[实用新型]材料损坏的测量仪无效

专利信息
申请号: 00218672.1 申请日: 2000-08-03
公开(公告)号: CN2433619Y 公开(公告)日: 2001-06-06
发明(设计)人: 朱鹏飞;孟绍贤 申请(专利权)人: 中国科学院上海光学精密机械研究所
主分类号: G01N21/88 分类号: G01N21/88;G01N21/896
代理公司: 上海华东专利事务所 代理人: 李兰英
地址: 201800 *** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 材料 损坏 测量仪
【权利要求书】:

1.一种材料损坏的测量仪,包括:

<1>外壳(16)内置有的激光器(1),在外壳(16)内,沿着激光器(1)发射光束(G0)前进的方向上,与激光器(1)同光轴(OO)地依次置有偏振片(2)、偏振棱镜(3)、凸透镜(4)以及供置放含有损坏点(6)的待测材料(5)的调整架(15);

其特征在于:

<2>在光路的端点处置有反射镜(14);

<3>在激光器(1)与偏振片(2)之间的光路上,与激光器(1)同光轴(OO)地置有扩束镜(12);

<4>在扩束镜(12)与偏振片(2)之间的光路上置有反射面与激光器(1)的光轴(OO)成α角的半反半透镜(13),其中α角的角度为0°<α<90°;

<5>在半反半透镜(13)相对偏振片(2)的反射面所反射的反射光束(Gf)的方向上置有显示观测器件(17)。

2.根据权利要求1所述的材料损坏的测量仪,其特征在于所说的激光器(1)是半导体激光器,或者是固体激光器,或者是气体激光器,或者是染料激光器。

3.根据权利要求1所述的材料损坏的测量仪,其特征在于所说的显示观测器件(17)是显微镜,或者是摄象机,或者是探测元件。

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