[发明专利]电极检测装置无效
申请号: | 200610080244.0 | 申请日: | 2006-05-15 |
公开(公告)号: | CN101074977A | 公开(公告)日: | 2007-11-21 |
发明(设计)人: | 许永利;李广为 | 申请(专利权)人: | 胜华科技股份有限公司 |
主分类号: | G01R31/02 | 分类号: | G01R31/02 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 | 代理人: | 田野 |
地址: | 台湾省*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 电极 检测 装置 | ||
1.一种电极检测装置,用以检测液晶显示面板中的多个电极,该电极检测装置包含:
一感测单元,接收一参考电压,且该感测单元至少包含一第一检测开关以及一第二检测开关,该第一检测开关与该第二检测开关的一端连接任一前述电极的两端、或分别连接任两个不同电极的任一端,该些检测开关用以检测同一电极、或不同电极之间的电阻大小,并根据该检测出的电阻值产生一感测电压;以及
一比较单元,接收并比较前述参考电压与前述感测电压,且根据比较的结果产生一比较电压,并判断该比较电压是否大于一预设电压后产生一输出电压;
其中,当受测的任一前述电极发生断路、或受测的任两个前述电极之间没有发生短路时,前述比较电压将大于前述预设电压,则前述比较单元将前述输出电压的大小设定为该预设电压的大小;当受测的任一前述电极没有发生断路、或受测的任两个前述电极之间发生短路时,前述比较电压将小于前述预设电压,则前述比较单元将前述输出电压的大小设定为该比较电压的大小。
2.如权利要求1所述的电极检测装置,其中前述感测单元还包含:
一电阻器,该电阻器的一端接地,且其另一端连接至前述第一检测开关的另一端并于连接处形成一节点;以及
一第一运算放大器,该第一运算放大器的非反向输入端接收前述参考电压,且其反向输入端连接前述节点,以及其输出端连接前述第二检测开关的另一端、并且该输出端用以产生前述感测电压。
3.如权利要求1所述的电极检测装置,其中前述感测单元包含:
多个电阻器,每一电阻器的一端相互连接形成一节点,且该节点连接至前述第一检测开关的另一端;
一电阻器选择开关,该电阻器选择开关的一端接地,另一端用以选择任一前述电阻器,在检测任一前述电极时,该电阻器选择开关连接至一前述电阻器的另一端,其中该电阻器的电阻值大于该受测电极的电阻值,且在检测任两个前述电极时,该电阻器选择开关连接至另一前述电阻器的另一端,其中该电阻器的电阻值大于该两个受测电极电阻值相加的总和;以及
一第一运算放大器,该第一运算放大器的非反向输入端接收前述参考电压,且其反向输入端连接前述节点,以及其输出端连接前述第二检测开关的另一端、并且该输出端用以产生前述感测电压。
4.如权利要求1所述的电极检测装置,其中前述比较单元包含:
一第二运算放大器,该第二运算放大器的非反向输入端接收前述感测电压,且其反向输入端接收前述参考电压,并比较该感测电压与该参考电压,以产生前述比较电压;以及
一齐纳二极管,该齐纳二极管的正端接地,且其负端与前述第二运算放大器的输出端连接,并利用该齐纳二极管的齐纳电压作为前述预设电压。
5.如权利要求1所述的电极检测装置,还包含一快速模拟数字转换器,用以将前述比较单元输出的输出电压转换为一数字数据。
6.如权利要求1所述的电极检测装置,其中前述电极为氧化铟锡透明导电膜、或铟锌氧化物透明导电膜。
7.一种电极检测装置,用以检测液晶显示面板中的多个电极,该电极检测装置包含:
一感测单元,包含:
一电阻器,该电阻器的一端接地,且其另一端连接至前述任一电极的一端,并于连接处形成一节点;以及
一第一运算放大器,该第一运算放大器的非反向输入端接收一参考电压,且其反向输入端连接前述节点,以及
其输出端连接前述电阻器连接的同一电极的另一端、或不同电极的任一端,并且该第一运算放大器由受测电极中检测出一电阻值,根据该检测出的电阻值产生一感测电压;以及
一比较单元,包含:
一第二运算放大器,该第二运算放大器的非反向输入端接收前述感测电压,且其反向输入端接收前述参考电压,并比较该感测电压与该参考电压,以产生一比较电压;以及
一齐纳二极管,该齐纳二极管的正端接地,且其负端与前述第二运算放大器的输出端连接,并利用该齐纳二极管的齐纳电压作为一预设电压;
其中,当受测的任一前述电极发生断路、或受测的任两个前述电极之间没有发生短路时,前述比较电压将大于前述预设电压,则前述比较单元输出该预设电压;当受测的任一前述电极没有发生断路、或受测的任两个前述电极之间发生短路时,前述比较电压将小于前述预设电压,则前述比较单元输出该比较电压。
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