[实用新型]材料损坏的测量仪无效
申请号: | 00218672.1 | 申请日: | 2000-08-03 |
公开(公告)号: | CN2433619Y | 公开(公告)日: | 2001-06-06 |
发明(设计)人: | 朱鹏飞;孟绍贤 | 申请(专利权)人: | 中国科学院上海光学精密机械研究所 |
主分类号: | G01N21/88 | 分类号: | G01N21/88;G01N21/896 |
代理公司: | 上海华东专利事务所 | 代理人: | 李兰英 |
地址: | 201800 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 材料 损坏 测量仪 | ||
1.一种材料损坏的测量仪,包括:
<1>外壳(16)内置有的激光器(1),在外壳(16)内,沿着激光器(1)发射光束(G0)前进的方向上,与激光器(1)同光轴(OO)地依次置有偏振片(2)、偏振棱镜(3)、凸透镜(4)以及供置放含有损坏点(6)的待测材料(5)的调整架(15);
其特征在于:
<2>在光路的端点处置有反射镜(14);
<3>在激光器(1)与偏振片(2)之间的光路上,与激光器(1)同光轴(OO)地置有扩束镜(12);
<4>在扩束镜(12)与偏振片(2)之间的光路上置有反射面与激光器(1)的光轴(OO)成α角的半反半透镜(13),其中α角的角度为0°<α<90°;
<5>在半反半透镜(13)相对偏振片(2)的反射面所反射的反射光束(Gf)的方向上置有显示观测器件(17)。
2.根据权利要求1所述的材料损坏的测量仪,其特征在于所说的激光器(1)是半导体激光器,或者是固体激光器,或者是气体激光器,或者是染料激光器。
3.根据权利要求1所述的材料损坏的测量仪,其特征在于所说的显示观测器件(17)是显微镜,或者是摄象机,或者是探测元件。
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