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[发明专利]正交加速飞行时间型质量分析装置-CN202080106798.1在审
发明人： 工藤朋也 -专利权人：株式会社岛津制作所
申请日： 2020-12-04 - 公布日： 2023-07-28 - 主分类号： H01J49/40 文献下载
摘要：本发明的正交加速飞行时间型质量分析装置(1)具备：真空腔室(100)，被划分为第1真空室与第2真空室；绝缘隔离部件(162)，配置为跨越两真空室；前级侧环形电极(1311)及后级侧环形电极(1312～1314)，分别固定在绝缘隔离部件的第1真空室侧及第2真空室侧；第1固定部件，将绝缘隔离部件相对于第2真空室内的规定位置定位，包括通过热膨胀使前级侧及后级侧环形电极的中心轴在与中心轴正交的规定方向位移的第1位移部件；第2固定部件(170)，将后级侧环形电极相对于上述规定位置定位，包括通过热膨胀使所述中心轴在所述规定方向位移的第2位移部件，第1位移部件与第2位移部件的每单位温度的热膨胀量之差是该第1位移部件的热膨胀量的30％以下。
正交加速飞行时间质量分析装置

[发明专利]正交加速飞行时间型质量分析装置-CN202210460744.6在审
发明人：铃村拓也;奥村大辅;工藤朋也 -专利权人：株式会社岛津制作所
申请日： 2022-04-28 - 公布日： 2023-02-03 - 主分类号： H01J49/06 文献下载
摘要：本发明提供一种能够在不牺牲信号强度、质量精度、制造成本的情况下提高质量分辨率的正交加速飞行时间型质量分析装置(1)，其具备：离子射出部(123)，沿规定的方向射出测量对象离子；正交加速部(132)，沿与离子射出方向正交的方向加速离子；环电极(131)，配置在离子射出部与正交加速部之间，形成供离子通过的开口，该开口的中心轴(C2)相对于所述离子射出部的中心轴(C1)向沿所述正交加速部的离子的加速轴的方向偏移配置；反射器电极(134)，形成使由正交加速部加速后的离子的方向反转的折返电场；离子检测器(135)，检测飞行方向被反射器电极反转的离子。
正交加速飞行时间质量分析装置

[发明专利]离子分析装置-CN202080098698.9在审
发明人： 工藤朋也 -专利权人：株式会社岛津制作所
申请日： 2020-05-20 - 公布日： 2022-11-11 - 主分类号： G01N27/62 文献下载
摘要：本发明为控制离子的动向的离子分析装置(1)，具备：基材(100)，相对于离子流出口固定，具有筒状凹部(101)；第1导电部件(153)，是以一端露出的方式容纳于该凹部的筒状部件，在所述一端侧固定有第1离子流控制部(14)；筒状的绝缘部件(152)，内插于第1导电部件；第2导电部件(151)，是以一端露出的方式内插于绝缘部件的棒状部件，固定有第2离子流控制部(13)；第1供电部(162)，在第1导电部件容纳于凹部(101)的状态下设置于与第1导电部件接触的位置，被施加第1规定电压；第2供电部(163)，在容纳有第2导电部件及绝缘部件的第1导电部件容纳于凹部(101)的状态下，设置于与第2导电部件接触的位置，被施加第2规定电压。
离子分析装置

[发明专利]飞行时间质谱分析装置-CN201780096851.2有效
发明人： 工藤朋也 -专利权人：株式会社岛津制作所
申请日： 2017-12-04 - 公布日： 2022-09-02 - 主分类号： H01J49/40 文献下载
摘要：在被真空排气的腔室(10)的内部借助绝缘性的支承构件(11)保持飞行管(12)。腔室(10)的外侧被包括加热器等的温度调整部(16)包围。腔室(10)的主体(10a)由铝形成，但在其内壁面形成有由黑镀镍形成的覆膜层(10b)。由此，与只有铝的现有装置相比，腔室(10)的辐射率变高，腔室(10)与飞行管(12)之间的辐射传热路径的热阻变小，因此飞行管(12)的温度稳定性提高。另外，飞行管(12)的温度变化的时间常数变小，因此也能够缩短直到温度稳定为固定为止的时间。
飞行时间谱分析装置

[发明专利]质量分析装置-CN201980094446.6在审
发明人： 工藤朋也 -专利权人：株式会社岛津制作所
申请日： 2019-05-27 - 公布日： 2021-11-05 - 主分类号： H01J49/10 文献下载
摘要：本发明涉及质量分析装置，第1喷雾部(201)使第1试样带电的同时将其喷雾至第1空间(20)内。第2喷雾部(202)使第2试样带电的同时将其喷雾至第1空间(20)内或与第1空间(20)连通的第2空间(21)内。判定部(62)判定有无来自第2喷雾部(202)的第2试样的喷雾。气体供给部(74)对第1空间(20)内供给气体。控制部(63)控制来自气体供给部(74)的气体的供给。控制部(63)在由判定部(62)判定为有来自第2喷雾部(202)的第2试样的喷雾的情况下，使从气体供给部(74)向第1空间(20)内的气体的供给开始。
质量分析装置

[发明专利]飞行时间质谱分析装置-CN201880093728.X在审
发明人： 工藤朋也 -专利权人：株式会社岛津制作所
申请日： 2018-05-23 - 公布日： 2020-12-29 - 主分类号： H01J49/02 文献下载
摘要：飞行时间质谱分析装置具备：离子导入部；真空腔室，其与离子导入部连接；支承构件，其设置在真空腔室的内部；飞行管，其外表面的一部分被支承构件支承，且设置在真空腔室的内部；温度传感器，其设置在真空腔室的与支承构件连接的连接部的附近；温度调节部，其设置在连接部的附近；以及温度控制部，其基于温度传感器的测量结果来控制温度调节部。
飞行时间谱分析装置

[发明专利]飞行时间质谱分析装置-CN201880093214.4在审
发明人： 工藤朋也 -专利权人：株式会社岛津制作所
申请日： 2018-05-14 - 公布日： 2020-12-15 - 主分类号： H01J49/40 文献下载
摘要：飞行管(246)为中空状，从离子射出部射出的离子被导入到该飞行管(246)。反射器(244)设置在飞行管(246)内，是将形成为环状的多个电极(244A、244B)同轴排列而构成的。真空腔室(247)在内部形成有在分析时成为真空状态的真空室(247A)，在真空室(247A)内设置有飞行管(246)。温度调节机构(248)对飞行管(246)进行温度调节。周围温度传感器(250)探测真空腔室(247)的外侧的周围温度。基于由周围温度传感器(250)探测出的周围温度来设定温度调节机构(248)的目标温度。
飞行时间谱分析装置