[发明专利]液晶用作放射线辐射场的显像方法无效
| 申请号: | 02103721.3 | 申请日: | 2002-03-13 |
| 公开(公告)号: | CN1374535A | 公开(公告)日: | 2002-10-16 |
| 发明(设计)人: | 李联琮;张英平;王锋 | 申请(专利权)人: | 北京一体通探测技术有限公司 |
| 主分类号: | G01T5/00 | 分类号: | G01T5/00 |
| 代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
| 地址: | 101300 北京市顺义*** | 国省代码: | 北京;11 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 液晶 用作 放射线 辐射 显像 方法 | ||
本发明用放射线束入射到物体上,从物体透射或散射的带有物体组成/结构信息的放射线辐射被特制的液晶盒显像,用可调直流电场来调节探测灵敏度,用摄像机记录所成的像。
1.所述特制的液晶盒其特征是:两个平板电极的材料和结构,前电极(辐射束首先进入的电极)为高平均原子序数Z1的物质成构成,后电极由低平均原子序数Z2的物质所构成。Z1、Z2相差越大越好。
2.权利要求1中所说高平均原子序数Z1的前电极,其特征是:导电重金属,其网状部分的厚度为1到几毫米,网孔的大小与像素的大小相适应,可由金属板上打孔制成,孔与孔之间的壁越薄越好。其平板部分厚度小于0.5毫米,也可由绝缘薄膜喷镀上一层该金属的薄层制成,该薄层与网状部分相接触。薄膜的厚度在能支承平整度的情况下越薄越好。
3.权利要求1中所述低平均原子序数Z2的后电极,其特征是:透明、电阻率小于1012Ω·cm,但大于等于所用液晶的电阻率。
4.所述可调直流电场,其特征是:功能——调节探测灵敏度,大小与6和8之间的距离有关,调节范围为几千到几万伏/厘米。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京一体通探测技术有限公司,未经北京一体通探测技术有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/02103721.3/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。





