[发明专利]偏光应力仪检定标准装置及光强极小值定位方法无效
| 申请号: | 01106759.4 | 申请日: | 2001-02-22 |
| 公开(公告)号: | CN1144037C | 公开(公告)日: | 2004-03-31 |
| 发明(设计)人: | 黎高平;刘训章;宗亚康;孔军;杨照金 | 申请(专利权)人: | 中国兵器工业第二○五研究所 |
| 主分类号: | G01N21/23 | 分类号: | G01N21/23;G01L1/24;G01L1/00 |
| 代理公司: | 陕西电子工业专利事务所 | 代理人: | 赵振红 |
| 地址: | 710065陕*** | 国省代码: | 陕西;61 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 偏光 应力 检定 标准 装置 极小 定位 方法 | ||
【权利要求书】:
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国兵器工业第二○五研究所,未经中国兵器工业第二○五研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/01106759.4/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:用于测量可流动介质粘性的装置
- 下一篇:用于检测微刮伤的装置





