[发明专利]信息记录媒体和其记录/再现方法无效
申请号: | 01803206.0 | 申请日: | 2001-08-16 |
公开(公告)号: | CN1394333A | 公开(公告)日: | 2003-01-29 |
发明(设计)人: | 日野泰守;盐谷雅美;平野和正;弓田昌平 | 申请(专利权)人: | 松下电器产业株式会社 |
主分类号: | G11B7/013 | 分类号: | G11B7/013;G11B7/09;G11B11/105 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 王勇,张志醒 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 信息 记录 媒体 再现 方法 | ||
技术领域
本发明涉及用于通过用激光束的辐射来再现信息的信息记录媒体以及其记录/再现方法。
背景技术
近来,存在对高密度光盘的需求,并且其轨道间距正在变窄,同时线密度增加。为了实现窄轨道间距,要求降低相临轨道的诸如串写的干扰。因此,为了用良好精确度来记录/再现,进行束斑点的跟踪控制是重要的。
作为控制束斑点的方法,经常使用推挽跟踪系统。但是,该系统存在光轴位移和盘片倾斜中含有的问题。
作为即使当诸如光轴位移的波动发生时用于控制束斑点同时降低跟踪控制误差的方法,公知样品伺服跟踪系统。根据该系统,跟踪控制是基于来自盘上分开布置的预坑区域的再现信号进行的。图17A示意地表示光盘上预坑区域的传统配置,其采用样品伺服跟踪系统。
参考图17A,在预坑区域中,每个时钟坑(clock pit)2被布置在实际轨道中心1。而且,一对摆动坑(wobble pit)3被布置在从实际轨道中心1偏移1/4轨道的位置。一对摆动坑3由第一摆动坑3a和第二摆动坑3b构成,它们被布置在实际轨道中心1的不同侧。地址坑4沿实际轨道中心1被形成在距第二摆动坑3b的预定距离。
根据样品伺服跟踪系统,跟踪误差是基于从一对摆动坑3的反射光量(再现信号)被检测的。图17B到17D表示了图17A表示的预坑区域中的再现信号。Tc部分表示来自时钟坑2的再现信号,Tw1部分表示来自第一摆动坑3a的再现信号,以及Tw2部分表示来自第二摆动坑3b的再现信号。
摆动坑3a和3b从实际轨道中心1以相反方向偏移相同的距离。因此,在用于记录/再现的束斑点沿着实际轨道中心1通过的情况下,反射光在Tw1部分的降低量V1等于反射光在Tw2部分的降低量V2,如图17b表示。在束斑点偏向第一摆动坑3a侧的情况下,反射光在Tw1部分的降低量V1增加,而反射光在Tw2部分的降低量V2下降,如图17C表示。另一方面,在束斑点偏向第二摆动坑3b侧的情况下,反射光在Tw1部分的降低量V1下降,而反射光在Tw2部分的降低量V2增加,如图17D表示。
如上述,当束斑点偏离实际轨道中心1时,在反射光的降低量V1和V2之间引起一个差。根据样品伺服跟踪系统,通过检测在反射光的降低量V1和V2之间的差(跟踪控制信号),进行跟踪控制。根据样品伺服跟踪系统,使用来自盘的所有反射光,使得跟踪控制不可能受到透镜移位、盘倾斜等的影响,其减少了跟踪控制中的残余误差。
JP4(1992)-301219公开了一种在上述样品伺服跟踪系统中用于增加记录密度的方法。根据该方法,摆动坑被相临轨道共用。与传统方法比较,该方法能够加倍跟踪密度。
而且,在传统光盘中,信号的再现分辨率基本上是由再现光的波长λ和物镜的数值孔径(NA)决定的,并且检测极限的坑周期实质上是λ/(2/NA)。但是,缩短再现光的波长或者增加物镜的数值孔径是不容易的。因此,为了通过改进记录媒体和再现方法来增加信息的记录密度已经提出了各种各样的尝试。例如,JP6(1994)-290496公开了使用DWDD方法将再现分辨率增强到超过由再现光的波长和物镜的数值孔径决定的检测极限的技术。根据DWDD方法,磁畴壁由用于再现的光束辐射来依次移动,并且磁畴壁的移动被检测。根据该技术,当作为第一磁性层的其中磁畴壁依赖用于再现光束辐射来移动的再现层在各个信息轨道之间被磁性分开时,获得了特别满意的再现信号。
作为用于磁性地切断在信息轨道之间磁性层的方法,有用于在信息轨道之间激光退火的方法。但是,进行激光退火要用许多时间。为了解决这个问题,提出了用于在光盘上形成凹槽和凸台,以及用凸台分开磁畴壁移动层的方法(见JP11(1999)-120636A)。而且,在使用凹槽和凸台作为记录轨道的光盘中,还提出了通过使用凹槽和凸台倾斜的倾斜表面来分开磁畴壁移动层的方法(见JP11(1999)-120636A)。
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