[发明专利]校准方法和设备有效
| 申请号： | 200510069714.9 | 申请日： | 2005-02-25 |
| 公开（公告）号： | CN1673768A | 公开（公告）日： | 2005-09-28 |
| 发明（设计）人： | J·J·皮克尔德;K·谭;W·A·哈格鲁普;R·P·安德森;S·M·麦克马斯特斯 | 申请（专利权）人： | 特克特朗尼克公司 |
| 主分类号： | G01R35/00 | 分类号： | G01R35/00;G01R13/02 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 程天正;王忠忠 |
| 地址： | 美国俄*** | 国省代码： | 美国;US |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 校准 方法 设备 | ||
【说明书】：
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于特克特朗尼克公司，未经特克特朗尼克公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/pat/books/200510069714.9/2.html，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：基于电场可编程的存储设备
- 下一篇：用于磁结合测定的自校正系统
