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[实用新型]一种具有防护装置的DUT-BOARD装置-CN202220690218.4有效
发明人：张成豹;程浪;张怡;蔡择贤;陈勇 -专利权人：广东气派科技有限公司
申请日： 2022-03-28 - 公布日： 2022-10-14 - 主分类号： H05K5/02 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种具有防护装置的DUT‑BOARD装置，包括：DUT‑BOARD主机，其特征在于，DUT面板，所述DUT面板设于所述DUT‑BOARD主机上，所述DUT面板的远离所述DUT‑BOARD主机一侧设有若干电缆底座和防护装置，所述防护装置用于保护DUT面板和电缆底座。
一种具有防护装置 dut board

[发明专利]一种测试方法、装置及测试系统-CN201911165783.8有效
发明人：徐斌 -专利权人：新华三技术有限公司
申请日： 2019-11-25 - 公布日： 2022-07-01 - 主分类号： H04L1/00 文献下载
摘要：本申请提供一种测试方法、装置及测试系统，包括：逻辑芯片接收测试服务器发送的用于测试被测设备DUT控制平面的控制面测试报文，并将控制面测试报文发送给所述DUT，以及向所述DUT发送用于测试DUT数据平面的数据面测试报文；在接收到DUT返回的报文时，对DUT返回的报文进行识别处理；若识别出所述DUT返回的报文为控制面测试报文的响应报文，则将DUT返回的报文发送至所述测试服务器，由测试服务器对所述DUT返回的报文进行处理；若识别出DUT返回的报文为所述DUT转发的所述数据面测试报文，则在本地处理DUT返回的报文。使用本申请提供的方法可以实现大规模DUT的控制平面的测试。
一种测试方法装置系统

[发明专利]使用并行流水线机器学习辅助来调谐被测设备-CN202310327311.8在审
发明人： J·J·皮克德 -专利权人：特克特朗尼克公司
申请日： 2023-03-30 - 公布日： 2023-10-17 - 主分类号： G01R31/00 文献下载
摘要：测试系统具有：烤箱，配置为容纳被测设备(DUT)；DUT开关，每个DUT开关连接到烤箱中的DUT；分路器，每个分路器连接到DUT开关；仪器开关，连接到每个分路器的一个输出，每个分路器的另一个输出连接到测试仪器；以及一个或多个处理器，用于进行以下操作：控制仪器开关以选择连接到烤箱的DUT开关之一；控制所选的DUT开关，将烤箱中的每个DUT连接到测试和测量仪器的通道；使用机器学习将DUT调谐为一组参数，直到DUT通过或未通过；重复每个DUT的连接、调谐和测试，直到烤箱中的所有DUT都已被测试；以及重复DUT开关的选择和控制，直到每个烤箱中的每个DUT都已被调谐和测试。
使用并行流水线机器学习辅助调谐设备

[发明专利]一种疏水DUT-4及其制备方法-CN201910468823.X在审
发明人：钱旭坤;张蕊华 -专利权人：丽水学院
申请日： 2019-05-31 - 公布日： 2019-07-26 - 主分类号： C01B3/00 文献下载
摘要：本发明提供了一种疏水DUT‑4及其制备方法，属于材料制备技术领域。所述疏水DUT‑4由包括以下组分的原料制备得到：DUT‑4粉末、有机硅和有机溶剂；有机硅包括道康宁1‑2577；DUT‑4粉末与有机硅的质量比为500：20～100。本发明利用道康宁1‑2577对DUT‑4进行疏水改性，在DUT‑4表面形成一层有机硅疏水层；有机硅层能有效地保护DUT‑4不受水分子的攻击，避免DUT‑4发生水解破坏，大大提高了水稳定性。同时，将DUT‑4粉末与有机硅的质量比控制为500：20～100，避免了有机硅堵塞DUT‑4孔道、降低DUT‑4比表面积，保证了DUT‑4储氢性能；还使DUT‑4具有优异的疏水性。
有机硅疏水质量比制备材料制备技术表面形成储氢性能疏水改性水稳定性有机硅层有机溶剂原料制备疏水层疏水性水分子有效地孔道水解堵塞攻击保证

[发明专利]自动化装置测试分类系统和技术-CN201780091390.X有效
发明人：拉维·夏;玛雅·本·阿里;任根洙 -专利权人：谷歌有限责任公司
申请日： 2017-11-10 - 公布日： 2023-10-10 - 主分类号： G06F11/36 文献下载
摘要：提供了一种用于通过使用包括第一测试和第二测试的测试套件来测试被测装置(DUT)的主机计算装置。所述DUT可以包括具有第一DUT的第一DUT组和具有第二DUT的第二DUT组。所述第一DUT组和第二DUT组可以共享公共设计。所述主机计算装置可以确定所述DUT在所述第二测试之前执行所述第一测试。所述主机计算装置可以接收针对所述第一DUT的、失败的第一测试结果。所述主机计算装置可以基于所述第一测试结果以及所述第一DUT组和第二DUT组共享公共设计确定在所述第一测试之前执行所述第二测试，并且随后可以指示所述第二DUT在所述第一测试之前执行所述第二测试。
自动化装置测试分类系统技术

[发明专利]用于测试一个或多个待测器件的自动测试设备和操作自动测试设备的方法-CN202080001956.7在审
发明人：马克·莫辛格 -专利权人：爱德万测试公司
申请日： 2020-02-06 - 公布日： 2021-10-01 - 主分类号： G01R1/04 文献下载
摘要：一种用于测试一个或多个DUT的自动测试设备，包括测试头和DUT接口。DUT接口包括多个弹簧加载引脚块，例如弹簧加载引脚的组或场。例如，DUT接口被配置为在测试头与DUT板或负载板之间建立电子信号路径，该DUT板或负载板承托DUT或提供与DUT的连接。自动测试设备被配置为允许至少两个弹簧加载引脚块之间的距离发生变化。
用于测试一个多个待测器件自动设备操作方法

[发明专利]测试布置、自动化测试设备、和用于测试包括天线的被测装置的方法-CN201980095245.8在审
发明人：简·海瑟尔巴特;何塞·莫雷拉 -专利权人：爱德万测试公司
申请日： 2019-08-28 - 公布日： 2021-11-16 - 主分类号： G01R31/302 文献下载
摘要：根据本发明的一个实施例是一种用于测试包括天线的DUT的测试布置。所述测试布置包括DUT位置和探针，所述探针包括两个导体。所述测试布置被配置为将所述探针定位在所述DUT位置的附近，使得当所述DUT放置在所述DUT位置中(例如在DUT插口中)或者放置在其中DUT被探针接触到的区域中时，所述探针处于所述DUT的天线元件的电抗近场区域中
测试布置自动化设备用于包括天线装置方法

[发明专利]用于天线阵列远程无线电控制的近场天线-CN201880095580.3有效
发明人： G·S·李;D·W·巫克 -专利权人：是德科技股份有限公司
申请日： 2018-09-05 - 公布日： 2023-09-12 - 主分类号： H01Q9/40 文献下载
摘要：一种系统测试包括天线的被测设备(DUT)。所述系统包括探针天线、网络模拟器以及近场天线。探针天线在DUT的测试过程中，随着DUT相对于探针天线移动，测量DUT的天线在空中发射的波束锁定波束的波束特性。网络模拟器模拟与DUT通信的通信网络的基站。随着DUT相对于探针天线移动，近场天线使用近场天线与DUT之间的表面波维持网络模拟器与DUT之间的呼叫链路。
用于天线阵列远程无线电控制近场

[发明专利]熔丝熔断方法和装置-CN202310548433.X在审
发明人：胡栓栓;王荣;蔡瑞青;柳炯 -专利权人：赛迪工业和信息化研究院集团（苏州）有限公司
申请日： 2023-05-16 - 公布日： 2023-08-29 - 主分类号： H01L21/66 文献下载
摘要：一个DUT有N个熔丝，现有技术多DUT并测时按DUT循环：先对一个DUT中所有熔丝进行判断，确定每个熔丝是否需要熔断，然后统一加一次大电流，熔断该DUT的所有待熔熔丝。处理完一个DUT后，继续测试下一个DUT，直到所有DUT都测试结束。当并测DUT数量较多时，熔断时间就比较长。本发明对所有并测DUT按照熔丝位循环，每次判断并测DUT同一熔丝位的熔丝，确定待熔熔丝后，统一加电熔断该熔丝位待熔熔丝。本发明通过改变循环对象减少上电操作次数，节省测试时间。
熔断方法装置

[发明专利]高性能电流源电源-CN201410144209.5有效
发明人： K.考利;W.格克;G.索波莱夫斯基 -专利权人：基思利仪器公司
申请日： 2014-04-11 - 公布日： 2019-04-30 - 主分类号： G05F1/46 文献下载
摘要：一种系统可以包括：具有DUT电压的被测设备（DUT）；连接到DUT的电缆；该电缆具有电缆电感，以及电源，其被配置为电流源以向DUT提供宽带宽的电压源，其中该DUT电压与电缆电感无关。
电流源电源电缆电感电缆被测设备电压源宽带配置

[实用新型]基于Python的DUT射频自动校准测试系统-CN202020548646.4有效
发明人：骆义 -专利权人：上海剑桥科技股份有限公司
申请日： 2020-04-14 - 公布日： 2020-09-25 - 主分类号： H04B17/11 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种基于Python的DUT射频自动校准测试系统，包括DUT、HUB、DU、开关模块、频谱仪、信号源、功率计和GPS模块，其中，DU通过HUB与DUT相连，DUT通过开关模块分别与频谱仪、信号源和功率计相连，GPS模块与DUT、HUB、DU、频谱仪、信号源和功率计均相连，频谱仪用于测试DUT的TX校准，信号源用于测试DUT的RX校准。通过本实用新型的测试系统，首先保证DUT的输出功率正常，之后通过开关模块对不同测试仪表的切换来对DUT的RX和TX进行各个参数的校准测试，整个过程自动化，极大地提高了测试效率。
基于 python dut 射频自动校准测试系统

[发明专利]用于测试数据分组信号收发器的系统和方法-CN202080009206.4在审
发明人：克里斯蒂安·沃尔夫·厄尔高;王瑞祖;崔凯云 -专利权人：莱特普茵特公司
申请日： 2020-01-08 - 公布日： 2021-08-24 - 主分类号： H04B17/15 文献下载
摘要：本发明公开了一种用于测试数据分组信号收发器被测设备(DUT)的发射和接收性能的系统和方法。由测试器发射的具有测试器发射输出功率(TTOP)的数据分组信号包含触发帧，该触发帧包括对应于该数据分组信号的报告测试器发射功率(RTTP)的数据，以及将由该测试器接收的DUT数据分组信号的期望接收信号强度基于由该DUT报告的该测试器数据分组信号的接收信号强度(DRSS)，响应DUT数据分组信号具有RTTP‑DRSS+TRSS的DUT发射输出功率。针对该TTOP、RTTP和DRSS的值的多个组合的此类测试器数据分组信号和DUT数据分组信号的连续重复使得能够测试该DUT的发射和接收性能，包括确定最小DUT发射功率电平和最大DUT发射功率电平，其中测试器与DUT之间存在最小信号交互。
用于测试数据分组信号收发系统方法

[发明专利]空中下载（OTA）芯片测试系统-CN202180028852.X在审
发明人： M·安德斯;D·约翰森;J·施泰因博克 -专利权人：约翰国际有限公司
申请日： 2021-04-14 - 公布日： 2022-12-02 - 主分类号： G01R1/04 文献下载
摘要：披露了一种用于测试受测试器件(DUT)的测试设备，所述受测试器件(DUT)具有位于所述DUT上的天线。所述测试设备包括：壳体；插口，所述插口被配置成将所述DUT电连接至负载板；夹持器组件，所述夹持器组件被配置成将所述DUT保持就位；缩回器，所述缩回器被配置成从所述夹持器组件释放所述DUT；以及对准板，所述对准板被配置成将所述DUT与所述插口对准。所述夹持器组件包括基部和扩展器，所述基部被附接到所述壳体，并且所述扩展器被配置成将所述DUT保持就位。当所述缩回器从所述扩展器脱离时，所述扩展器被配置成将所述DUT固定就位。当所述缩回器与所述扩展器相接合时，所述扩展器被配置成释放所述对准板上的所述DUT。
空中下载 ota 芯片测试系统

[发明专利]多DUT测试系统及其测试方法-CN201610243242.2在审
发明人：余广兴 -专利权人：深圳极智联合科技股份有限公司
申请日： 2016-06-20 - 公布日： 2016-09-28 - 主分类号： H04B17/29 文献下载
摘要：本发明提供一种多DUT测试系统，包括PC机、多台DUT以及无线测试仪，所述PC机分别与多台所述DUT通信连接并根据所述DUT内的芯片类型控制所述DUT在指定的频率、数据传输速率及信道发出射频信号，所述无线测试仪接收所述DUT发出的射频信号并发出反馈信号，所述PC机接收所述无线测试仪发出的反馈信号并根据所述反馈信号调节所述DUT的指标参数。与相关技术相比，本发明提供的多DUT测试系统不但可以兼容DUT产品内的各种芯片的测试方案，而且还可以根据不同的无线测试仪自动选调相应的测试软件，从而解决了测试软件管理混乱的问题并且显著提高了测试效率。
dut 测试系统及其方法

[发明专利]用于测试多个被测器件的装置和方法-CN201080066220.4有效
发明人：克劳斯-皮特·贝仁斯;马克·毛斯恩格 -专利权人：爱德万测试（新加坡）私人有限公司
申请日： 2010-04-14 - 公布日： 2013-03-27 - 主分类号： G01R31/319 文献下载
摘要：本发明的实施例涉及用于测试多个被测器件的装置（10）和方法，其中装置包括：公用器件输出线（5）；驱动器单元（2），被配置为向DUT（DUT1,DUT2,DUT3,…,DUTN）提供激励（ST），其中驱动器单元（2）被配置成使得激励（ST）在不同的时间（T1,T2,T3，…,TN）到达不同的DUT；从而在DUT处产生激励时间偏移（ΔST1,ΔST2,ΔST2,…,ΔSTN-1）；接收器单元（8），电气耦合到公用器件输出线（5）；以及多个DUT连接（C1,C2,C3，…,CN），电气耦合到公用器件输出线（5），使得多个DUT的DUT端子（11）可经由公用器件输出线（5）电气耦合到接收器单元（8），其中DUT输出信号（OS1,OS2,OS3,…,OSN）从DUT连接（C1,C2,C3,…,CN）传播到接收器单元（8）的输出信号传播延迟与激励时间偏移（ΔST1,ΔST2,ΔST2，…,ΔSTN-1）相适应，使得具有相同激励响应延迟的DUT的测试在接收器单元（8）处引起DUT输出信号（OS1,OS2,OS3，…,OSN）的时间上对齐的叠加（SPN-1）。
用于测试多个被测器件装置方法

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