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- [发明专利]质量分析装置-CN202210287171.1在审
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三浦宏之;出水秀明
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株式会社岛津制作所
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2022-03-22
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2022-12-16
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H01J49/04
- 本发明提供一种质量分析装置，能够抑制由冷却气体引起的离子检测强度降低。质量分析装置具备：真空容器，具有各自内部被真空排气的第1室、第2室及开口；离子阱，具备配置在第1室内的多个电极，具有将离子导入的离子导入口及将离子释放的离子释放口；气体导入管，将冷却气体导入离子捕捉空间；离子阱保持部，配置在第1室内，将离子阱保持在离子阱保持空间内，在壁上具有导入侧离子通过口、释放侧离子通过口及冷却气体排出口；飞行时间型质量分析器，配置在第2室内，具有从离子释放口通过释放侧离子通过口及开口向第
- 质量分析装置
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