专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [实用新型]高度测量装置-CN201120378816.X有效
  • 刘磊;陈海亮;邓鹏飞 - 北汽福田汽车股份有限公司
  • 2011-09-28 - 2012-06-13 - G01B5/02
  • 本实用新型公开了一种高度测量装置,包括:支座、主杆和测量尺;所述支座的底部安装有水平调节螺栓;所述支座及所述测量尺上安装有水平检测器;所述主杆可拆卸地安装于所述支座上,且与所述支座的底面垂直;所述测量尺可拆卸地安装于所述主杆上本实用新型的高度测量装置能够拆卸,易于携带,使用方便。组装后,通过调节测量尺进行高度测量,使得使用者能够方便的对大型和重型车辆进行高度测量,此外,通过在支座和测量尺上设置水平检测仪,能够确保测量的精确性。
  • 高度测量装置
  • [实用新型]高度测量装置-CN201921231477.5有效
  • 蔡云 - 上海东培企业有限公司
  • 2019-07-31 - 2020-03-24 - G01B5/06
  • 本实用新型提供一种高度测量装置,其包括有,平台,用于放置被测物体;杆柱,垂直固定于所述平台;位移记录装置,所述位移记录装置固定到一夹具,所述夹具嵌套固定至所述杆柱,所述位移记录装置用于表示其在所述杆柱上的位移一方面,通过设置压力计参与测量,可以避免因操作人员手感不同而造成的误差,另一方面,本高度测量装置不需要使用光栅尺等贵重器件,降低了装置的成本。
  • 高度测量装置
  • [实用新型]高度测量装置-CN201921857182.9有效
  • 张建强;黄少青;宁树正 - 中国煤炭地质总局勘查研究总院
  • 2019-10-31 - 2020-05-05 - G01B5/02
  • 本实用新型涉及煤岩样品采集技术领域,公开了一种高度测量装置,包括:卷尺和可伸缩管体,卷尺固定于可伸缩管体内部的底端,且卷尺的端部与可伸缩管体处于伸长状态下的顶部连接,可伸缩管体的表面开设有用于观察卷尺刻度的观察窗本实用新型实施例通过可伸缩管体内置卷尺的方式,调整可伸缩管体的伸缩状态时,卷尺随之运动,使得可伸缩管体的顶部与采样位置同高,可测得卷尺位置到采样位置的高度。通过利用本实施例的高度测量装置,可实现距采煤工作面或者巷道底部2.5米以上样品的垂向位置测量,且测量精度高,操作简单。
  • 高度测量装置
  • [实用新型]高度测量装置-CN202022359540.2有效
  • 程凯;钦明畅;陆峰;李炳田 - 上海电气研砼(徐州)重工科技有限公司
  • 2020-10-21 - 2021-09-14 - G01B5/06
  • 本实用新型公开了一种高度测量装置,包括:底座(10);支撑立柱(20),垂直固定联接在所述底座(10)上,沿着所述支撑立柱(20)的长度方向设有刻度;测量杆(30),与所述支撑立柱(20)垂直联接;其中,所述高度测量装置(100)适配在混凝土环片(200)的外侧,所述测量杆(30)能够沿着支撑立柱(20)的高度方向调节固定,且所述测量杆(30)适于与所述混凝土环片(200)的上端面相接触以测量所述混凝土环片(200)的高度。该装置测量精度高,有助于提高混凝土环片生产效率和安装精度,测量方便,可靠性高。
  • 高度测量装置
  • [实用新型]高度测量装置-CN202022982757.9有效
  • 刘汉子;陈家宏 - 合肥晶合集成电路股份有限公司
  • 2020-12-07 - 2021-07-16 - G01B11/02
  • 本实用新型提供了一种高度测量装置,包括:卡设在卡盘上的基座;均匀设置于基座侧壁上的多个光源;连接在基座上的多个光栅尺,多个光栅尺与CUP的表面接触,光栅尺用于接收到光源发出的光;连接在基座上的多个光栅读头,多个光栅读头分别与多个光栅尺平行设置,光栅读头用于接收透过光栅尺的条纹的变化,通过条纹的变化判断CUP的高度;将多个光栅尺一一对应连接在基座上的多个第一连杆,第一连杆的端头设有导向限位机构,光栅尺通过导向限位机构在竖直方向上下移动;将多个光栅读头一一对应连接在基座上的多个第二连杆;位于基座上的数显表,数显表显示所述CUP的高度。本实用新型可以同时测量CUP的多个位置的高度,使得测量结果更加准确。
  • 高度测量装置
  • [实用新型]高度测量装置-CN202221483352.3有效
  • 王源 - 成都昊图新创科技有限公司
  • 2022-06-14 - 2022-09-13 - G01B11/06
  • 本实用新型涉及测量技术领域,具体而言,涉及一种高度测量装置高度测量装置包括主体、测距模块、失重检测模块以及连接件;主体具备容纳腔;测距模块及失重检测模块均设置于容纳腔内,且测距模块与失重检测模块电连接;连接件与主体连接,并用于与被测物连接。该高度测量装置结构简单,使用方便,在进行动态高度测量过程中,能够降低高度测量误差,并降低高度测量的成本。
  • 高度测量装置
  • [实用新型]高度测量装置-CN202221705418.9有效
  • 李荣哲 - 模阿斯电子(深圳)有限公司
  • 2022-07-01 - 2022-11-18 - G01B21/02
  • 本实用新型提供了一种高度测量装置,涉及测量工具技术领域,以解决现有技术中显示器支架进行高度测量时需操作者进行手工测量、记录,工作效率低的问题。该装置包括测量台、支架、测量机构及夹具机构,测量台上具有一水平工作面,支架设置于水平工作面上,测量机构包括升降机构和测量工具,升降机构安装在支架上且升降机构与测量工具连接,升降机构能带动测量工具升降至竖直方向上预定位置
  • 高度测量装置
  • [实用新型]高度测量装置-CN201020266238.6无效
  • 黄景萍 - 永硕联合国际股份有限公司
  • 2010-07-09 - 2011-02-02 - G01B21/02
  • 本实用新型提供一种高度测量装置,用于测量物件的高度高度测量装置包括本体、测量件、驱动单元以及控制单元。本体具有基准面,物件设置于基准面。测量件可移动地设置于本体。驱动单元耦接于测量件。驱动单元驱动测量件相对于本体沿平面分别移动至物件的多个测量位置,测量件分别测量测量位置的高度并得到多个测量值。平面平行于基准面。控制单元耦接于测量件,控制单元自测量件接收测量值,并根据测量值计算得到测量结果。本实用新型提供的高度测量装置,不仅便于使用,而且提高了测量速度。
  • 高度测量装置
  • [实用新型]高度测量装置-CN201020195536.0无效
  • 江嘉羚;盛金发 - 上海广濑-关勒铭精密机械有限公司
  • 2010-05-17 - 2011-01-05 - G01B5/02
  • 本实用新型公开了一种高度测量装置,其包括底座,安置于底座上的立杆,安置于立杆上的悬臂,安置于悬臂上的百分表,以及高度量块,其中该高度量块包括一个标准量块和至少一个测量量块,该标准量块具有一定的高度,该测量量块的高度为标准量块的高度减去被测标准高度,该百分表的零位由标准量块校准,被测实际高度与被测标准高度的偏差值由百分表与测量量块配合测得。本实用新型通过设定百分表零位和运用高度量块,使得在测量过程中,操作简单,在保证测量精确度的同时,提高了测量效率,降低了测量成本,确保了产品质量。
  • 高度测量装置
  • [实用新型]高度测量装置高度测量系统-CN202320752607.X有效
  • 汪海山;周承丞;祝志晨;丁振敏 - 湖州霍里思特智能科技有限公司
  • 2023-03-31 - 2023-09-22 - G01S17/08
  • 本实用新型公开了一种高度测量装置高度测量系统,高度测量装置包括光源阵列,其包括集成在一块光源安装板上的多个光源,其中每个所述光源用于向对应的被测目标发射测量光线,以便所述被测目标根据所述测量光线产生反射光线;以及探测器阵列,其包括集成在一块探测器安装板上的多个探测器,其中每个所述探测器用于接收对应的被测目标产生的反射光线,以便根据所述测量光线和反射光线来测量被测目标的高度。本方案可以通过对多个光源以及多个探测器的集成式布置使得高度测量装置以及高度测量系统在满足横向分辨率要求的情况下厚度减小,进而解决了两者无法兼顾的问题。
  • 高度测量装置系统
  • [发明专利]高度测量装置高度测量方法-CN202180013788.8在审
  • 中村共则;土屋邦彦 - 浜松光子学株式会社
  • 2021-02-02 - 2022-09-23 - G01B11/24
  • 本发明的高度测量装置具备:光照射部,其将包含多个光束的照射光以相对于样品的高度方向倾斜的角度照射至样品,该多个光束在与光轴方向交叉的方向上排列且波长互不相同;相机系统,其检测来自被照射有照射光的样品的光,并输出该光的波长信息;及控制装置,其基于波长信息而计算样品的高度;且相机系统具有:倾斜二向色反射镜,其透过率及反射率在特定波长区域内根据波长而变化,通过使来自样品的光透过及反射而将该光分离;光检测器,
  • 高度测量装置测量方法

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