[发明专利]用于表明粒子流的特征的系统和方法无效
申请号: | 200580049688.1 | 申请日: | 2005-07-21 |
公开(公告)号: | CN101171513A | 公开(公告)日: | 2008-04-30 |
发明(设计)人: | D·皮耶里;J·利斯纳;A·吕埃格;P·盖斯比勒 | 申请(专利权)人: | 比勒股份公司 |
主分类号: | G01N33/10 | 分类号: | G01N33/10;G01N15/02;G01N15/14;G01N1/20;B02C4/32;B02C4/28;B02C25/00 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人: | 张兆东 |
地址: | 瑞士乌*** | 国省代码: | 瑞士;CH |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 表明 粒子 特征 系统 方法 | ||
技术领域
本发明涉及一种系统和方法用以表明粒子流的特征,其中检测至少各单个粒子的形状、尺寸或运动行为。
背景技术
在粒子流中涉及一粉末状至颗粒状的散装物料的流动,特别是谷物、面粉、糖、颜料、化学产品、药品、放射灰尘、煤烟粒子、有机色料粉末等。
在研磨颗粒状物质例如小麦或糖时在一辊式破碎机座中在一对碾辊的各碾辊之间破碎颗粒状物质。为了获得例如一确定的细度的面粉一般必须将碾磨物料多次导过一这样的通道,同时在这期间通过风力分选和筛选分级。这样可以获得例如具有不同的细度或不同的碾碎度的面粉。
一通道的碾磨作用主要取决于一对碾辊的两碾辊之间的缝隙间距。但也具有其它的辊式破碎机座工作参数影响通道的碾碎作用。因此值得期望的是,得到在一确定的通道后流出的碾磨物料的特征。如果此时发生碾磨物料对一碾磨物料的额定特征的偏差,则可以从该偏差出发实施缝隙间距或必要时另一辊式破碎机座工作参数的校正,以便尽可能快地重新消除该偏差。
发明内容
本发明的目的在于,提供一种系统和方法,其能够在一辊式破碎机座中表明粒子流、特别从一碾磨通道中流出的碾磨物料的特征。
按照权利要求1所述的系统和按照权利要求33所述的方法达到该目的。
本发明的系统包括一提取装置用以从粒子流中取出一样品;一显示部分用以输送和显示取出的样品;一检测装置用以检测通过显示部分输送的样品;和一分析装置用以分析检测的样品。
本发明的方法具有以下步骤:从粒子流中取出一样品;在一显示部分中输送和显示取出的样品;检测通过显示部分输送的样品;和分析检测的样品。
按这种方式可以获得粒子流、特别从一碾磨通道中流出的碾磨物料的特征。
优选在提取装置的下游和在显示部分上游或显示部分中设置一解聚集部分用以分解样品中的粒子料团。。由此防止由许多粒子构成的料团被虚假地检测和识别为大粒子。
提取装置可以经由一气动管道连接于显示部分,使可以通过气动管道和显示部分沿一流动路径输送样品,按这种方式本发明的系统也可以在碾磨厂内安装在一远离辊式破碎机座的位置,借此增大在一碾磨设备的设计时创造的自由度。
符合目的地显示部分具有两个对置的壁,在它们之间形成一间隙,其中两个对置的壁优选是相互平行设置的平面表面。
符合目的地上述的气动管道在一通口区域内通入对置的各壁之间形成的间隙内,其中流动路径在通口区域内优选具有一方向变化。由此引起在气动管道的输送气体中随带的碾磨物料在管道壁上的碰撞,这有助于可能存在的料团的解聚集。流动路径的方向变化特别在30°与90°之间并优选在80°与90°之间。这在随带的粒子上在其转向碰撞时导致特别大的冲量变化并从而导致一特别显著的碰撞作用。
符合目的地检测装置具有一摄像机用以检测电磁辐射或电磁频率,特别是光频率,其中摄像机优选指向间隙或向间隙对准。
按照第一方案,显示部分的对置的各壁可以透过可被摄像机检测的电磁辐射、特别是光频率。因此摄像机可以按选择在间隙的任一侧设置在一壁的后面。
在该第一设置中,摄像机在间隙的一侧在间隙下游设置在两个能透射的壁的其中一个上,并且一用于电磁辐射的能源、特别是光源,为了可由摄像机检测的电磁辐射,在间隙的另一侧在间隙下游设置在两个能透射的壁的另一个上,从而通过间隙输送的样品的粒子由电磁辐射照射并且样品的粒子的阴影或投影进入摄像机的视域。
按照第二方案,显示部分的两个对置的壁中第一壁可以透过可由摄像机检测的电磁辐射、特别是光频率,而第二壁不能透过可由摄像机检测的电磁频率、特别是光频率并且是比样品的粒子更强地吸光。
在该第二设置中,摄像机在间隙的一侧在间隙下游设置在能透射的壁上,并且一用于电磁辐射的能源、特别是光源,为了可由摄像机检测的电磁辐射,在间隙的同一侧在间隙下游设置在能透射的壁上,从而照射通过间隙输送的样品的粒子并且样品的粒子的散射光或反射进入摄像机的视域。
在此有利的是,第二壁的间隙侧的表面比粒子的表面对由能源发射的电磁辐射具有更强的吸收作用。由此确保,在间隙侧的表面前面运动的反射的粒子与由壁反射的光之间具有足够多的反差,从而可以轻而易举地实现成像的粒子的检测并且显著地便于接着的图像处理。这在图像处理时节省昂贵的和费时间的过滤过程。
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