[发明专利]用于测定各种材料上的超声掠面纵波速度的系统和方法

权利要求书

1.一种测定材料上的超声掠面纵波的速度的方法，包括：

在材料的第一位置产生超声掠面纵波；

在材料的第二位置检测至少部分超声掠面纵波；以及

测定超声掠面纵波在第一位置和第二位置之间的速度。

2.权利要求1的方法，其中所述方法包括下列中的至少一种：接触技术、浸入技术和起泡技术。

3.权利要求1的方法，其中一旦测定速度，所述方法进一步包括下列中的至少一项：

基于所述速度测定材料的至少一种晶体取向；以及

基于所述速度将多种材料彼此分类。

4.一种测定材料的至少一种晶体取向的方法，包括：

在材料的第一位置产生超声波；

在材料的第二位置检测至少部分超声波；

由检测到的超声波测定材料的至少一种晶体取向。

5.权利要求4的方法，其中所述测定步骤包括：

测量超声波的飞行时间；

根据第一位置和第二位置之间的距离和超声波的飞行时间测定材料的纵向速度；以及

利用材料的纵向速度测定材料的至少一种晶体取向。

6.权利要求4的方法，其中所述超声波包括具有纵向速度的掠面纵波，其取决于材料的初级晶体取向，但不取决于材料的二级晶体取向。

7.权利要求4的方法，其中所述材料包括定向结晶材料、单晶体材料以及多晶体材料中的至少一种。

8.权利要求4的方法，其中所述材料包括燃气轮机元件。

9.权利要求8的方法，其中所述燃气轮机元件包括燃气轮机叶片、燃烧室衬板和叶片外气封中的至少一种。

10.权利要求4的方法，其中通过(a)元件处于飞行中；(b)元件位于生产环境中；(c)元件位于机修工厂；(d)元件位于物资回收工厂；和(e)元件位于再加工工厂中的至少一种利用所述方法。

11.权利要求4的方法，其中通过接触技术、浸入技术和起泡技术中至少一种方法测定至少一种晶体取向。

12.一种测量材料上的超声掠面纵波的速度的系统，包括：

超声波发射器；

超声波检测器；以及

用于测定材料上的超声掠面纵波的速度的装置。

13.权利要求12的系统，进一步包括利用超声掠面纵波的速度测定材料至少一种晶体取向的装置。

14.权利要求12的系统，其中所述超声波发射器能相对于材料的表面以预定的角度发射超声波。

15.权利要求12的系统，其中所述超声波检测器能在预定位置检测至少部分超声掠面纵波。

16.权利要求12的系统，其中所述装置包括接触结构、浸入结构和起泡结构中的至少一种。

17.一种测定材料上超声掠面纵波的速度的方法，包括：

提供权利要求12的系统；以及

使用所述系统测定材料上超声掠面纵波的速度。

18.一种测定材料的至少一种晶体取向的方法，包括：

提供权利要求12的系统；以及

使用所述系统测定材料的至少一种晶体取向。