[发明专利]一种用于选择光记录装置最优写入参数的方法

权利要求书

1、一种用于设置写入参数最优值的方法，写入参数最优值用在利用辐射束(5)将信息写入光记录介质(1)的光记录装置中，所述方法包括步骤：

1)在光记录介质上写入一系列测试图案，每个图案用辐射束的写入功率电平P的不同值写入，

2)读出所述图案，以便形成对应的读取信号部分(18、19)，以及

3)从每个读取信号部分导出读取参数的值，

其特征在于，所述方法还包括步骤：

4)曲线拟合多个函数到相关联的所述读取参数值和所述写入功率电平P值以获得多个曲线拟合函数，每个函数定义所述读取参数和所述写入功率电平P之间的关系，每个曲线拟合函数具有对应的写入功率电平初始值(P_ini)，

5)从每个所述曲线拟合函数中导出对应的写入功率电平特征值(P_Char)，每个写入功率电平特征值(P_Char)因此具有相关联的写入功率电平初始值(P_ini)，以及

6)将所述写入功率电平初始值(P_ini)和与其相关联的写入功率电平特征值(P_Char)的每个值比较，从而设置写入参数最优值。

2、如权利要求1的方法，其中所述读取参数是从记录在所述光记录介质(1)上的信息得出的读取信号的振幅的调制M。

3、如权利要求2的方法，其中所述多个曲线拟合函数中的至少一个函数具有P·M＝α·(P-β)的形式，其中α和β具有由曲线拟合产生的值，并且其中用于所述至少一个函数的所述写入功率电平特征值(P_Char)设置成等于β乘以第一倍增常数κ的值。

4、如权利要求3的方法，其中所述第一倍增常数κ从包含表示记录过程的控制信息的所述光记录介质(1)上的区域读出，凭借所述记录过程能够将信息记录在所述光记录介质上。

5、如权利要求3的方法，其中所述至少一个形式为P·M＝α·(P-β)的函数的曲线拟合是在写入功率电平的预定拟合范围内实现的。

6、如权利要求5的方法，其中所述预定拟合范围的位置由与每个曲线拟合函数相关联的写入功率电平初始值(P_ini)以及范围因子R确定。

7、如权利要求1的方法，其中通过分离常数S乘以一个整数，使得写入功率电平的每个初始值(P_ini)在数值上互不相同。

8、如权利要求1的方法，其中表示所述写入功率电平初始值(P_ini)的信息从包含表示记录过程的控制信息的所述光记录介质(1)上的区域读出，凭借所述记录过程能够将信息记录在所述光记录介质上。

9、如权利要求1的方法，其中通过估计每个写入功率电平初始值(P_ini)和每个与之相关联的写入功率电平特征值(P_Char)之间的数值差异，从而在步骤6中进行写入参数最优值的设置，写入参数最优值是具有最小数值差异的写入功率电平特征值(P_Char)。

10、如权利要求1的方法，其中通过找到一条直线与一条曲线之间的重合点，从而在步骤6中进行写入参数最优值的设置，其中在所述重合点处写入功率电平初始值(P_ini)等于写入功率电平特征值(P_Char)，所述曲线被拟合到每个写入功率电平初始值(P_ini)及与之相关联的写入功率电平特征值(P_Char)的多个点(P_ini，P_Char)。

11、一种设置辐射束的写入功率电平P最优值P_opt的方法，所述方法用在由具有写入功率电平P的辐射束(5)在光记录介质(1)上写入信息的光记录装置中，

其特征在于，所述用于设置写入功率电平P最优值P_opt的方法包括利用如权利要求1的方法来设置写入参数最优值，

还在于写入功率电平P的最优值P_opt被设置成等于写入参数最优值乘以第二倍增常数ρ。