[发明专利]用于可变厚度多切面CT成像的方法及其设备

权利要求书

1．一种利用多切面CT成像系统(10)采集物体图象的方法，所述CT成像系统(10)包含检测器阵列(18)和X射线源(14)，X射线源构造成使发射的X射线扇形波束(16)穿越物体(22)后投射到检测器阵列，检测器阵列包含多行检测器元件(70)，其中包括不同厚度的行，该方法包括以下步骤：

使X射线扇形波束穿越物体；以及

选择性地组合检测器阵列的行，其中包括不同厚度的行，以获得代表物体的至少一个图象切面的数据。

2．如权利要求1所述的方法，其特征在于所述选择性地组合检测器阵列(18)行(70)的步骤包括：选择性地组合检测器阵列的行以形成厚度相同的多个组，但不是每组中行的数量都相同，以获得同每组行对应的数据，每组行对应于物体(22)的一个图象切面。

3．一种利用多切面CT成像系统(10)采集物体(22)图象的方法，所述CT成像系统(10)包含检测器阵列(18)和X射线源(14)，X射线源构造成使发射的X射线扇形波束(16)穿越物体后投射到检测器阵列，还包含一前置于患者的校正装置(86)，该装置可限制X射线波束的厚度，检测器阵列具有多行(70)检测器元件(20)，其包括厚度不等的行，所述方法包括以下步骤：

选择性地限制X射线波束的厚度，使检测器阵列中至少有一行仅部分受X射线扇形波束作用；

使扇形X射线波束穿越物体；以及

从多个检测器阵列行中采集包括图象数据的物体图象数据，其包括检测器阵列中仅部分受X射线扇形波束作用的至少一行。

4．如权利要求3所述的方法，其特征在于所述采集物体(22)的图象数据包括采集代表多个图象切面的数据，至少有一个图象切面包括代表检测器阵列(18)中仅部分受X射线扇形波束(16)作用的至少一个行的数据，其中所述选择性地限制X射线波束的厚度包括选择X射线波束厚度的步骤，以使代表多个图象切面的数据是代表等厚度的图象数据，所说图象切面包括一个切面，其具有来自部分起作用检测器行的数据。

5．一种用于多切面成像系统(10)的检测器阵列(18)，所述检测器阵列包含多行(70)检测器元件(20)，其中不是全部所述行都具有相等的厚度。

6．如权利要求5所述的检测器阵列(18)，其特征在于所述行(70)具有为相邻行的相邻组选定的厚度，相邻的组具有相同厚度，但不是所有组都具有相同数量的行。

7．如权利要求5所述的检测器阵列(18)，其特征在于具有N行(70)，这N行相对所述检测器阵列中心线被排成N/2个切面(76,78)的镜象组，每个组的行厚度不随离所述检测器阵列中心线的距离减小。

8．如权利要求7所述的检测器阵列(18)，其特征在于所述N/2个行的每一组(76,78)的行厚度随其离中心线距离的增加呈二进制数列增加，以使所选的从中心线开始的多个相邻行(70)的总厚度同其下一个相邻行的厚度相等。

9．如权利要求8所述的检测器阵列(18)，其特征在于所述N/2个行的每个组(76,78)内的行，从中心线开始的行厚度比例为1∶1∶2∶4∶8∶16∶32。

10．如权利要求7所述的检测器阵列(18)，其特征在于所述N/2个行的每个组(76,78)内的行，从中心线开始的行厚度比例为1∶1.5∶2.5∶2.5∶2.5∶2.5∶2.5∶5。

11．如权利要求7所述的检测器阵列(18)，其特征在于所述N/2个行的每个组(76,78)内的行，从中心线开始的行厚度比例为1∶1∶2∶2∶2∶2∶2∶4。

12．如权利要求7所述的检测器阵列(18)，其特征在于所述N/2个行的每个组(76,78)内的行，从中心线开始的行厚度比例为1∶1∶2∶2∶2∶2∶10∶20。

13．如权利要求5所述的检测器阵列(18)，其特征在于所述的每个检测器元件(20)包含一个光电二极管单元(82)和一个对应的闪烁体单元(80)，并且所述光电二极管单元构造成检测所述对应的闪烁体单元(80)的闪烁。

14．如权利要求13所述的检测器阵列(18)，其特征在于所述光电二极管单元(82)仅包含一个光电二极管(56)。