[发明专利]光盘刻录功率调整方法有效
申请号: | 200610004906.6 | 申请日: | 2006-01-11 |
公开(公告)号: | CN100481224C | 公开(公告)日: | 2009-04-22 |
发明(设计)人: | 李劲轮;朱斯廉 | 申请(专利权)人: | 威盛电子股份有限公司 |
主分类号: | G11B7/125 | 分类号: | G11B7/125;G11B7/004 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人: | 蒲迈文 |
地址: | 台湾省台*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 光盘 刻录 功率 调整 方法 | ||
技术领域
本发明涉及光盘刻录,尤其是一种光盘刻录功率调整方法。
背景技术
如CD-R与DVD-R之类的光盘刻录器是现代非常流行的信息科技应用产品。一般而言,于记录或刻录过程中,光驱中的一光学读取头会发出一激光束依序投射于光盘片表面的复数个光轨以将资料刻录至光盘片中,此时激光束所发出的功率称为刻录功率。当所投射的激光束刻录功率过高或过低时,都会影响到刻录的品质。在已知技术中,传统刻录器会在整个刻录过程的前先量测某些表示刻录品质的参数(简称刻录品质参数),如Beta值等,而后设定出一适当的刻录功率,之后就以此刻录功率将资料刻录至光盘片中。上述的刻录过程可能会刻录复数个光轨并且持续数十秒左右。
然而,当某一刻录工作持续一段时间后,光盘的温度也将会升高。理想状况下,刻录功率必须降低以将光盘温度控制于一适当范围内。而传统刻录器只在刻录过程前设定刻录功率,而不能在刻录过程中调整刻录功率。换言之,此刻录工作的后段因光盘温度升高的因素,刻录品质可能会下降。
据此,为了持续地调整光盘刻录功率以获得更好的刻录品质,急需于一段刻录工作中持续调整光盘刻录功率的方法。
发明内容
本发明的目的在于,提供一种光盘刻录功率调整方法,当刻录品质参数在误差范围内时,则不须调整刻录功率,依据刻录功率将资料刻录至目标光轨,否则须调整刻录功率,依据调整后的刻录功率将资料刻录至目标光轨。
本发明提供一种光盘刻录功率调整方法,其特征在于,包含:
提供一光盘刻录器,该光盘刻录器包含于一光盘的复数个光轨上移动的一光学读写头;
预先设定一刻录品质参数的一误差范围以及一刻录功率;
命令该光学读写头与一转轴马达移动至欲进行刻录的一目标光轨;
由该光学读写头读取该光盘的刻录品质参数;
判断该刻录品质参数是否在该误差范围内;以及
当该刻录品质参数在该误差范围内时,则不须调整该刻录功率,依据该刻录功率将一资料刻录至该目标光轨,否则须调整该刻录功率,依据该调整后的刻录功率将该资料刻录至该目标光轨,其中当该刻录品质参数高于该误差范围时,则根据该刻录品质参数减少该刻录功率。
其中还包含:
当该刻录品质参数低于该误差范围时,则根据该刻录品质参数增加该刻录功率。
其中上述的刻录品质参数是为一Beta值、一Gamma值或是一抖动值。
本发明提供一种光盘刻录功率调整方法,其特征在于,包含:
预先设定一刻录品质参数的一误差范围以及一刻录功率;
命令一光学读写头与一转轴马达移动至欲进行刻录的一目标光轨;
当转轴马达的转速稳定于所欲的转速,以及当该光学读写头的位置位于该目标光轨上时,储存并累加目前的该刻录品质参数于一存储器单元,并计数储存该刻录品质参数的次数;
判断储存该刻录品质参数的次数是否达到一目标值;以及
当该刻录品质参数的次数未达到该目标值,则依据该刻录功率将一资料刻录至该目标光轨,并且当该刻录品质参数的次数达到该目标值时,执行以下步骤:
计算该存储器单元中累加的刻录品质参数的一平均刻录品质参数,并清除计数次数与该存储器单元储存的累加的该刻录品质参数;
判断该平均刻录品质参数是否在该误差范围内;及
当该平均刻录品质参数不在该误差范围内时,依据该调整后的刻录功率将该资料刻录至该目标光轨,其中当该刻录品质参数高于该误差范围时,则根据该刻录品质参数减少该刻录功率。
其中还包含:
当该平均刻录品质参数在该误差范围内时,则不须调整该刻录功率,依据该刻录功率将一资料刻录至该目标光轨。
其中还包含:
当该平均刻录品质参数低于该误差范围时,则根据该平均刻录品质参数增加该刻录功率。
其中该平均刻录品质参数是将累加的刻录品质参数除以该目标值而得到。
其中上述的刻录品质参数是为一Beta值、一Gamma值或是一抖动值。
其中该存储器单元为一缓存器或是一缓冲器。
其中计数储存该刻录品质参数的次数存放在该存储器单元。
附图说明
为进一步说明本发明的具体技术内容,以下结合实施例及附图详细说明如后,其中:
图1是为根据本发明一实施例的量测刻录品质参数暨调整刻录功率方法的一流程示意图;以及
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