[发明专利]频率偏移量校正的方法和装置

权利要求书

1.一种频率偏移量校正的方法，其特征在于，所述方法包括：

在一个导频内确定一个频率偏移量；

根据该频率偏移量使该导频相位旋转；

对该导频滤波以获得一个通道估计；以及

使该通道估计反向旋转以恢复该频率偏移量。

2.一种频率偏移量校正的方法，其特征在于，所述方法包括：

对第一批多个导频采样去扩展以获得第一批多个去扩展导频采样；

对第二批多个导频采样去扩展以获得第二批多个去扩展导频采样；

在所述第一批多个去扩展导频采样内确定一个频率偏移量；

使所述第二批多个去扩展导频采样相位旋转以补偿该频率偏移量；

对所述第二批多个去扩展导频采样滤波以获得一个通道估计；以及

使该通道估计反向旋转以恢复该频率偏移量，

其中，及时地在第一点从采样流中取得第一批多个导频采样，以及及时地在第二点从该采样流中取得第二批多个导频采样。

3.如权利要求2所述的方法，其特征在于，对所述第二批多个去扩展导频采样滤波以获得一个通道估计包括让所述第二批多个导频采样通过一个低通滤波器。

4.如权利要求2所述的方法，其特征在于，对所述第二批多个去扩展导频采样滤波以获得一个通道估计包括对所述第二批多个导频采样求平均值。

5.如权利要求2所述的方法，其特征在于，对第二批多个导频采样去扩展以获得第二批多个去扩展导频采样包括让所述第二批多个导频采样通过一个积分和清除滤波器。

6.如权利要求2所述的方法，其特征在于，对第一批多个导频采样去扩展以获得第一批多个去扩展导频采样包括让所述第一批多个导频采样通过一个积分和清除滤波器。

7.如权利要求6所述的方法，其特征在于，对第二批多个导频采样去扩展以获得第二批多个去扩展导频采样包括让所述第二批多个导频采样通过一个积分和清除滤波器。

8.一种频率偏移量校正的装置，其特征在于，所述装置包括：

一个相位旋转器，接收一个导频和一个第一相位调整值，并输出一个旋转导频，该导频有一个频率偏移量和一个相位旋转；

一个频率鉴别器，接收该旋转导频并输出一个频率误差值；

一个相位计算和延迟单元，接收该频率误差值，并输出所述第一相位调整值和一个第二相位调整值；

一个导频滤波器，接收该旋转导频，并输出一个通道估计；以及

一个相位反向旋转器，接收该通道估计和第二相位调整值，并输出一个反向旋转的通道估计，

其中第一和第二相位调整值是复数值，以及

其中第二相位调整值实质上是第一相位调整值的一个延迟型式，以及

其中该旋转导频实质上是无频率偏移量的导频，以及

其中该通道估计实质上是代表相位旋转的一个复数值。

9.如权利要求8所述的装置，其特征在于，所述的频率鉴别器包括一个自动调节相位线路。

10.如权利要求8所述的装置，其特征在于，所述的相位计算和延迟单元包括：

一个第一积分器，接收一个基于频率误差值的信号，并输出一个频率偏移量值；以及

一个第二积分器，接收该频率偏移量值，并输出一个相位校正值；

其中所述第一相位调整值和所述第二相位调整值是基于相位校正值。