专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种分布粒子群优化方法-CN201410015629.3有效
  • 王洪泊;王可臻 - 北京科技大学
  • 2014-01-14 - 2017-01-04 - G06N3/00
  • 本发明公开了一种分布粒子群优化方法,包括以下步骤:将高维粒子函数通过维度的重要性划分为n个低维粒子群子函数,其中n为大于或等于2的整数;通过云服务器端实现不同子问题在不同客户端分布式处理,各计算单元利用粒子群集成算法分别对各个低维粒子群子函数进行处理,得到各低维粒子群子函数对应各维度的最优值;对各低维粒子群子函数对应各维度的最优值进行整合,得到高维粒子函数整合最优值;以高维粒子函数整合最优值为基础,利用粒子群集成算法对所述高维粒子函数进行迭代,生成分布粒子群优化值。本发明实施例中,通过将高维粒子函数划分为n个低维粒子群子函数,并对各个低维粒子群子函数同时进行处理,简化分布粒子群优化的复杂度,减少运行时间,提高分布粒子群优化的效率。
  • 一种分布式粒子优化方法
  • [发明专利]离子速度分布函数瞬时测量装置及方法-CN201410203422.9有效
  • 王春生;邹佳荣 - 哈尔滨工业大学
  • 2014-05-14 - 2014-07-30 - G01P3/42
  • 离子速度分布函数瞬时测量装置及方法,属于离子速度分布函数测量技术领域。本发明是为了解决现有多栅探针测量方法需要不断改变可调电压来测量电流,以描绘离子分布函数,不能实时测量离子分布函数的问题。装置的直流电源为粒子提供加速电场,磁场线圈为经加速电场加速后的粒子提供偏转磁场,电荷收集板收集经偏转磁场改变运动方向的运动粒子;方法为由电荷收集板上不同粒子收集区域感应到的电流,获得不同位置的粒子束电流密度,从而获得实时的离子速度分布函数。本发明用于离子速度分布函数的瞬时测量。
  • 离子速度分布函数瞬时测量装置方法
  • [发明专利]一种粒子散射相函数测量装置及测量方法-CN201710607284.4在审
  • 赵军明;李兴灿;刘林华 - 哈尔滨工业大学
  • 2017-07-24 - 2017-11-14 - G01N15/00
  • 一种粒子散射相函数测量装置及测量方法,本发明涉及粒子散射相函数测量装置及测量方法。本发明的目的是为了解决现有方法将探测器放置在透明容器外部时玻璃容器表面反射及内部界面多重反射的影响引起的测量误差大以及现有测量方法不能在悬浮颗粒样品量少的条件下准确获得其散射相函数的问题。过程为一、实验测量盛装在透明圆形比色皿中的标准粒子系在不同散射角下的散射光强分布;二、得到不同散射角下标准粒子系散射相函数的修正系数;三、实验测量待测粒子系的散射光强分布,利用得到的标准粒子系散射相函数的修正系数去修正待测粒子系的散射光强分布,得到待测粒子系的散射相函数。本发明用于粒子散射相函数测量。
  • 一种粒子散射函数测量装置测量方法
  • [发明专利]一种基于优化粒子群算法的配电网承载力计算方法-CN202310631588.X在审
  • 周丹;王聪聪 - 浙江工业大学
  • 2023-05-30 - 2023-08-04 - G06F17/10
  • 本发明公开了一种基于优化粒子群算法的配电网承载力计算方法,通过确定优化目标函数,设置粒子群规模和优化粒子群算法的参数,将配电网的初始信息写入优化粒子群算法的参数中;然后基于优化目标函数设置适应度函数,并初始化粒子的位置和速度参数,设置粒子的最差位置和最好位置;最后使用不同的模式更新粒子的位置和速度参数,计算适应度函数的最优值,得到优化目标函数的最大值,即配电网分布式电源承载力的最大值。本发明能够让粒子在三种不同的模式进行搜索最有解,使粒子能够在整个求解空间内进行跳跃搜索,可以避免就局部最优解,能够准确的查找到配电网中单个分布式电源接入或者多个分布式电源接入时配电网的最大承载力。
  • 一种基于优化粒子算法配电网承载力计算方法
  • [发明专利]用于识别和量化系统中的放射粒子的方法-CN201480038879.7有效
  • D·B·格赖纳 - 弗劳恩霍弗应用技术研究院
  • 2014-07-07 - 2019-01-15 - G01N21/64
  • 本发明涉及一种用于量化放射粒子和用于特征化粒子的时间相关性能的方法。明确测量周期中的粒子放射物的数量n,所述粒子已经在测量周期内在具有预定间隔宽度的时间间隔中被测量到,其中,尤其对于具有相同间隔宽度的多个时间间隔实施评估,对于受测放射物的数量n确定分布函数p(n)。对于间隔宽度规定不同区段时间τ,且对于每个区段时间τ实施评估且明确分布函数pτ(n),其中,对于每个区段时间τ,明确用于分布函数pτ(n)的矩区段时间相关矩函数在内的理论信号函数的比较明确特征化所述系统中的粒子的常量。
  • 用于识别量化系统中的放射粒子方法
  • [发明专利]调色剂、使用其的显影设备和显影方法-CN200510055789.1无效
  • 宫川修宏;安川信二;村上博之 - 精工爱普生株式会社
  • 2005-03-21 - 2005-09-28 - G03G9/08
  • 本发明提供了一种调色剂,具有:调色剂母粒;第一外部添加剂,包括第一无机精细粒子,所述第一无机精细粒子具有200纳米到750纳米的初级粒子尺寸分布,并且所述第一无机精细粒子的功函数近似等于所述调色剂母粒的功函数;第二外部添加剂,包括第二无机精细粒子,所述第二无机精细粒子的平均粒子尺寸小于所述第一无机精细粒子的平均粒子尺寸,并且所述第二无机精细粒子的功函数小于所述调色剂粒子、显影设备的搅拌构件和/或所述显影设备的内壁的功函数;和按重量计0.01%到0.3%的金属皂,所述金属皂的功函数近似等于所述调色剂母粒的功函数
  • 调色使用显影设备方法
  • [发明专利]基于单光场成像的合成孔径粒子图像测速方法及装置-CN202111147939.7有效
  • 许传龙;曹丽霞;李健;张彪 - 东南大学
  • 2021-09-29 - 2022-09-06 - G01P5/22
  • 本发明公开了一种基于单光场成像的合成孔径粒子图像测速方法及装置,测速方法包括:利用数字重聚焦技术结合高斯函数计算粒子光场图像在被测流场区域的三维重聚焦粒子分布;将三维重聚焦粒子分布代入训练好的神经网络模型中,重建出三维重聚焦粒子分布里实际的三维粒子分布;计算三维粒子分布的三维空间三个速度分量的速度场分布。本发明中的数字重聚焦技术结合高斯函数的方法所需追迹的光线数量少,重聚焦图像中的每个粒子强度连续、无空洞,呈均匀的高斯分布,从而使粒子的重聚焦图像质量高;利用神经网络模型重建3D粒子分布的方法计算速度快,提高了3D粒子分布的重建效率及速度场的测量效率,同时降低了计算的硬件成本。
  • 基于单光场成像合成孔径粒子图像测速方法装置

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