[发明专利]用于电子器件的触头

说明书

发明人

黄东顺，韩国公民，居住在美国德克萨斯州Denton县FlowerMound城。

技术领域

本发明大体涉及用于电子器件的触头，并且更具体地讲，本发明涉及这样一种用于电子器件的触头，其将设置在测试座中的集成电路(IC)的多个引脚连接至印刷电路板(PCB)的对应的垫。

相关申请的交叉引用

本申请是韩国专利申请No.10-2004-0079649的继续申请，该申请于2004年10月6日递交，名称为“用于电子器件的触头”，发明人黄东顺为韩国公民，居住在美国。

背景技术

大体上，图3a至3c的测试座20接收图1a至1c的球栅阵列型半导体IC 1。接着，IC 1电连接至图2的PCB 11。在这种状态中，测试座完成IC 1的测试。

如图3a至3c所示，完成这种功能的测试座20包括罩体21、闩锁24、以及座本体22。罩体21压靠着待测试的IC 1，并且与其紧密接触，从而将IC 1强制紧密接触传统触头30的上侧接触部，其中所述传统的触头设置在IC 1下方。闩锁24锁定罩体21。

如图4所示，传统的触头30(也称为弹簧针)在测试座20中安置在待测试的IC之下，并且包括上侧触针31、下侧触针34、盘簧33、以及本体32。本体32围绕两个触针31和34，以防止触针31和34的移出，并且其中具有盘簧33，以为触针31和34提供弹力，因而允许触针31和34沿竖直方向移动。

具有杆形状的铜合金材料被机械加工并且镀金，以制造上侧触针31和下侧触针34。此外，本体32通过以下工艺被制造。也就是说，具有管形状的铜合金材料被机械加工并且镀金，并且两个触针31和34以及镀金的弹簧33被容纳在设置为本体32的管中。随后，管的两个端部被缩窄，从而触针31和34的厚部分通过缩窄端部被止挡，从而防止触针31和34从本体32移出。

大体上，优选的是，触头的电信号从上侧触针31通过本体32的内侧表面流至下侧触针34。因为电信号以这种方式流动，所以电信号传输距离较短，从而准确地体现了电特性。

假设两个触针31和34与本体32的内侧表面之间的电接触较差，电信号并不流经本体32，而是流经弹簧33。在这种情况中，信号传输距离增加。因此，触头30不能高效地实现其功能。

传统的触头30的问题在于，本体32的长度(3.0mm)大于本体的内径(0.3mm)，并且本体32的电镀状态较差，从而电信号并不令人满意地在两个触针31与34之间传输。此外，因为触头被反复地使用，所以由于磨损所产生的碎屑被捕获在触针31和34与本体32之间，从而使得电接触性能变差。

此外，传统的触头30的问题在于，触头30需要很多个部件，从而很难组装这些部件，因而生产效率较低。此外，由于大量的机械加工工作所以生产成本较高。

发明内容

因此，本发明已经针对出现在现有技术中的上述问题被完成，并且本发明的目的是提供一种用于电子器件的触头，其适于高效地将电信号从上侧触针传输至下侧触针。

本发明的另一目的是提供一种用于电子器件的触头，其减少了部件的数量，从而提高了生产率，实现了恒定的产量，并以较低的成本实现了批量生产。

为了实现上述目的，提供一种用于电子器件的触头，其具有上侧触针、下侧触针以及弹簧。上侧触针包括具有预定形状并且接触待测定物体即集成电路(IC)的引脚的接触部，两个支承凸块以及本体。下侧触针以与上侧触针正交的方式连接至上侧触针。弹簧装配附着在上侧触针与下侧触针之间的预定区域上。上侧触针的本体包括斜角表面和钩部，它们由从两个对称的柄脚延伸的凸出部限定，其中所述两个对称的柄脚提供了所述本体的端部并且限定了彼此相互对称的两个弹性部。第一通道通过提供了两个弹性部的两个柄脚被限定，并且提供了在所述下侧触针连接至所述上侧触针时允许所述下侧触针移动的空间。第二通道设置在上侧触针的本体中，以将所述下侧触针的钩部容纳在其中，以使得所述下侧触针可移动，而所述第二通道与所述下侧触针的钩部和侧向接触表面电接触。

第二通道具有预定的深度，而第二通道的两个底端之间的距离等于或大于弹性部的钩部的内侧端部之间的距离，后者对应于通道接触部之间的距离，以使得在上侧触针连接至下侧触针之后，由下侧触针的钩部限定的捕获表面接触第二通道的止挡表面。