，能较快的实现显示内容，并且能防止显示闪烁，实际效果较好。还可以保证显示效果的完整性和应用性。